SN 中华人民共和国出人境检验检疫行业标准 SN/T 0829--1999 出口镁砂中的氧化镁、氧化硅、氧化钙、 氧化铁、氧化铝、氧化锰、氧化钛的测定 X射线荧光光谱法 Method for the determination of MgO,SiO2,CaO,Fe2O3,Al2O3 MnO,TiO2contentsinmagnesiteforexport X-ray fluorescence spectrometric method 2000-05-01实施 1999-12-30发布 中华人民共和国国家出人境检验检疫局发布 SN/T0829—1999 前言 本标准是按照GB/T1.1一1993《标准化工作导则第1单元：标准的起草与表述规则第1部分： 标准编写的基本规定》的要求编写的，是采用X射线荧光光谱分析出口镁砂的标准方法。 本标准采用无水四硼酸锂熔样，制得重现性良好的玻璃熔片。使用数学方法校正由于元素之间的干 扰效应。较国标化学法测定速度快且重复性好。 本标准附录A为标准的附录，附录B为提示的附录。 本标准由中华人民共和国国家出入境检验检疫局提出并归口。 本标准起草单位：中华人民共和国辽宁出入境检验检疫局。 本标准主要起草人：盛向军、陈新。 本标准系首次发布的行业标准。 中华人民共和国出人境检验检疫行业标准 出口镁砂中的氧化镁、氧化硅、氧化钙、 氧化铁、氧化铝、氧化锰、氧化钛的测定 SN/T 0829-1999 X射线荧光光谱法 MethodforthedeterminationofMgO,SiO2.CaO,Fe2O3,Al,O3, MnO,TiO, contents in magnesite for export X-ray fluorescence spectrometric method 1范围 本标准规定了出口镁砂中SiO2、CaO、Fe2O3、Al,O3、MnO、TiO2含量的同时测定方法，主成分MgO 的含量采用差减法计算。 本标准适用于Mg0含量85.00%～98.50%，而除测定杂质外，其余微量杂质的和小于0.1%的出 口镁砂。对轻烧镁的分析可参照执行。 测定范围见附录A中表A1。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均 为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。 GB/T5069.1一1985镁质耐火材料化学分析方法重量法测定灼烧失量 GB/T16597一1996冶金产品分析方法X射线荧光光谱法通则 GB/T63791986测试方法的精密度通过实验室间试验确定标准测试方法的重复性和再现性 3符号 LOI(%）—灼烧失量（GB/T5069.1—1985) 4试验方法 4.1原理 采用无水四硼酸锂熔样、KI脱模剂脱膜制片方法制成玻璃熔片。测量出待测元素的分析线X射线 荧光强度，根据待测元素的X射线荧光强度与待测元素含量之间的定量关系，选用回归方法及经验系 数校正方式数学校正模型，计算出待测元素的含量。 4.2试剂 4.2.1无水四硼酸锂荧光专用试剂。 4.2.2碘化钾溶液（100mg/mL）。 4.2.3氩甲烷气体（10%甲烷+90%氩气）。 4.3装置 4.3.1波长色散X射线荧光光谱仪(GB/T16597一1996)，X射线管功率2.5kW，配套计算机。 中华人民共和国国家出人境检验检疫局1999-12-30批准 2000-05-01实施 1 SN/T0829-—1999 4.3.2铂黄金埚（Pt95%+Au5%） 4.3.3高频电感熔样机（温度可达1150℃），如用其他方法熔样，温度不能低于1150℃。 4.4试样 已磨细通过筛孔径75μum（相当200目）实验室样品，在105110℃下烘2h，存于干燥器，冷却至室 温。 4.5分析步骤 4.5.1试料 试样先用GB/T5069.1--1985方法测定得到LOI，然后将测完LOI的样品保存于干燥器中待测。 4.5.2测定数量 同一试料，在同一实验室，应由同一操作者在不同时间内进行2～3次测定。 4.5.3试料片的制备 称取试料0.4000g（精确至0.0001g），加无水四硼酸锂4.000g（精确至0.001g），于铂黄金 中，用牛角勺末端轻轻混匀，滴加3滴碘化钾（约20mg)溶液于熔样机上熔融4min，摇动数次，赶走气 泡。水平放置，冷却后自然剥落。样片应避免沾污，保存于干燥器中待测。 4.5.4标准试料片，标准化试料片的制备 标准试料由市售12个标准样品及一个光谱纯氧化镁试剂（含量99.9%以上），按（4.5.1)方法，灼 烧后保存于干燥器中。为了扩大测量范围，采用互配方式，然后按（4.5.3)方法制取标准试料片及标准化 试料片。