ICS17.040.30 JB J42 备案号：36489—2012 中华人民共和国机械行业标准 JB/T100052012 代替JB/T10005--1999 小测头于分尺 Smallanvil micrometer 2012-05-24发布 2012-11-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T10005—2012 目 次 前言. I 1 范围 2 规范性引用文件 3术语和定义. 4型式与基本参数 4.1型式. 4.2基本参数 5要求.. 5.1 外观. 5.2 相互作用， 5.3 材料. 5.4 尺架. 5.5 测微螺杆和测砖 5.6 锁紧装置， 5.7 标尺 测力装置 5.8 5.9 测微头. 5.10 测量面.. 5.11 最大允许误差. 5.12 电子数显装置... 5.13 抗温度变化及抗湿热能力， 5.14 重复性. 5.15 响应速度 5.16 校对量杆. 6试验方法... 6.1 防尘、防水试验， 6.2 抗静电干扰试验 6.3 抗电磁干扰试验， 6.4 温度变化试验 6.5 湿热试验 7检查条件 8检查方法... 8.1 外观 8.2相互作用. 8.3尺架变形的检查， 8.4测微螺杆和测砧的检查 8.5 锁紧前后测量面间距离变化的检查 8.6 测量力和测量力变化 JB/T10005—2012 8.7 测微头的示值误差 测量面. 8.8 8.9 最大允许误差 8.10 电子数显装置， 8.11 重复性. 8.12 校对量杆， 9标志与包装 附录A（规范性附录）测微螺杆轴向窜动和径向间隙 图1机械式小测头千分尺.. 图2电子数显小测头千分尺.. 图3锁紧前后两测量面间距离变化检查示意图 图4校对量杆的尺寸偏差及平行度检点示意图 II JB/T10005—2012 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T10005-1999《小测头千分尺》，与JB/T10005-1999相比主要技术变化如下： 增加了电子数显小测头千分尺的品种、规格及要求（本版的第1章，1999年版的第1章）； 增加了小测头千分尺的量程规格（本版的第1章，1999年版的第1章）； 重新定义了小测头千分尺的有关术语和定义（本版的3.1，1999年版的第2章）； 重新规定和调整了固定套管的标尺标数的刻写方式（本版的4.2.1，1999年版的3.2）； 修改了对小测头千分尺测量量程的规定（本版的4.2.2，1999年版的3.1）； 增加了小测头千分尺测微螺杆和测砧测量端直径规格（本版的4.2.3，1999年版的3.3； 增加并调整了对标尺的要求，并引用GB/T1216一2004的相关要求（本版的5.7)； 年版的2.2、4.11)； 修改了测量面硬度和表面粗糙度的要求（本版的5.10.2，1999年版的4.8和4.9）； 修改了小测头千分尺对两测量面的偏位要求（本版的5.10.3）； 修改了对测量面的平面度要求（本版的5.10.4，1999年版的5.11)； 修改并调整了对测量面平行度的要求（本版的5.10.5，1999年版的5.11)； 增加了电子数显装置性能要求（本版的5.12)； 修改了对校对量杆尺寸偏差及平行度的要求（本版的5.16.1，1999年版的4.12）； 修改了对校对量杆测量面表面粗糙度的要求（本版的5.16.2，1999年版的4.14)； -增加了对数显装置的试验方法（本版的第6章）； 增加了检查条件章节（本版的第7章）； 增加了锁紧前后测量面间距离变化的检查方法（本版的8.5）； 删除了1999年版标准的附录A，并将其内容经修改后收入本标准的相关章节，（本版的5.4、5.9、 5.11、8.6、8.8.3及附录A，1999年版的附录A）。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。 本标准负责起草单位：桂林量具刃具有限责任公司。 本标准参加起草单位：浙江省计量科学研究院、苏州麦克龙测量技术有限公司、桂林广陆数字测控 股份有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院。 本标准主要起草人：程江龙、吴庆良、茅振华、黄晓宾、董中新、陈萍。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： ZBJ42002—1987; JB/T10005—1999。 III JB/T10005—2012 小测头千分尺 1范围 本标准规定了小测头千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检查条件、检查方 法、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.01mm、分度值/分辨力为0.001mm，测量范围上限至200mm的机械式 小测头千分尺和电子数显小测头千分尺（统称“小测头千分尺”）。