Translated by GPT LEC TEC 60747-17 1.0版2020-09 国际的 标准 TRANSLATION 半导体器件 第17部分:基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容耦合器 Translated by GPT -2 - IEC 60747-17:2020IEC 2020 内容 前言. 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义， TUVRx TUVRx TUVRx MACHINE TRANSLATION 4电气特性－耦合器逻辑和时序定义 5防触电耦合器. 20 5.1 一般的. .20 5.2类型. 5.3 评级. .20 5.3.1 一般的. .20 5.3.2 安全限值.. .20 5.3.3 功能评级.. .20 5.3.4 额定隔离电压， .20 5.4 电气安全要求. .20 5.5 电气、环境和/或耐久性测试信息 21 5.5.1 一般的.. .21 5.5.2 常规测试. .23 5.5.3 样品测试. .23 5.5.4 最大浪涌隔离电压 5.5.5 型式试验. .24 6耦合器的测量方法， 35 6.1 一般的. .35 6.2 隔离电容(CIO). ..35 6.2.1 目的.. 35 6.2.2 电路原理图 .35 6.2.3 测量程序， .36 6.2.4 应遵守的注意事项 .36 6.2.5 特殊情况， 6.3 输入与输出之间的隔离电阻， RIO 6.3.1 目的.. 6.3.2 电路原理图 36 6.3.3 应遵守的注意事项 .37 6.3.4 测量程序 37 6.3.5 特殊情况 37 6.4 隔离测试.. .37 6.4.1 目的. ..37 6.4.2 电路原理图， 6.4.3 测试程序 ...38 6.4.4 要求 ...38 6.5 耦合器局部放电 .39 6.5.1 目的. ..39 6.5.2 电路原理图 .39 6.5.3 图9测试电路说明及要求， ..39 6.5.4 测试程序 .40 6.5.5 校准电路说明（见图10) Translated by GPT IEC 60747-17:2020IEC 2020 6.5.6 测试方法. 41 6.5.7 指定条件 41 6.5.8 测试电压条件. .42 6.6 耦合器的切换时间. .42 6.6.1 目的.. .42 6.6.2 电路原理图 42 6.6.3 测量程序. .43 TUVRx TUVRx TUVRx WMACHINE TRANSLATION 6.6.4 44 6.7 磁耦合器和电容耦合器共模瞬态抗扰度（CMTI)的测量方 法 6.7.1 目的. .44 6.7.2 电路原理图 44 6.7.3 应遵守的注意事项. 6.7.4 静态CMTI测量程序. 46 6.7.5 47 6.7.6 动态CMTI测量程序 附件A(资料性） 资格指南 48 参考书目 51 图1-测试电压方法a和b的时间间隔 15 图2-1,2/50μus浪涌脉冲根据61000-4-5:2014允许作为隔离测试的等效脉 冲... .24 图3-失效时间的确定（参见5.5.5.8中的方法） .31 图4工作电压的确定（指数模型参见5.5.5.8方 法) .32 图5工作电压的确定（非线性模型参见5.5.5.8方 法) .33 图6-隔离电容测量电路， 36 图7-隔离电阻测量电路.. .37 图8-隔离电压测量电路. .38 图9-局部放电测试电路 图10－整个测试装置的校准连接 .40 图11-开关时间测试电路 43 图12-转换时间波形测量， 43 图13-传播延迟时间波形测量 44 图14-静态与动态数据源信号VI. .45 图15-用于静态和动态测试的共模瞬态抗扰度（CMTI）测试设 百 5 图16-静态共模瞬态抗扰度(CMTI)和VCM,从低到高 数据传输波形 图A.1-寿命验证 表1-特性和符号概述. 表2-数据表特性 表3-提供基本绝缘和加强绝缘以防止电击的耦合器的测试和测试顺序 22 表4-测试条件 .23 Translated by GPT -4- IEC 60747-17:2020 IEC 2020 表5-安全系数F.. 的指定条件. 42 表A.1-组件内的前端流程变化 .49表A.2-SiO/SiN/酰亚胺钝化中的前端工艺变 化. .50表A.3-布局更 .50表A.4-后端更 改. ...50 Translated by GPT IEC 60747-17:2020@ IEC2020 - 5 - 国际电工委员会 半导体器件， 第17部分：基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容 耦谷器 前言 1)国际电工委员会（IEC)是一个世界范围内的标准化组织，由所有国家电工委员会（IEC国家委员会)组成。