EJ ICS 27.120. 30 F 51 备末号：19521998 中华人民共和国核行业标准 EJ/T1068-1998 X射线荧光分析用环238源 Plutonfum-238 sources fluorescence analysis for x-ray 1998-03-25发布 1998-09-01实施 中国核工业总公司 发布 EJ/T1068-1998 前言 本标准是依据GB11815一89实施5年过程中搜集到的用户及生产厂家的意见，为适 应市场需求，促进生产工艺改进，使产品更富生命力、创造更大的社会效益和经济效益，同时 也为适应有关新发布或修订的国家标准、核行业标准以及标准调整之需要，在GB11815的 基础上修订形成的标准。 本标准按照EJ/T804一93规定，重新编写了产品代号；为了保证源的使用安全与环境 安全，依据GB4076一83、GB15849一1995增加了源的表面污染、泄漏水乎技术要求；根据 源的实际使用经验；增添了对源芯松动及外形尺寸的要求，并规定了相应的检验方法，为适 应用户的实际需要及生产厂家在生产过程中对源的环238原材料投料量的控制方法，将原 标准中的名义活度值偏差控制改为特定光子发射率测定值的总不确定度控制，并规定了小 立体角相对测量方法，同时更具体，更详细地规定了对测量装置及测量方法的要求，在保证 总不确定度不变的前提下，使之更易操作。 根据本标准的使用范围，将之调整为推荐性核行业标准。 本标准从生效之日起，代替GB11815一89。 本标准由全国核能标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：中国原子能科学研究院同位素研究所。 本标准主要起草人：姚纯炳。 中华人民共和国核行业标准 EJ/T1068-1998 X射线荧光分析用环238源 代替GB11815-89 Plutonium-238 sources fluorescence analysis for x-ray 1范围 本标准规定了X射线荧光分析用环238源的产品代号、技术要求、测试方法、产品检验 及产品标志、包装、存。 本标准适用于X射线荧光分析用环238密封放射源（以下简称源）。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时， 所示版本均为有效.所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本 的可能性。 GB4075-83密封放射源分级 GB4076一83密封放射源一般规定 GB11806一89放射性物质安全运输规定 GB15849~-1995密封放射源的泄漏检验方法 GB/T2828一81逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用连续批的检查） EJ/T804一93放射性同位素产品代号 3定义 本标准采用下列定义。 3.1特定光子发射率specificphotonemissionrate 在指定方向每秒每球面度源发射的特定能量光子数（s~1·sr-1)） 3.2背透率backingemissionrate 源工作面背面的光子发射率与源工作面光子发射率之比，以百分数表示。 4产品代号 依据EJ/T804一93规定的原则，产品代号用RSPU2382xxxxxx表示，其中RS为放射 性同位素产品的放射源代号；PU为放射性同位索环元素代号：238为环238质量数代码：2 为放射源产品类别中源的代码；第一个×为源的形状代码；第二个x为源之几何尺寸代 码；第三、四、五个x为以源的名义活度值表示的规格代码，以37MBq的倍数值示出：最后一 中国核工业总公司1998-03-25批准 1998-09-01实施 1 EJ/T1068-1998 个×为源窗材料代码，1表示铍窗。 4.1形状代码 按源外形分为两类； a）圆柱源，以2表示，其结构示意图见图1。 钨合金 活性陶瓷 蒙乃尔合金 图1 圆柱源结构示意图 b）环状源，以7表示，其结构示意见图2。 钨合金 不锈钢 铍 活性陶瓷 不锈钢 图2环状源结构示意图 4.2几何尺寸代码 4.2.1圆柱源的儿几何尺寸代码见表1。 表1圆柱源的儿何尺寸及代码 几何尺寸 名 称 mm 几何尺寸代码 外径 活性区直径 高度 10.0 7. 0 6. 5 0 圆柱"Pu低能光子源 15. 0 6. 5 2 10.6 4.2.2 环状源的几何尺寸代码见表2 表2环状源的儿何尺寸及代码 几何尺寸 名 称 mm 几何尺寸代码 外径 内径 活性区直径 高度 环状Pu低能光子源 38.0 22.5 4.0 6.5 0 EJ/T1068-1998 4.3 规格（名义活度值）代码，见表3。 表3圆柱源、环状源的规格代码 名 称 名义活度MBg(mCi)*) 规格代码 370(10) 010 1110(30) 030 圆柱、环状”Pu低能光于源 3700(100) 100 *）名义活度值：适应商业和防护需要而给出的源的活度值。 