SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T 10074~10077-91 电子元器件详细规范 半导体集成电路接口电路 () 1991-07-01实施 1991-04-08发布 中华人民共和国机械电子工业部 发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路CJ710型电压比较器 SJ/T 10076—91 Detaif specificationforelectroniccomponents Semiconductor integrated circuit Voltage comparator typeCJ710 本规范规定了半导体集成电路CJ71C型电压比较器质量评定的全部内容。 本标准符合GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T12750半导 体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。 中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准 1991-07-01实施 28 SJ/T 1007691 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据： SJ/T10076—91 GB4589.1半导体器件分立器件和集 成电路总规范》 GB/T12750《半导体集成电路分规范（不 包括混合电路）》 CJ710型电压比较器详细规范 订货资料：见本规范第7章 1机械说明 2简要说明 外形依据：GB7092半导体集成电路外 双极型电压比较器电路 形尺寸》 半导体材料：硅 外形图：GB7092 封装：空封、非空封 品种： J型 5.4条及5.4.1条 P型 5.5条及5.5.1条 型号 环境 温度0~70℃ 55~125℃C T型 5.6条及5.6.2条 (C) 封 (M) 装形式 引出端排列： 金属圆壳(T) CJ710CT CJ 710MT 黑瓷封装(J) CJ 710CJ GND CJ 710MJ 13 IN+3 CJ710CP 塑料直插(P) IN.4 11 v. 口 GNI 3质量评定类别 标志：按GB4589.1第2.5条及本规范 I,IA,IB,IC 第6章 29- SJ/T10076—91 极限值（绝对最大额定值） 4 若无其它规定，适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符号 单 位 最小 最大 CJ 710M 55 125 4.1 工作环境温度 Tamb r CJ 710C 0 70 4. 2 贮存温度 Tsig 65 150 c V+ 14 4. 3 电源电压（Tsmb=25℃） v V_ -7 4.4 输出电流 1om 10 mA 4. 5 短路输出时限 tos - 10 4. 6 VuR 差模输入电压范围 -5 5 4.7 VicR -7 v 共模输入电压范围 7 耗 T 300 功 4. 8 Pp mw (Tamb=25C) J,P 200 4. 9 耐焊接热（60s） Th 300 电工作条件和电特性 5 电特性的检验要求见本规范第8章。 5.1电工作条件 若无其它规定，适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符 号 单 位 最 小 最大 5. 1.1 正电源电压 V. 12 v 5. 1. 2 负电源电压 V. -6 V 5. 2 电特性 若无其它规定，Tmb=25℃。 规范值 性和条件 符号 条款号 单位 试 验 最小 最大 5. 2. 1 输入失调电压 Rs≤200n,V:=0V Vio 一 5. 0 mV A3 5. 2. 2 输入失调电流 Vo =1.4V 5. 0 μA A3 5. 2. 3 输入偏暨电流 Its - 25 μA A3 5.2.4 差模电压增益 Avo 000! 一 A3 5. 2. 5 输出端吸入电流 Isink 1. 6 - mA A3 30 SJ/T10076--91 续表 规范值 条款号 特性和条件 符号 单位 试 验 最小 最大 输入失调电压温源 Rs =500 5. 2. 6 20 μV/C ayto A3a/A3b 55C≤Tamb≤125℃ 25C<7amb≤Tmax 50 5. 2.7 输入失调电流温漆 nA/C A3a/A3b Tmin≤Tamb<25C 100 共模输入电压范函 V.--7V 5.2. 8 Vicr -5 v 5 A3a/A3b 55C≤Tamb≤125C 5.2. 9 共模抑制比 -55C≤Tamh≤125℃ KeMR 70 dB A3a/A3b 5. 2. 10 差模输入电压范围 -55C≤Tamb≤125℃ ViDR -5 V A3a/A3b 5 5. 2. 11 -5mA≤1o≤0. V,≥10mV Vo+ 正输出电压 2.5 V A3 5. 2. 12 负输出电压 V>10mV Vo- 1. 0 V A3 5.2. 13 正电源电流 V≥10mV 1+ mA A3 5. 2. 14 负电源电流 V,≥10mV 1- 7 mA A3 5. 2. 15 功 耗 V.10mV lo=0V Pn 150 mw A3 6 标志 器件上的标志示例： J、P型封装 a. 认证合格标志(适旧时) 引出举识别标志 CJ710CP 制造单位商标 DA 质量评定类别 8916 检险批识别代码 若受器件尺寸限制时、允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。 b. T型封装 引出端识别标惠 制造单位商标 口 CJ 71GMT 型号 认证介格标志（适阳时） aC 8941 质录评定类别 检验批识别代码 SJ/T1007691 若在管壳侧面打印，则将器件正放，从“引出端识别标志”起按逆时针方向依次标志；制造 单位商标、型号、认证合格标志、检验批识别代码、质量评定类别。 订货资料 若无其它规定，订购器件至少需要下列资料： a. 产品型号； 详细规范编号； c. 质量评定类别； d. 其它。 8 试验条件和检验要求 抽样要求：根据采用的质量评定类别，按照GB/T12750第9章的有关规定。 A组检验的抽样要求 AQL 类 类 分 组 1 IL AQL IL AQL A1 1 0. 65 0. 65 A3 1 0. 15 - 0. 15 A3a S4 1. 0 S4 1. 0 A3b S4 1. 0 S4 1. 0 B组、C组和D组检验的抽样要求 LTPD 分 组 类 I 1类 A B c B1 15 15 15 15 C1 20 20 20 20 C3 15 15 15 15 B3 C4 10 10 10 10 B4 B5 C5 10 10 10 10 C6 20 20 20 20 C7 15 15 15 15 C8 10 5 7 10 B8 C9 15 7 15 5 C11 20 20 20 20 B21 20 10 10 15 32 SJ/T10076—91 续表 LTPD 分 组 1 类 I类 A B c C23 20 15 20 10 C24 20 10 15 20 D8 7 10 10 5 A组——逐批 全部试验均为非破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 条 件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb=25℃ 规范值 （见GB4589.1第4.1条） A1分组 外部目检 标患清晰，表面无 GB 4589.1 第4.2.1.1条 损伤和气孔 A3分组 25℃下的静态特性 GB6798《半导体 按本规范5.2.1条至5.2.5条、 按本规范5.2.1条 集成接口电路电压 5.2.11条至5.2.15条 至5.2.5条、5.2. 比较器测试方法的 11条至5.2.15条 基本原理》 A3a分组 最高工作温度下的 GB 6798 Tarb按本规范4.1条规定的最 按本规范5.2.6条 大值。条件：按本规范5.2.6条至 至5.2.10条 静态特性 5.2.10条 A3b分组 最低工作温度下的 GB6798 Tamb按本规范4.1条规定的最 静态特性 小值条件：同A3a分组 同A3a分组 33