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T1216--2004外径千分尺 GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验 GB/T2423.22一2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB4208一2008外壳防护等级（IP代码） GB/T17163-2008几何量测量器具术语基本术语 GB/T17164一2008几何量测量器具术语产品术语 GB/T17626.2—2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3—2006 5电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T20919---2007 电子数显外径千分尺 3术语和定义 GB/T17163和GB/T17164界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 小测头千分尺smallanvilmicrometer 利用螺旋副原理或螺旋副原理与电子测量、数字显示技术结合，对尺架上两较小测量面间分割的距 离进行读数的外尺寸测量器具。 注1：改写GB/T17164—2008中定义2.3.6 注2：利用螺旋副原理，通过微分筒标尺进行读数的小测头千分尺，又称机械式小测头千分尺。 注3：利用螺旋副原理与电子测量、数字显示技术结合进行读数的小测头干分尺，又称电子数显小测头千分尺。 注4：机械式小测头千分尺和电子数显小测头千分尺，统称“小测头千分尺”。 3.2 响应速度 Eresponsespeed 电子数显小测头千分尺能正常显示数值时测微螺杆相对于测砧的最大移动速度。 3.3 数显装置digitalindicatingdevices 利用传感器、电子和数字显示技术计算并显示数显小测头千分尺的测量面位移的装置。 3.4 最大允许误差（MPE） maximumpermissible error (MPE) 由技术规范、规则所规定的误差极限值。 1 JB/T10005—2012 [GB/T17163—2008，定义4.21] 3.5 测微头移动最大允许误差 maximumpermissiblemovingerrorofmicrometerhead 忽略了测砧和尺架的影响，仅针对测微头在量程范围内，规定的误差极限值。 注1：改写GB/T1216—2004中定义3.4。 注2：此误差包括测微螺杆、调节螺母及微分标尺引入的误差。 4型式与基本参数 4.1型式 4.1.1小测头千分尺的型式如图1、图2所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。 4.1.2小测头千分尺应具有测力装置、隔热装置和紧固测微螺杆的锁紧装置。 说明： 尺架；2- 测砧；3- 隔热装置：4 测微螺杆；5 -锁紧装置； 固定套管：7- 微分筒；8 测力装置。 图1 机械式小测头千分尺 0.000 说明： -尺架；2.. 测砧；3- 测微螺杆：4 锁紧装置；5 固定套管；6 微分筒； 7 测力装置；8 输出口；9 显示屏；10- 数显装置；11- 功能键；12— 一隔热装置。 图2电子数显小测头千分尺 2 JB/T10005—2012 4.2基本参数 4.2.1固定套管的标尺标数，除有特别要求的之外，应按表1的规定刻写。 表1 单位为毫米 测微头的量程 标尺标数的刻写 15 0+A,5+A，10+A,15+A 25 0+A，5+A，10+A，15+A，20+A，25+A 30 0+A,5+A，10+A，15+A,20+A,25+A,30+A 注：测量范围上限至100mm的小测头千分尺，表中A为测量范围下限值；测量范围下限大于100mm的小测头 千分尺，表中A为测量范围下限值减100。 4.2.2小测头千分尺的量程宜为：15mm、25mm、30mm；测微螺杆螺距宜为：0.5mm、1mm。 4.2.3测微螺杆和测砧测量端直径宜为：1.5mm、.2mm、3mm，其伸出长度不应小于5mm。 5要求 5.1外观 5.1.1小测头千分尺不应有影响使用性能的裂纹、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。 5.1.2小测头千分尺表面的镀层、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。 5.1.3电子数显小测头千分尺的显示屏应透明、清洁、无划痕，数字显示应清晰。 5.1.4标尺标记不应有目力可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。 5.2相互作用 5.2.1小测头千分尺测微螺杆的移动应平稳、灵活，在其整个行程范围内不应有卡滞现象，其轴向窜 动量和径向间隙量均不应大于0.01mm。 5.2.2锁紧装置应能将测微螺杆在其测量范围内任意位置可靠紧固，松开锁紧装置后测微螺杆应能灵 活移动。 5.3材料 按GB/T1216—2004中5.2的规定。 5.4尺架 按GB/T1216—2004中5.3的规定