4.4本章规定的产品代号不能满足实际应用时，可以按本章规定代号编制规定增加其他产 品代号，但其性能不能低于同类产品的技术要求。 5技术要求 5.1源结构 源结构应满足安全性能及光子发射率的要求。 5.1.13 5.1.2源芯与源壳的配合，不得出现任何松动现象。 5.2外形尺寸 5.2.1圆柱源的外径尺寸公差为*"mm。 5.2.2环状源的内径尺寸公差为+°5mm。 5.3源的活度限值 应符合GB4075-83中3.2之规定 5.4238Pu原料放射性杂质限值 能量超过100keV的杂质活度，不大于总活度的0.1%。 5.5源表面污染水平 表面污染水平不大于185Bq 5.6源泄漏水平 泄漏水平不大于200Bq。 5.7圆柱源产品 5.7.1 名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级技术指标要求见表4。 表4名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级 名义活度值 特定光子17.2keV发射率 产品代号 安全性能分级等级 MBq(mCi) s-l . sr-1 RSPU2382200101 370(10) 1.3X10° GB/C33222 RSPU2382200301 1110(30) 3X10° GB/C33222 RSPU2382221001 3700(100) 9X10* GB/C33222 5.7.2特定光子发射率测定值的总不确定度不得大于10%。 5.7.3背透率不得影响X射线荧光分析元素的检测限。 5.7.4推荐使用期10a。 EJ/T1068-1998 5.8环状源产品 5.8.1名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级技术指标要求见表5。 表5名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级 名义活度值 特定光子17.2keV发射率 产品代号 安全性能分级等级 MBq(mCi) g-1 . sr-1 RSPU2382700101 370(10) 1.5×10* GB/C33222 RSPU2382700301 1110(30) 4.5×10* GB/C33222 RSPU2382701001 3700(100) 1.3×10° GB/C33222 5.8.2特定光子发射率测定值的总不确定度不得大于10%。 5.8.3背透率见5.7.3. 5.8.4推荐使用期见5.7.4. 6测量方法 6.1源芯与源壳结构配合测量方法 将源放入开有测量孔的屏蔽室中，源与屏蔽室须紧密装配，测量孔直径与源活性区直径 相同，测量源的?计数率。模拟实际应用的振动至少3次，在测量条件不变的条件下，测量振 动后的计数率，每次振动后的计数率与未振动时的计数率之差应不大于未振动时的 计数率的士5%。 6.2外形尺寸测量方法 6.2.1圆柱源外形尺寸测量方法 用环规检测。通过通规的源为合格源。 环规的尺寸、加工材料、硬度及粗糙度需符合量具加工要求。 6.2.2环状源外形尺寸测量方法 用测量环状源内径的塞规检测。通过通规的源为合格源。 塞规的尺寸、加工材料，硬度及粗糙度需符合量具加工要求。 6.3特定光子发射率的相对测量 6.3.1测量装置 以带铍窗的薄NaI(TI)闪烁探头为探测器或以带铍窗的HpGe或Si(Li)半导体晶体为 探测器的小立体角测量装置。 Nal（T1）晶体厚度3~5mm；直径不小于40mm， HpGe晶体厚度3~5mm，直径不小于30mm。 小立体角装置的几何要求； a）探测器、光栏、源在同心轴上； b）光栏可换，孔径可准确测量，总不确定度小于0.3%； c）源与光栏的距离可调。距离能准确测量，总不确定度小于0.3%； d）光栏直径、源与光栏的距离的确定，以测量系统对源光子发射率死时间校正不超过 土2%为宜； e）装置的圆柱室内半径不小于圆柱室壁厚的10倍。 4 EJ/T1068-1998 6.3.2对特定光子发射率标准源的要求 6.3.2.1标准源的结构及制备工艺与产品源相一致。 6.3.2.2标准源的光子发射率测量值（在源工作面的法线方向的特定光子发射率）的总不 确定度不大于5%。 6.3.3对产品源的要求 产品源与标准源的特定光子发射率应尽量接近，相差不超过2倍。 6.3.4测量方法 在探测器、光栏、源同心轴线上，按照6.3.1中d)的要求，调节好光栏孔径、源与光栏的 距离，用标准源刻度小立体角测量装置，在完全相同的测量条件下，测量产品源。 产品源的特定光子发射率计算公式如下： n标 ：式中：I—--产品源的特定光子发射率，单位s-1.sr-" 一产品源测量的特定光子发射率，单位s""； 一标准源测量的特定光子发射率，单位s-1； I氯——标准源的特定光子发射率，单位s-1，sr-1 测量的总不确定度不大于士10%。 6.4238Pu原料放射性杂质测量 使用经刻度的