EJ ICS 27. 120. 30 F 51 各宗号：1951-1998 中华人民共和国核行业标准 EJ/T 1067-1998 LQT986345 X射线荧光分析用韬241源 Americium-241 sources fluorescence analysis for X-ray 1998-03-25 发布 1998-09-01实施 中国核工业总公司 发布 EJ/T1067-1998 言 1989年颁布的GB11808在实施中发现尚不够完善，同时为了适应有关新发布或修订 的国家标准、核行业标准以及标准调整之需要，在GB11808一89的基础上修订形成了本标 准。 本标准按照EJ/T804一93规定，重新编写了产品代号。为了保证源的使用安全与环境 安全，增加了源的表面污染和泄漏水平两项技术要求，根据源的实际使用经验，增加了对源 芯松动及外形尺寸要求，并规定了相应的检验方法。为适应生产过程中源活度、特定光子发 射率的测量，修改了测量方法，在保证总不确定度不变的前提下，使之更易操作。 鉴于本标准的使用范围较窄，将其调整为推荐性核行业标准。 本标准从生效之日起，代替GB11808一89。 本标准由全国核能标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：中国原子能科学研究院同位素研究所。 本标准主要起草人：卢玉楷。 中华人民共和国核行业标准 X射线荧光分析用241源 EJ/T10671998 代替GB11808-89 Americium-241 sources fluorescence analysis for X-ray. 范围 本标准规定了X射线荧光分析用锯241源的产品分类、技术要求、测试方法等。 本标准适用于X射线荧光分析用镭241密封放射源（以下简称源）。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时， 所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本 的可能性。 GB4075-83密封放射源分级 GB4076-83 密封放射源一般规定 ·GB11806-89，放射性物质安全运输规定 GB15849-1995密封放射源的泄漏检验方法 GB/T2828一81逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查） EJ/T804-93放射性同位素产品代号 定义 本标准采用下列定义。 3.1特定光子发射率specificphotonemissionrate 在指定方向每秒每球面度源发射的特定能量光子数(s-1。 3.2背透率backingemissionrate 源工作面背面的光子发射率与源工作面光子发射率之比，以百分数表示。 4产品分类及源结构 4.1产品分类 按源外形分为两类： a）圆柱源； b)环状源。 中国核工业总公司1998-03-25批准 1998-09-01实施 EJ/T1067-1998 4.2源结构 圆柱源与环状源的结构分别示于图1及图2。 钨合金 不锈钢 蒙乃尔合金 活性陶瓷 铍窗或 不锈钢窗 图1圆柱源结构示意图 钨合金 不锈钢 不锈钢 活性陶瓷 图2环状源结构示意图 4.2.1圆柱源尺寸及代码 圆柱源尺寸及代码见表1。 表1 圆柱源尺寸及代码 mm 外径 活性区直径 高度 尺寸代码 10. 0 7. 0 5. 0 10. 8 8. 0 5. 0 10. 0 7. 0 6. 5 2 10.8 7.2 6. 5. 3 15. 0 10. 6 6. 5 4 4.2.2环状源尺寸及代码 j：环状源尺寸及代码见表2。 2 EJ/T1067-1998 表2环状源尺寸及代码 mm 外径 内径 活性区宽度 高度 尺寸代码 38. 0 22.5 4. 0 6. 5 0 4.3产品代号 依EJ/T804一93之原则，产品代号用RSAM2412xxxxxx表示。RS为放射源代号； AM为元素代号；241为镭241质量数；2为源的代码；第一个x是放射源形状代码，当为 2时系圆柱源，为7时系环状源；第二个x为源之几何尺寸代码；之后的三个xxx为源名义 活度代码，以37MBq的倍数值示出；最后一个x为源窗代码，1为铍窗，2为不锈钢窗。 5技术要求 源结构要求 5.1 5.1.1源结构应满足安全性能及光子发射率的要求。 5.1.2源芯与源壳的配合不得出现松动现象。 5.2源外形尺寸公差 5.2.1圆柱源外径尺寸公差为+5mm。 5.2.2环状源内径尺寸公差为*mm。 