SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T10068~10071--91 电子元器件详细规范 半导体集成电路HTL电路 () 1991-04-08发布 1991-07-01实施 中华人民共和国机械电子工业部 发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路CH2021型4位二进制 SJ/T10070-91 同步加/减计数器（双时钟） Detail specification for electronic component Semiconductor integrated circuit- TypeCH20214-bitup downsynchronousbinary counter (dual clock) 本规范规定了半导体集成电路CH2021型4位二进制同步加/减计数器（双时钟）质量评 定的全部内容。 本规范是参照GB5965《半导体集成电路双极型门电路空白详细规范》制订的，并符合GB 4589.1《半导体器件分立器件和渠成电路总规范》和GB/T12750半导体集成电路分规范 （不包括混合电路）》的要求。 中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准 1991-07-01实施 -27- SJ/T 10070—91 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据： GB4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路 总规范》 SJ/T10070—91 GB/T12750&半导体集成电路分规范（不包括混 合电路）》 CH2021型4位二进制同步加/减计数器（双时钟）详细规范 订货资料：见本规范第7章。 2简要说明 1机械说明 双极型HTL计数器 外形依据：GB7092《半导体集成电路外形尺 半导体材料：硅 寸》。 封装：空封、非空封 外形图：按GB7092 逻辑符号、逻辑图和功能表：见本 规范第11章。 D型 5.3条及5.3.1条 品种： J型 5.4条及5.4.1条 型 环境温度 P型 5.5条及5.5.1条 号 40~+85℃ (E) 封装形式 引出端排列； 陶瓷直插(D) CH2021ED CPo 黑瓷直插(J) CH2021EJ LD 15 CP, CH2021EP 塑料直插(P) D 14 Qo D; 13 Q: D2 12 Q1 Ds Qs BO co 10 GND 90 引出端符号名称见本规范第11.4条。 质量评定类别 标志：按GB4589.1第2.5条及本规范第6 3 章。 I,IA,IB,IC SJ/T1007091 极限值（绝对最大额定值） 若无其他规定，适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符 哥 单 位 最 小 最 大 4.1 Tamb 工作环境温度 40 85 r 4. 2 存溢度 Ts 55 125 4. 3 Vee v 电源电压 0. 5 18 4. 4 输入电压 Vt v 18 4.5 输入电流 4 10 mA 4. 6 输出电流 1。 30. mA 5 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第8章。 5.1电工作条件 若无其他规定，适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符 号 单 位 最 小 最 大 5.1.1 电源电压 Vee 13. 5 16.5 V Vu 5. 1. 2 输入高电平电压 8 V 5. 1. 3 输入低电平电压 Vu 5. 5 v 5- 1. 4 输出高电平电流 Jom 0. 5 mA 5. 1. 5 输出低电平电流 Iot. 14 mA 5.2电特性 若无其他规定，适用于全工作温度范围。 规范值 条款号 特性 条件 符号 单位 和 试验 小最 最 大 输出高电平电压 5. 2.1 Von 11. 5 v A3 Vcc=13.5V,Vm=8V,V=5.5V.lo=-0.5mA 输出低电平电压 Io.= 14mA Q~Q: 1. 5 5.2.2 Vcc=13.5V,V=8V VoL A3 V V=5.5V Totm8. 4mA CO、BO 1. 5 输入高电平电流 5. 2. 3 Iu 6 μA A3 Vcc15V,VH=16.5V 29 SJ/T1007091 续表 规范值 条款号 特 和 条 件 符号 单位 试验 小最 大 CPuCPp 输入低电平电流 2.10 5. 2. 4 LD CR In mA A3 Vccm16. 5V, Va,=1. 5V D,~D, 1. 05 输出短路电流 5. 2. 5 Ios -18 4 mA A3 Vee=16.5V 电源电流 5. 2. 6 lcc 48 mA A3 Vec=16.5V 最高时钟频率 5. 2. 7 fmax 1 MHz A4 Ve=15V,Tamb=25C,Vm=15V,t.S15ns,ti≤15ns Rz=1.5kn CPo,CPu- 400 tpLH 传输延迟时间 Ct=100pF Q: trt. 400 Vee=15V,Tamb25C Rz=2. 5kn CPoCPu→+ t.H 300 5. 2. 8 Vm=15V.f=1MHz A4 ns C= G0pF CO、BO 300 trmi q**50%.t≤15ns t15ns,Vwrp=7.5V 400 R=-1. 5kn 1.D* trs.n C,=100pF Q:~Q: 400 tra. 6标志 器件上的标志示例： 认证合格标患(适用时) 型号 CH2021ED 引出增识别标患 MA 质量评定别 8915 制造单位商标 检验批识别代码 若受器件尺寸限制，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。 7订货资料 a.产品型号； -30- SJ/T10070—91 详细规范编号； b. c. 质量评定类别； 其他。 试验条件和检验要求 抽样要求根据采用的质量评定类别，按GB/T12750第9章的有关规定。 A组检验的抽样要求 AQL 分 组 1类 I类 11. AQL IL AQL A1 1 0, 65 0. 65 A2 1 0. 1 1 0. 1 A3 1 0. 15 1 0. 15 A3a S4 1. 0 S4 1. 0 A3b S4 1. 0 S4 1. 0 A4 1. 0 S4 S4 1, 0 B组、C组和D组检验的抽样要求 LTPID 分 组 I类 I类 A B c B1 15 15 15 15 C1 20 20 20 20 C3 15 15 15 15 B4C4 10 10 10 10 B5C5 01 10 10 10 20 20 20 C6 20 C7 15 15 15 15 B8C8 10 5 7 10 C9 15 5 7 15 C11 20 20 20 20 B21 20 10 10 15 C23 20 10 15 20 C24 20 10 15 20 D8 10 5 7 10 31 - SJ/T10070—91 A组- 一逐批 全部试验均为非破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定，Tamb=25℃ 规范值 A1分组 GB 4589.1 标志清晰，表面无损伤 外部目检 第4.2.1.1条 和气孔 A2分组 按本规范5.2.1条、5.2.2条和 按本规范5.2.1条、5. 25下的功能验证 11.3条 2.2条和11.3条 GB3440《半导体集 A3分组 按本规范5.2.1条至5.2.6条和 按本规范5.2.1条至 成电路HTL电路测 25下的静态特性 10.1条 5.2.6条 试方法的基本原理》 A3a分组 Tanb按本规范4.1条的最大值 最高工作温度“的静 GB 3440 条件：同A3分组 同A3分组 态特性 A3b分组 Tamb按本规范4.1条的最小值 最低工作温度下的静 GB 3440 同A3分组 条件：同A3分组 态特性 A4分组 按本规范5.2.7条、5.2.8条和 按本规范5.2.7条和 GB 3440 10.2条 5.2.8条 25C下的动态特性 B组—逐批 标有（D)的试验是破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定，Tsmb=25C 规范值 B1分组 GB 4589.1 按本规范第1章 尺寸 第4.2.2条及附录B B4分组 GB4590《半导体集成电 路机械和气候试验方法》 按方法b(撸焊法) 按2.5.6条 可焊性 第2.5条 B5分组 温度快速变化 &.空封器件 温度快速变化 GB4590第3.1条 温度：按严格度D 随后进行： 循环次数：10次，t=5min 电测量（同A2和 同A2和A3分组 同A2和A3分组 A3分组） 密封：细检瀚 GB4590第3.12条 按规定 32