SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T 10068 -91 电子元器件详细规范 半导体集成电路HTL电路 (一) 1991-04-08发布 1991-07-01实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 SJ/T10068-91 半导体集成电路CH2005型 双下降沿J-K触发器 Detail specificationfor electronic component Semiconductor integrated circuit-- Type CH2005 dual J-K negative-edge triggered flip-flop 本规范规定了半导体集成电路CH2005型双下降沿J-K触发器质量评定的全部内容。 本规范是参照GB5965《半导体集成电路双极型门电路空白详细规范》制订的，并符合GB 4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T12750《半导体集成电路分规范 （不包括混合电路）》的要求。 1991-07-01实施 中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准 -1- SJ/T10068--91 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据： GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路 总规范》 SJ/T10068-91 GB/T12750《半导体集成电路分规范（不包括混 合电路)》 CH2005型双下降沿J-K触发器详细规范 订货资料：见本规范第7章。 1机械说明 简要说明 外形依据：GB7092《半导体集成电路外形尺 寸》。 双极型HTL触发器 外形图：按GB7092 半导体材料：硅 封装：空封、非空封 逻辑符号、逻辑图和功能表：见本规 D型 5.3条及5.3.1条 范第11章。 J型 5.4条及5.4.1条 品种： P型 5.5条及5.5.1条 型 环境温度 号 40~+85℃ (E) 封装形式 引出端排列： 陶瓷直插(D) CH2005ED 14 黑瓷直插(J) CH2005EJ 1K 13 20 塑料直插(P) CH2005EP 1RD 2K 12 D 2RD 1CP 11 [ 2CP 1Q 2J GND 引出端符号名称见本规范第11.4条。 标志：按GB4589.1第2.5条及本规范第6 质量评定类别 章。 IIA,IB,IC 2 SJ/T10068-91 极限值（绝对最大额定值） 若无其他规定，适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 符 音 数 单 位 最 小 最 大 4. 1 工作环境温度 Tamb -40 85 c 贮存温度 4. 2 Ts 55 125 c 4. 3 电源电压 Vec 0. 5 18 V 4. 4 输入电压 Vt 18 V - 4. 5 输入电流 - -10 mA 4. 6 输出电流 lo 30 mA 电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第8章。 5.1电工作条件 若无其他规定，适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符 号 单 位 最 小 最 大 5. 1.1 电源电压 Vec 13. 5 16. 5 V 5. 1. 2 ViH 输入高电平电压 9 - 5.1. 3 输入低电平电压 Va. 6. 5 V 5. 1. 4 输出高电平电流 loH 0. 5 mA 5. 1. 5 输出低电平电流 ot. 14 mA 5.2电特性 若无其他规定，适用于全工作温度范围。 规范值 条款号 特性和条件 符号 单位 试验 最小 最大 输出高电平电压 5. 2.1 Vcc=13.5V,Vm=9V,Vn.=6.5V VoH 11. 5 V A3 IoH=-0.5mA 输出低电平电压 5. 2. 2 Vcc=13.5VV=9V,Vu=6.5V VoL 1. 5 V A3 lol=14mA JK 6 输入高电平电流 5. 2. 3 Rp H 18 μA A3 Vec=15V,VH=16.5V CP 12 3 SJ/T 10068-91 续表 规范值 条款号 特性和 条件 符号 单位 试验 最 小 最 大 J、K 1. 4 输入低电平电流 5. 2.4 Rp In 2.8 mA A3 Vec=16. 5V, Vu.=1.5V CP 1. 4 输出短路电流 5. 2. 5 los -18 mA A3 Vce16.5V 输出高电平时电源电流 5. 2. 6 IccH 20 mA A3 Vcc=16.5V 输出低电平时电源电流 5. 2.7 Iect. 20 mA A3 Vc:=16.5V 传输延迟时间 trLH 390 Vcc=15V,Tamb=25C,Vmm15V 5. 2. 8 f500kHz，g=50%,tr≤15ns A4 ns t/≤15ns,VxEp=7.5V,Cz=80pF trH. 180 Rz=1.8kn 6标志 器件上的标志示例： 认证合格标志(适用时) 型号 CH2005ED 引出端识别标志 8915 MA 一质量评定类别 制造单位商标 检验批识别代码 若受器件尺寸限制，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。 7订货资料 a. 产品型号； b.详细规范编号； c.质量评定类别； d.其他。 - 4 SJ/T10068—91 试验条件和检验要求 8 抽样要求：根据采用的质量评定类别，按GB/T12750第9章的有关规定 A组检验的抽样要求 AQL 分 组 1类 1类 IL. AQL IL AQL A1 0. 65 - 0. 65 A2 0. 1 0. 1 A3 0. 15 1 0. 15 A3a S4 1. 0 S4 1. 0 A3b ts 1. 0 S4 1. 0 A4 S4 1. 0 S4 1. 0 B组、C组和D组检验的抽样要求 LTPD 分 组 1类 1类 A B c B1 15 15 15 15 C1 20 20 20 20 15 15 15 15 B4 10 10 10 10 B5C5 10 10 10 10 C6 20 20 20 20 C7 15 15 15 15 B8 C8 10 5 7 10 c9 15 5 7 15 C11 20 20 20 20 B21 20 10 10 15 C23 20 10 15 20 C24 20 10 15 20 D8 10 5 7 10 SJ/T10068--91 A组逐批 全部试验均为非破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 条件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定，Tamb=25℃ 规范值 A1分组 GB 4589.1 标志清晰，表面无损伤 外部目检 第4.2.1.1条 和气孔 A2分组 按本规范5.2.1条、5.2.2条和按本规范5.2.1条、 25℃下的功能验证 11.3条 5.2.2条和11.3条 GB3440《半导体集 A3分组 按本规范5.2.1条至5.2.7条和 按本规范5.2.1条至 成电路HTL电路测 25℃下的静态特性 10.1条 5.2.7条 试方法的基本原理》 A3a分组 Tamb按本规范4.1条的最大值 最高工作温度下的静 GB 3440 同A3分组 条件：同A3分组 态特性 A3b分组 Tamb按本规范4.1条的最小值 最低工作温度下的静 GB 3440 同A3分组 条件：同A3分组 态特性 A4分组 GB3440 按本规范5.2.8条和10.2条 按本规范5.2.8条 25℃下的动态特性 B组逐批 标有(D)的试验是破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定，Tanb=25C 规范值 B1分组 GB 4589.1 按本规范第1章 尺寸 第4.2.2条及附录B B4分组 GB4590《半导体集成电 可焊性 路机械和气候试验方法》 按方法b(槽焊法) 按2.5.6条 第2.5条 B5分组 温度快速变化 a.空封器件 温度快速变化 GB4590第3.1条 温度：按严格度D 随后进行： 循环次数：10次，t=5min 电测量（同A2和A3 同A2和A3分组 同A2和A3分组 分组)