ICS 37.100.01 JB N 47 备案号：49782—2015 中华人民共和国机械行业标准 JB/T8271—2015 代替JB/T8271—1999 静电复印光导体表面缺陷比对版 Comparison scale for surface defect of photoconductor ofelectrostaticcopyingprocess 2015-04-30发布 2015-10-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 华人民共 中 和国 机械行业标准 静电复印光导体表面缺陷比对版 JB/T8271—2015 * 机械工业出版社出版发行 北京市百万庄大街22号 邮政编码：100037 * 210mm×297mm·0.5印张·15千字 2015年10月第1版第1次印刷 定价：12.00元 * 书号：15111·12661 网址：http：//www.cmpbook.com 编辑部电话： (010) 88379399 直销中心电话： (010)88379693 封面无防伪标均为盗版 版权专有 侵权必究 JB/T8271—2015 目次 前言 1范围. 2规范性引用文件.. 3技术要求... 3.1基本要求 3.2外观质量. 4测试方法. 4.1测试条件.. 4.2测试项目及方法 5 检验规则.. 6 标志、包装、运输和贮存 图1 缺陷版结构图 图2 缺陷版图样 表1 缺陷版基本尺寸及偏差 JB/T8271—2015 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准代替JB/T8271一1999《静电复印感光体表面缺陷测试版》，与JB/T8271一1999相比主要技术 变化如下： 一标准名称改为“静电复印光导体表面缺陷比对版”； 将范围中的感光体改为光导体，删除了硒鼓、硫化镉鼓等已不再使用的感光体（见第1章，1999 年版的第1章）； 增加了规范性引用文件（见第2章）： -增加了制版胶片厚度的要求，修改了胶片透射密度的要求（见3.1.1，1999年版的2.1.1和2.1.5）； 修改了缺陷版的结构图及图样（见图1和图2，1999年版的图1和图2）； 修改了缺陷版的结构及内容的描述（见3.1.2，1999年版的2.1.2）； 修改了缺陷版基本尺寸及偏差（见表1，1999年版的表1)； 修改了缺陷版的试验条件（见4.1，1999年版的3.1)； 修改了缺陷版缺陷图的检测方法（见4.2.2、4.2.3，1999年版的3.2)； 修改了制版胶片的检测方法（见4.2.1和4.2.2，1999年版的3.3）； 删除了新产品鉴定及老产品改型的检验（1999年版的4.3）； 修改了缺陷版的贮存环境温湿度（见6.5，1999年版的6.5）； 删除了缺陷版的使用方法（1999年版的附录A）。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国复印机械标准化技术委员会（SAC/TC147）归口。 本标准起草单位：天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备（常熟） 有限公司、佳能（中国）有限公司、无锡佳腾磁性粉有限公司、联想（北京）有限公司、柯尼卡美能达 （中国）投资有限公司、上海富士施乐有限公司、理光图像技术（上海）有限公司深圳分公司、兄弟（中 国）商业有限公司、三星电子（山东）数码打印机有限公司。 本标准主要起草人：马燕、张希平、王强、鲁俊和、周学良、范志国、陈挺、仇相如、刘生应、麦 洪琦、李妍。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： JB/T8271—1995（GB10999—1989)、JB/T8271—1999。 JB/T8271—2015 静电复印光导体表面缺陷比对版 1范围 本标准规定了静电复印光导体表面缺陷比对版（以下简称缺陷版）的技术要求、测试方法、检验规 则、标志、包装、运输和贮存。 本标准适用于静电复印（打印、传真、多功能）设备用的光导体的表面缺陷及在印品上对应的印迹 缺陷的检测。