IEC的目标是促进有关电气和电子领域标准化的 所有问题的国际合作。为此，除了其他活动外，IEC还出版了国际标准、技术规范、技术报告、公开规范（PAS）和指南（以下简称“IEC出版物”）。它们的准 备工作委托给技术委员会;任何对所处理主题感兴趣的IEC国家委员会都可以参与这项准备工作。与IEC联络的国际组织、政府组织和非政府组织也参与 了此项准备工作。IEC根据两个组织之间协议确定的条件与国际标准化组织(ISO）密切合作。 2)IEC关于技术问题的正式决定或协议尽可能表达了有关相关主题的国际共识,因为每个技术委员会都有来自所有感兴趣的IEC国家委员会的代表。 3）IEC出版物具有供国际使用的建议形式，并在这个意义上被IEC国家委员会接受。尽管我们已尽一切合理努力确保IEC出版物的技术内容准确无误，但IEC 不对这些出版物的使用方式或任何最终用户的任何误解承担责任。 均应在后者中明确指出。 5)IEC本身不提供任何合格证明。独立认证机构提供合格评定服务,并在某些领域获得IEC 合格标志。IEC不对独立认证机构提供的任何服务负责。 6)所有用户应确保拥有本出版物的最新版本。 7）IEC或其董事、雇员、服务人员或代理人，包括个人专家及其技术委员会和IEC国家委员会的成员，对于任何性质的直接或间接的人身伤害、财产损失或其他 损害不承担任何责任。因出版、使用或依赖本IEC出版物或任何其他IEC出版物而产生的费用（包括法律费用)和开支。 8）请注意本出版物中引用的规范性参考文献。参考出版物的使用是 对于正确应用本出版物是必不可少的。 专利权。IEC不负责识别任何或所有此类专利权。 国际标准IEC60747-17是由IEC技术委员会TC47：半导体器件的分委会SC47E：分立半导体器件制定的。 第一版取消并取代了IECPAS60747-17:2011。此版本构成技术修订。 此版本包括以下有关的重大技术更改 IECPAS60747-17:2011: a)引入寿命安全系数以提高寿命考虑,以符合广泛认可的二氧化硅（TDDB)和薄膜聚合物隔离层的老化机制； b）通过添加对过程、安全因素、生成数据点的方法和各自的寿命插值的详细描述以及具体规定所需的最小样本量，显着改进了 “寿命终止测试”段落和统计寿命考虑因素； Translated by GPT - 6 - IEC60747-17:2020@IEC2020 c)引入了相似认证的概念,包括附录A,为 资格考虑因素和所需的认证流程； d）允许进行浪涌脉冲测试的替代脉冲形状，以避免浪涌测试仪引起的问题 可用性； e）整个标准的各种改进：定义，例如耦合器类型得到了改进,浪涌脉冲VIMP额定值的引入,玻璃化转变温度的使用，预处理已被重新定义，以提高 可用性并更好地与当今的设计和功能兼容耦合器、可用的模塑料等 本国际标准的文本基于下列文件： 投票报告 47E/711/FDIS 47E/715/RVD 有关批准本国际标准的投票的完整信息可以在上表所示的投票报告中找到。 本文件是根据ISO/IEC指令第2部分起草的。 IEC60747系列中所有部件的列表（以半导体器件总标题发布)可在IEC网站上找到。 委员会决定,本文件的内容将保持不变,直到IEC网站上“http:/webstore.iec.ch”下与特定文件相关的数据显示的稳定日期为止。届时,该文 件将 ·再次确认， ·取消， ·由修订版取代，或 ·修正。 Translated by GPT IEC 60747-17:2020 @ IEC 2020 - 7 - 半导体器件 第17部分：基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容 耦器 TUVRx TUVRx TUVRx MACHINE TRANSLATION 1范围 IEC60747的本部分规定了磁耦合器和电容耦合器的术语、基本额定值、特性、安全测试和测量方法。 它规定了基本绝缘和加强绝缘的磁耦合器和电容耦合器的绝缘和隔离特性的原则和要求。 2规范性引用文件 正文中引用下列文件时,其部分或全部内容构成本文件的要求。对于注明日期的参考文献,仅引用的版本适用。对于未注明日期的参考 文献,适用参考文件的最新版本（包括任何修订）。 IEC60068-2-1:2007,环境测试-第2-1部分：测试-测试A:寒冷 IEC60068-2-2:2007,环境测试-第2-2部分：测试-测试B:干热 IEC60068-2-14:2009,环境测试-第2-14部分测试-测试N温度变化 IEC60068-2-20:2008,环境测试-第2-20部分测试-测试T:带引线器件的可焊性和耐焊接热测试方法 IEC60068-2-30:2005,环境测试-第2-30部分：测试-测试Db:湿热，循环（12小时+12小时循环） IEC60068-2-58:2015,