ICS37.020 N34 备案号：44294—2014 中华人民共和国机械行业标准 JB/T6267—2013 代替JB/T6267—1992 立式测长仪 Verticalmetroscope 2014-07-01实施 2013-12-31发布 中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T6267—2013 目 次 前言... HI 1 范围 2规范性引用文件 3基本参数 4要求. 4.1 主要技术指标 4.2 外观及各部分相互作用， 4.3 电气安全性能 4.4 数字显示系统的抗干扰性 4.5运输环境条件.. 5试验方法... 5.1 试验条件， 5.2 绝对测量的准确度. 5.3 测量轴多次移动时的示值重复性 5.4 数字显示系统的细分误差.. 5.5 测量轴升降的直线度.. 5.6 测量轴线对工作台面的垂直度 5.7 测杆在径向受力2N时的示值变化 5.8 测量力的一致性 5.9 带筋工作台台面的平面度 5.10 仪器连续工作2h时间内，示值的漂移量 5.11 仪器外观及各部分相互作用 5.12 电气安全性能 5.13 数字显示系统的抗干扰性 5.14 运输环境条件， 6检验规则... 6.1 检验分类. 6.2 出厂检验（即交货检验） 6.3型式检验 7标志、包装、运输和贮存 10 7.1标志 10 7.2 包装. 10 7.3 运输.. 10 7.4 贮存 10 JB/T6267—2013 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T6267—1992《立式测长仪》，与JB/T6267—1992相比主要技术变化如下： 删除了光学读数式仪器和激光仪器的内容； 将基本参数中的“直接测量”修改为“绝对测量”； 增加了可提供的附件清单； -增加了对数字显示系统细分准确度的要求和试验方法； 增加了电气安全性能的耐压、泄漏电流和接地电阻的要求和试验方法： 一增加了对数字显示系统的抗干扰性要求和试验方法。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会（SAC/TC103）归口。 本标准起草单位：贵阳新天光电科技有限公司、上海理工大学、贵州省光学测量工程技术研究中心、 宁波永新光学股份有限公司、南京江南永新光学有限公司、南京东利来光电实业有限公司、宁波市教学 仪器有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、宁波舜宇仪器有限公司、广州粤 显光学仪器有限责任公司、麦克奥迪实业集团有限公司、重庆光电仪器有限公司。 本标准主要起草人：胡清、冯琼辉、彭卫建、曾丽珠、李晞、杨广烈、王国瑞、徐利明、张景华、 胡森虎、李弥高、肖倩、夏硕。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： JB/T62671992。 II JB/T62672013 立式测长仪 1范围 本标准规定了仪器的基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于带有长度基准，具有垂直测量轴，采用接触测量方式，测量精密零件尺寸的立式测长 仪（以下简称仪器）。 规范性引用文件 2 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T2828.1 计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T2829 周期检测计数抽样程序及表（适用于对生产过程稳定性的检查） GB/T2831 光学零件的面形偏差 GB/T13384 机电产品包装通用技术条件 GB/T25480 仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法 JB/T7401 平面平品 JB/T9342—1999 光学计量仪器用测帽 3 基本参数 仪器的基本参数应符合表1规定。 表1 序号 项 日 单位 参 数 绝对测量 0~100 1 测盘范围 mm 比较测量 0~200 2 分辨力 μm 0.1 3 测量力 N 2.5 4 工作台墩大承载质量 kg 10 $8mm平面测幅、多筋工作台、球面测帽、三 附件配置 5 筋工作台、刃形测幅、下置平面测帽、小平面测帽、 （所列附件根据用户需求，应能全部或部分提供） 下置球面测帽、14mm大平面测帽、侧托架 JB/T6267—2013 4 要求 4.1 主要技术指标 仪器的主要技术指标应符合表2的规定。 