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T11500——2008 3摄影密度测量第2部分：透射密度的几何条件 GB/T11501—2008 3摄影密度测量第3部分：光谱条件 3技术要求 基本要求 3.1.1缺陷版应采用透明胶片制作。胶片的厚度为0.10mm±0.02mm，背景区的透射密度小于0.06。 3.1.2缺陷版的结构如图1所示，图样如图2所示。缺陷版高（140±2）mm，宽（180土2）mm。缺 陷版由A型缺陷图、B型缺陷图、一个@50mm空心圆、两个Φ8mm实心圆和版名组成。A型缺陷图 包括20对空心圆和实心圆，每对的空心面积和实心面积相等，在每个空心圆旁标注了圆面积。B型缺 陷图包括20根长度不等的线条，在每个线条旁标注了线条长度。A、B型缺陷的基本尺寸及偏差见表1。 空心圆的线宽和直线的宽度宜为0.15mm以下。两个8mm实心圆的透射密度应大于3.8。空心圆直径 为（50土1）mm。版名为静电复印光导体表面缺陷比对版。 注：每对圆的实心圆外径和空心圆内径相等。 表1 缺陷版基本尺寸及偏差 基本 尺寸 极限偏差 SA mm² Sg mm² D mm Lg mm SA SB D LB 4.00 4.00 2.26 9.00 3.00 3.00 1.95 8.00 2.50 2.50 1.78 7.50 2.00 2.00 1.60 7.00 1.50 1.50 1.38 6.00 ±10% ± 10% ± 5% ± 5% 1.00 1.00 1.13 5.00 0.80 0.80 1.01 4.50 0.60 0.60 0.87 3.60 0.40 0.40 0.71 3.00 JB/T8271—2015 表1 缺陷版基本尺寸及偏差（续） 基本尺 寸 极限偏差 Sg mm² D mm L mm SA SB D LB SA mm² 0.30 0.30 0.62 2.40 0.25 0.25 0.56 2.10 0.20 0.20 0.50 1.80 0.15 0.15 0.44 1.60 ± 10% ±10% ±5% ±5% 0.10 0.10 0.36 1.50 0.09 0.09 0.34 1.40 0.08 0.08 0.32 1.30 0.07 0.07 0.30 1.20 0.06 0.06 0.28 1.10 0.05 0.05 0.25 1.00 ± 13% ±13% ±5% ±5% 0.04 0.23 0.85 0.04 空心圆内径或实心圆直径；Lg B型缺陷实心圆面积；D B型缺 注： SA -A型缺陷空心圆面积；SB 陷线条长度， 90 c 15 8 140 1010 98 08 18 25 180 说明： -A型实心圆所在中心线： B型图中心线： a- 一A型空心圆所在中心线： 一版名。 a2- 图1 缺陷版结构图 JB/T8271—2015 静电复印光导体表面缺陷比对版 B 7 mm B mm? A 4.00 O 0.85 9.00 · 0.04 3.00 O 1.00 · 0.05 8.00 2.50 o 7.50 1.10 · 0.06 2.00 o 7.00 1.20 · 0.07 1.50 o 6.00 1.30 · 0.08 $50mm 1.00 5.00 1.40 · 0.09 4.50 3.60 3.00 2.40 2.10 1.80 1.60 1.50 1 1 - 1 . . . 0.80 0.60 0.40 0.30 0.25 0.20 0.15 0.10 图2 缺陷版图样 3.2 外观质量 缺陷版表面应平整，不应有明显斑点、水迹、脱膜、皱折及造成图案模糊的划痕。 测试方法 4 4.1测试条件 温度：18℃~28℃。 相对湿度：40%~60%。 4.2测试项目及方法 4.2.1用分度值为0.01mm的厚度测试仪检测透明胶片的厚度，应符合3.1.1的要求。 4.2.2用精度为0.5mm的钢直尺检验缺陷版的长度、宽度及50mm空心圆的直径，应符合3.1.2的 要求。 4.2.3用分度值为0.01mm的读数显微镜检验空心圆的内径和实心圆的外径，用精度为0.01mm的游 标卡尺检验B型线条的长度，应符合3.1.2的要求。 4.2.4用精度（最大允差）不大于0.01D的透射密度计检验缺陷版上两个8mm实心圆和背景区的透 射密度，应符合3.1.2和3.1.1的要求。透射密度计的几何条件符合GB/T11500一2008的要求，光谱条 件符合GB/T11501一2008中ISO视觉透射密度的要求。