标准化试料片用于校正仪器漂移。选择各元素含量适中的标准试料片作标准化试料片。 标准试料中各元素氧化物含量范围列入附录A中表A2。 4.5.5分析条件 X光管激发电压45kV，电流45mA，光栏30mm，粗狭缝，无滤光膜，衰减设1/1，峰位测量时间为 40s，背景测量时间为20s，氩甲烷气体50mL/min，真空光路。仪器其他测量条件见附录B中表B1。 4.5.6.背景校正 采用2点法扣除背景。 (1) Bz B 式中：I.— 扣除背景后的净强度； I-—峰位置总强度； IB1、IB2——分别为背景1、2的X射线荧光强度； B1、B2一分别为背景1、2的20角与峰位置20角差。 4.5.7回归分析 将测得的标准试料片中各元素分析线的净强度对相应标准试料各元素含量按式(2)进行回归，求出 工作曲线常数b、c，存入计算机。 X = bl: + c ·(2 ) 式中：X一分析元素i未校正含量； I:分析元素i荧光净强度； b、c工作曲线常数。 然后根据Lachance/Traill模式（3），回归求出相应的吸收增强影响系数（A），存入计算机。 W = X;(1 + ZA,F,) ....(3) 式中：W;—分析元素i的校正定量值； F;—共存元素i含量或X射线荧光强度； Ai—共存元素j对分析元素i的吸收增强影响系数。 4.5.8测定 2 SN/T0829-1999 每次开机稳定1h，使用仪器标准化试料片做仪器漂移校正，然后测量试料片。用式（2）、式（3)计算 出未知元素的含量。 4.5.9分析结果的计算与表述 所有元素含量都用相应氧化物的百分含量表示，并经LOI校正系数求得试样中各元素含量： K=(100-LOI)/100 （4) W'.-W.·K (5) 式中：KLOI校正系数； W";一一待测试样中SiO2、CaO、Fe2O：、Al.O、MnO、TiO,最终定量分析值。 MgO定量值由式（6)计算： W(MgO)=100-[W"(SiO,)+W"(CaO)+W"(FeO.)+W'(Al,O,) + W'(MnO) + W(TiO,) + LOI) （6) 所有结果保留至小数第二位。 5精密度 本标准的精密度数据由8家实验室，选定6个水平按GB/T6379一1986标准共同实验确定。精密 度数据见附录A表A3。 如果两个独立测试结果之间的差值超过了附录A中表A3中所列的重复性或再现性数值，则认为 这两个结果是可疑的，应重新实验。 SN/T0829-1999 附录A (标准的附录) 测定方法的工作参数 表A1 测定范围 组分 测定范圈，% Mgo 85.00~98.50 SiO2 0.50~5.00 Cao 0.50~6.00 Fe:Os 0.40~7.00 0.30~2.00 MnO 0.03~0.10 TiO, 0.03~0.10 表A2 工作曲线范围 组分 含量范围，% 组分 含量范围，% SiO2 0.41~5.00 Al,Os 0.089~7.73 Cao 0.26~6.81 MnO 0.018~0.14 Fe:Os 0.36~7.30 TiO2 0. 007~0. 38 表A3精密度 组分 水平范圈，% 重复性，% 再现性，% SiO2 0.50~5.00 r=0.121+0.0136m R=0.149+0.0472m Cao 0.50~6.00 r=0.00316+0.0156m R=0.0515+0.0112m Fe:Os 0.40~7.00 r=0.0192+0.00496m R=0.0376+0.0116m Al,Os 0.30~2.00 r=0.0345+0.0203m R=0.0788+0.0701m MnO 0.03~0.10 r≤0.004 R≤0.007 TiO2 0.03~0.10 r≤0.006 R≤0.010 Mgo 85.00~98.50 r=1.091-0.00945m R=3.465-0.0326m 4 SN/T0829—1999 附录B （提示的附录） 测量条件 表 B1 28角(度） 元素 分析线 分光晶体 探测器 PHA 峰值 背景1 背景 2 Mg ka TAP 45.20 43.37 47. 00 F-PC 100~350 IS ka PET 109.02 107.10 111.00 F-PC 150~370 8 k. GE 61.97 60.30 63.32 F-PC 150~330 Fe k. LiF(200) 57.57 56. 25 58.73 SC 100~350 Al ka PET 144.73 142.87 146.50 F-PC 150~350 Mn ke LiF(200) 62.99 61.60 64.10 SC 100~340 Ti ka LiF(200) 86.13 85. 00