表 序号 项 单位 标 1 绝对测量的准确度 不低于 μm 1+ 100 2 测量轴多次移动时的示值重复性 μm 0.2 3 数字显示系统的细分准确度不低于 μm 0.6 4 测量轴升降的直线度公差 (") 15 5 测量轴轴线对工作台面的垂直度公差 () - 测量轴在径向受力2N时所引起的示 受力时 μm 0.2 9 值变化≤ 力去除后 0.1 μm 7 测量力的一致性 N 0.3 三筋和多筋工作台的平面度公差 （不许凹） 8 μm 9 对测帽的要求 符合JB/T9342—1999的2级测帽要求 10 仪器连续工作2h时间内，小值的漂移量 um ±0.1 L为测量长度，单位为毫米（mm)。 4.2 外观及各部分相互作用 4.2.1 电镀表面不应有脱皮和斑点存在，漆面不应有硫碰伤和显荠的颜色不均匀，零件表面不应有毛 刺， 外部零件锐边应倒校，零件接合处应齐整。 4.2.2 裸露金属面不应有锈蚀、碰伤和显着的划痕，！ 以及影响测量的其他缺陷。 4.2.3 所有紧固零作应保证紧固可靠；各活动部分的移动和转动应平稳舒适，不应有卡住和急跳现象。 4.2.4 所有刻度、刻字及铭牌标记应清晰、醒目。 4.2.5 所有附件装卸和调整应方便、可靠。 4.3 电气安全性能 4.3.1 耐压 在试验电压升至表3所示的规定值时保持时问5S，无击穿和飞弧现象。交流、直流试验方式可任 选其一，能通过二者之一即可。一般情况选择交流试验；如果为了避免容性电流，可选择直流试验。 表3 采用交流试验时 采用直流试验时 仪器电源工作电压U 试验电压（交流） 仪器电源工作电压U 试验电压（直流） v V v V 100<U≤150 1000 100<U≤150 1250 150<U≤300 1500 150<U≤300 2150 4.3.2 泄漏电流 仪器在常温常湿条件下的泄漏电流不应大于1mA。 2 JB/T62672013 4.3.3接地阻抗 带有电源输入插座的仪器，在插座中的保扩接地点与仪器所有可能触及金属部件之间的接地阻抗不 大于0.12。 带有不可拆卸电源线的仪器，电源线插头中的保护接地脚与仪器所有可触及金属部件之间的接地阻 抗不大于0.22。 4.4 数学显示系统的抗干扰性 数字显示系统在正常工作状态下，在2s时间内应能承受下列规定幅度的电源干扰： 对称干扰（相线L和中性线N之间）幅度（1000土150）V； 一不对称干扰（线L或中性线N和地线G之间）幅度（1000土150）V； 一地线干扰（地线G和大地之间）幅度（500土75）V。 施加干扰时，系统应能正常工作，并且数字显示跳字不超过一个数字分辨力。 4.5运输环境条件 仪器在运输包装条件下的环境模拟试验应按GB/T25480的规定。其中选用：高温55℃，低温-40℃， 交变湿热试验相对湿度95%，自由跌落4次，跌落高度按包装件质量选定。 5试验方法 5.1试验条件 5.1.1 仪器进行试验时的温度条件： a）室温应在（20土2）℃C范围内： b）室温变化≤0.5℃/h； c）被检仪器和试验工具的温差≤0.5℃； d）被检仪器在室内平衡温度的时问≥24h。 5.1.2供电电源交流电压（220土22）V。 5.1.3数字式仪器，应在接通电源30min之后进行试验。 5.2绝对测量的准确度 5.2.1试验工具 尺寸为1mm、2mm、5mm、10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、70mm、80mm 90mm、100mm的三等量块。 5.2.2试验程序 采用球面测帽和三筋工作台进行试验。 升降头架，使测量轴下降到全行程的起始端，并使其测帽与三筋工作台相接触；按仪器清零按钮， 使仪器示值为0.0000。将5.2.1中所列的量块依次地安装在工作台上，下降测量轴，使测帽在测量力的 作用下，与量块工作面中心接触，读取当前仪器示值。 全部量块的示值读取完毕后，按公式（1）计算各受检点的示值误差。 检验时，每个受检点应反复提升测量轴，使测帽离开量块再接触，重复四次，取四次接触后读取的 示值的算术平均值作为该受检点最终示值。 3 JB/T6267—2013 Axrx-B (1) 式中： Ax厂一各受检点示值误差，单位为毫米（mm）； 一各受检点的最终示值，单位为毫米（mm）； XC B一量块检定证书上给定的各受检点所用量块的中心长度，单位为毫米（mm）。 任意两受检点的距离为L，该两点的示值误差的代数差即为L长度上的准确度。 5.3测量轴多次移动时的示值重复性 采用球面测帽和三筋工作台进行试验。 下降测量轴使其测帽与三筋工作台相接触；读取当前仪器示值。然后提升测量轴，使测帽与工作台 脱离接触，再重新接触，反复十次。所读十次小值中的最人值和最小值之差即为示值重复性。 5.4数字显示系统的细分误差 5.4.1试验工具 尺寸为1.000mm、1.001mm、1.002mm、1.003mm、1.004mm、1.005mm、1.006mm、1.007mm 1.008mm、1.009mm、1.01mm的等量块。 5.4.2试验程序 采用球面测帽和下置球面测帕进行试验。 升降测量轴使其测帽与下置球面测帽相按触：前后左：移动下置球面测帽，找到仪器示值最大点， 然后固定下置