SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T 1006291 电子元器件详细规范 PIN40A、PIN40B 和 PIN40C 型 硅微带PIN开关二极管 PIN62A、PIN62B、PIN62C 和 PIN62D型硅PIN开关二极管 1991-04-08发布 1991-07-01实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 PIN40A、PIN40B和PIN40C型 SJ/T10062—91 硅微带PIN开关二极管 Detail specificationforelectroniccomponents Microstric silicon switching PIN diodes fortypesPIN40A,PIN40BandPIN40C 本标准适用于PIN40型硅微带PIN开关二极管，它是按照GB12562《PIN二极管空白详 细规范》标准制订的，符合GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12560 《半导体器件分立器件分规范》的1类要求。 中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准 1991-07-01实施 SJ/T 10062-91 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的根据：GB4589.1《半导体器件分立器件和集 SJ/T1006291 成电路总规范》和GB12560《半导体器件分立器件分规范》 PIN40A、PIN40B和PIN40C型硅微带PIN开关二极管详细规范 订货资料，见本规范第7章。 2简略说明 1机械说明 PIN二极管 外形图 半导体材料：硅 封装：微带-环氧(非空腔） 应用：天线开关、移相、电调衰减、调制等。 0. 05 2" 22min 质量评定类别 I类 4 参考数据： V(Hx)≥300V Ciot ≤0. 8pF(PIN 40A) ≤0. 6pF(PIN 40B) ≤0. 4pF(PIN 40C) r≤1.00 尺寸单位：mm SJ/T10062—91 4极限值（绝对最大额定值） 除非另有规定，这些极限值在整个工作温度范围内适用。 数 值 条文号 参数名称 符号 单位 最小值 最大值 4.1 Tamb 55 150 工作环境温度 4. 2 贮存温度 T'sig 55 150 击穿电压 V(ax) 300 V 4. 3 4.5.. 耗散功率 4. 5. 2 最高有效(等效的)结温 Tvp 150 c 耗散功率 200 mw P 5电特性（对检验要求见本规范的第8章） 特性和条件 数 值 试验 符号 条文号 （见总规范的第4章） 单位 组别 Tamb=25℃ 最小值 最大值 反向电流 A2b 5.1 1. 0 HA Vx=200V 5. 2 反向电流 I x2 10 μA C2b Vx=200V.Tamb=100℃C 5. 3 正向电压 Vr 1. 0 V A2b 1μ=100mA 5. 4 总电容 Clot A2b V=100V,f=1MHz PIN 40A 0. 8 pF 0. 6 pF PIN 40B PIN 40C 0. 4 pF 5. 5 反向恢复时间 1. 0 trr μs A3 lp=20mA,l=200mA 5. 7 正向微分电阻 1. 0 A2b r Ip=100mA,f=10kHz 5. 8 申联电感1 Ls 0. 2 nH 5. 10 封装电容1 Cp 0.1 pF 5. 11 热 R(ab)-. 0.625 C/mw 注：1) 典型值，不作检验用。 6标志 6.1每个器件均放在有参数卡的小包装袋内，参数卡上应有下列资料： 6.1.1完整的器件型号。 6.1.2与外形图相对应的极性识别符号()。 6.1.3质量评定类别标记（应放在型号后面，如PIN40AI）。 6.1.4检验批识别代码。 SJ/T10062—91 6.2包装箱上的标志 6.2.1重复参数卡上的器件型号、类别标记和检验批代号。 6.2.2标上“怕湿”等字样。 6.2.3制造厂商标。 7订货资料 订货单上应有下列内容： 7.1准确的型号。 7.2订货数量。 7.3本规范编号。 7.4对器件的其它要求。 8试验条件和检验要求 8.1在本章中，除非另有规定，引用的条文号对应于GB4589.1的条文号；测试方法引自 GB6570《微波二极管测试方法》。 8.2器件构成A组、B组检验批的时间可以为一个月。 试验条件和检验要求见下表。 A组—逐批 全部试验都是非破坏性的（3.6.6） 检验要求 条 件 检验或试验 引用标准 Tamb=25℃ 数 值 单位 （见总规范的第4章） 最小值 最大值 LTPD A1分组 15 外部检验 4. 2.1.1 A2a分组 0.7 不工作器件 极性颠倒； I u! GB6570,6.2 V=200V 1x≥100 μA 或 Vr GB6570,6.3.1 Ip=100mA Vr≥10 A2b分组 3 Ix1 GB6570,6.2 Vx=200V 1. 0 μA Ciot GB 6570,8.2 V=100Vf=1MHz PIN40A 0. 8 pF PIN40B 0. 6 pF PIN40C 0. 4 pF Vr GB 6570,6.3.1 Ip=100mA 1. 0 V GB 6570,8.3 Ip=100mA f=10kHz 1. 0 A3分组 GB 6570,8.5 Ip=20mAIs=200mA 1. 0 AS SJ/T10062-91 B组逐批 标注(D)的试验是破坏性的(3.6.6) 检验要求 条 件 检验或试验 引用标准 Tamb=25°℃ 极 限 单位LTPD （见总规范的第4章） 最小值最大值 B1分组 4. 2.2 15 尺寸 B4分组 15 可焊性 GB4937,2.2.1) 试验1 按GB4937中 受试端数：2 2.2.1进行检验 B5分组 20 温度变化 GB 4937,3.1 TA=-55℃T=125℃ 1=10min t2=2~3min 继之以 循环次数：5次 交变湿热(D) GB2423.4 试验Db 严格度：55℃2d 降温阶段相对湿度≥80% 最后测试： 应在试验后的4h内测完所 有规定的参数 同A2b分组 按A2b分组 同A2b分组 B8分组 10 电耐久性 本规范10.2 Vg100V，lrm=50mA 时间168h 最后测试： Ix1 Vs=200V GB6570 6.2 2. 0 μA lp=100mA f=10kHz 1. 2 a GB 6570 3.4 r CRRL.分组 B4、B5和B8分组的属性资料 注：1)GB4937《半导体分立器件机械和气候试验方法》。 2)GB2423.4《电工电子产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法》。 SJ/T10062—91 C组周期 标注(D)的试验是破坏性的(3.6.6) 检验 要求 条 件 检验或试验 引用标准 Tamb=25℃ 极 限 单位LTPD （见总规范的第4章） 最小值 最大值 C1分组 30 尺寸 4. 2. 2 C2b分组 15 IR2 GB 6570,6.2 Tamb100℃ 10 μA Vx=200V C3分组 15 引出端强度 拉力(D) GB4937,2.1.1 拉力=1N 受试端数：2 无损伤 C4分组 15 耐焊接热(D) GB4937,2.2.2 方法1A 浸润时间：10士1S 恢复时间：30min 最后测试： Ixi GB 6570.6.2 Vx=200V 1. 0 MA r GB6570.8.3 ly=100mAf=10kHz 1. 0 n C7分组 20 交变湿热(D) GB 2423.4 试验Db 严格度：55℃，6d 应在试验后的4h内测完 所有规定的参数 最后测试： 同A2b分组 同A2b分组 同A2b分组 C8分组 10 电耐久性 本规范10.2 Vx=100VIrm=50mA 时间1000h 最后测试： 同B8分组 按B8分组 同B8分组 C9分组 15 高温贮存(D) T sig=150C GB 4937 3.2 时间1000h 最后测试： 同B8分组 按B8分组 同B8分组 CRRL分组 C3、C4、C7和C9的属性资料：C8试验前后的测量数据 -6-