5.3源活度限值 应符合.GB4075-83中3.2之规定。 5.4Am原料中放射性杂质限值 能量高于100keV的杂质活度，不得大于总活度的0.1%。 5.5源表面污染限值 表面污染应不大于185Bg。 5.6源泄漏水平限值 泄漏水平应不大于200Bg。 5.7名义活度值、特定光子发射率和安全性能分级等级 源名义活度值、特定光子发射率应分别满足表3及表4的要求。安全性能分级等级应达 到GB/C33222的要求。 3 EJ/T10671998 表3圆柱源的名义活度值、特定光子发射率 特定光子发射率 名义活度值 产品代号 s-1 . sr-1 MBq(mCi) 17.7keV 59.5keV RSAM2412200012 37(1) 8X105 RSAM2412200032 111(3) 2.5×10° RSAM2412200052 185(5) 一 4X105 RSAM2412200102 370(10) 8X10° RSAM2412200202 740(20) 1.6×107 - RSAM2412200302 1110(30) 2.4X107 RSAM2412211002 3700(100) 5.3×107 RSAM2412220101 370(10) 1.9×105 8.6×10 RSAM2412220301 1110(30) 7X10° 2.6X107 RSAM2412231001 3700(100) 1×107 6.7×107 RSAM2412241001 3700(100) 1.8×10 7.8X10 表4环状源名义活度值、特定光子发射率 特定光子发射率 名义活度值 产品代号 s-1 . sr-1 MBq(mCi) 17.7keV RSAM2412700301 110(30) 9X10 2X107 RSAM2412701001 3700(100) 3X107 6.5X107 RSAM2412705001 18500(500) 6.7×10 2.8X10* 5.8 特定光子发射率值的总不确定度 特定光子发射率测定值的总不确定度不得大于10%。 5.9 背透率 1. . 背透率不得影响X射线荧光分析元素的检测限。 5.10推荐安全使用期 推荐使用期10a。 测试方法 6.1 源芯与源壳配合检验 将源放入开有测量孔的屏蔽室中，源与屏蔽室紧密相配，（测量孔直径与源活性区直径 相同）。模拟实际应用的振动至少3次，在测量条件不变的条件下，测量振动后的计数率。 每次振动后的计数率与未振动时的计数率之差应不大于未振动时计数率的士5%。 ：6.2：外形尺寸检验 4 EJ/T1067-1998 6.2.1.圆柱源 用环规检验。通过通规的源为合格。 环规的尺寸、制造材料、硬度和粗糙度应符合量具要求。 6.2.2环状源 用测量环状源内径的塞规检验。能放入通规的源为合格。 塞规尺寸的制造材料、硬度和粗糙度应符合量具要求。 6.3特定光子发射率的相对测量 6.3.1测量装置 采用带铍窗的薄NaI(TI)闪烁探头或带铍窗的HpGe或Si(Li)半导体晶体为探测器的 小立体角测量装置。 Nal(TI）晶体厚度3~5mm，直径不小于40mm； HpGe晶体厚度3~6mm，直径不小于30mm。 a）探测器、光栏、源在同一轴线上； b）光栏可换，孔径能准确测量，其总不确定度小于0.3%； c）源与光栏的距离可调并可准确测量，其总不确定度小于0.3%； d）光栏直径、源与光栏距离的确定，以测量系统对源光子发射率死时间校正不超过 ±2%为宜； e）测量装置的圆柱室内半径不小于圆柱室壁厚的10倍。 6.3.2对标准源的要求 6.3.2.1标准源的结构和制备工艺应与产品源相一致。 6.3.2.2标准源的光子发射率测量值（源工作面法线方向的特定光子发射率）的总不确定 度应不大于5%。 6.3.3.对产品源要求 产品源与标准源的特定光子发射率应尽量接近，相差不超过2倍。 6.3.4测量方法 在探测器、光栏、源同心轴线上，按照6.3.1中d的要求，调节好光栏孔径、源与光栏的 距离，用标准源刻度小立体角测量装置，在完全相同的条件下，测量产品源。 产品源特定光子发射牵计算公式如下： 式中：I——产品源的特定光子发射率，s-1.sr~i 测得的产品源特定光子计数率，s-"； n* ns 一测得的标准源特定光子计数率，s-1， I——标准源的特定光子发射率，s-1·sr-1 特定光子发射率测定值的总不确定度应不大于10%。 6.4Am原料中放射性杂质测量 使用经刻度的Si(Li)、HpGe半导体探测器或其它合适方法测定。 5