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中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54LS138/CT74LS138 型3线一8线译码器 SJ/T 1004591 Detail Specification for electronic components Semiconductor integrated circuit CT54LS138/CT74LS1383-to-8line decoder 本规范规定了半导体集成电路CT54LS138/CT74LS138型3线一8线译码器质量评定的 全部内容。 本标准符合GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB/T12750《半导 体集成电路分规范(不包括混合电路)》的要求。 中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准 1991-07-01实施 SJ/T1004591 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据: GB4589.1《半导体器件分立器件和 SJ/T10045-91 集成电路总规范》 GB/T12750《半导体集成电路分规范 (不包括混合电路)》 CT54LS138/CT74LS138型3线-8线译码器详细规范 订货资料:见本规范第7章。 1机械说明 2简要说明 外形依据:GB7092《半导体集成电 双极型译码器电路 路外形尺寸》。 半导体材料:硅 外形图:GB7092 封装:空封、非空封 D型 5.3条及5.3.1条 逻辑图、功能表:见本规范第11章。 品种: J型 5.4条及5.4.1条 P型 5.5条及5.5.1条 型号 环境 F型 5.1条及5.1.1条 0~70℃ 温度 55~125℃ 封 (C) (M) 引出端排列: 装形式 陶瓷直插(D) CT54LS138MD A by. A.D 黑瓷直插(J) CT74LS138CJCT54LS138MJ A,C by 14 塑料直插(P) CT74LS138CR ST. 13bz 26Y ST.D 多层陶瓷扁平(F) 15 12 CT54LS138MF ST.6 106y, gby GND8 引出端符号名称见本规范第11.1 条。 标志:按GB4589.1第2.5条及本 质评定类别 3 规范第6章。 I,IA,IB,IC SJ/T10045-91 极限值(绝对最大额定值) 若无其他规定,适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符号 位 最小 最大 54 55 125 4. 1 工作环境温度 Tamb r 74 0 70 4. 2 存温度 Tstg 65 150 4. 3 电源电压 Vec 7 4. 4 输入电压 Vi 7 V 多发射极晶体管 4. 5 Vn 5.5 V 输入端间的电压 5电工作条件和电特性 电特性的检验要求见本规范第8章。 5.1电工作条件 若无其他规定,适用于全工作温度范围。 数 值 条款号 参 数 符 号 单 位 最 小 最 大 54 4. 5 5. 5 5. 1. 1 电源电压 Vec V 74 4. 75 5. 25 5. 1. 2 输入高电平电压 ViH 2 V 54 0. 7 5. 1. 3 输入低电平电压 Vu. v 74 0. 8 5. 1.4 输出高电平电流 loH -400 μA 54 4 5. 1. 5 输出低电平电流 lot. mA 74 00 5.2电特性 若无其他规定,适用于全工作温度范围。 SJ/T10045-91 规范值 条款号 特性和条件" 单位 试验 最 小 最大 54 2. 5 输出高电平电压 A3 5. 2.1 V=最小 VH=2V VoH V A3a 74 2.7 Vn=最大 1oH=400μA A3b 54 lo=4mA 0. 4 输出低电平电压 A3 5. 2. 2 Vcc=最小V=2V VoL lot= 4mA 0.4 A3a 74 Va=最大 A3b loL=8mA 0. 5 A3 输入钳位电压 5. 2. 3 Vik -1. 5 V A3a Vcc=最小 Ix=18mA A3b A3 输入高电平电流 5.2.4 20 μA A3a Vcc=最大 VH=2.7V A3b A3 输入低电平电流 5. 2. 5° Int. 0. 4 mA A3a Vcc=最大Vu=0.4V A3b A3 最大输入电压下的输入电流 5. 2. 6 0. 1 mA A3a Vcc=最大V,=7V A3b 54 -6 -40 A3 输出短路电流 5. 2.7 los mA A3a Vcc=最大 74 -5 -42 A3b 电源电流 A3 5.2. 8 Vec=最大 :输出端开路 ecc 10 mA A3a ST、ST:接4.5VSTA接地 A3b tPLH 18 A4 ST..STY ns tPHL 32 传输时间 H'idy 26 STA→Y Ct=15pF tPHI. 38 5. 2. 9 Rz=2kn 20 tPLH Vcc=5V A→Y2级门 tpHI. 41 Tamb=25C trLH 27 A→Y3级门 tPHL 39 注:1)条件中“最大”或最小"指的是5.1条规定的值。 SJ/T 10045-91 6标志 器件上的标志示例: 认证合格标志(适用时) 口 CT74LS138CP 型号 引出端识别标志 口 MA 质量评定类别 8916 制造单位商标 检验批识别代码 由于器件尺寸的限制,允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。 7订货资料 若无其他规定,订购器件至少需要下列资料: a.产品型号; 详细规范编号; c. 质量评定类别; d.其他。 试验条件和检验要求 抽样要求:根据采用的质量评定类别,参照GB/T12750第9章的有关规定。 A组检验的抽样要求 AQL 组 I类 1类 IL AQL IL AQL A1 1 0. 65 1 0. 65 A2 1 0. 1 1 0. 1 A3 1 0. 15 - 0. 15 A3a S4 1. 0 S4 1. 0 A3b S4 1. 0 S4 1. 0 A4 S4 1. 0 S4 1. 0 SJ/T10045—91 B组、C组和D组检验的抽样要求 LTPD 组 I类 1类 A B c B1 15 15 15 15 C1 20 20 20 20 C2b 15 15 15 15 B3C3 15 15 15 15 B4C4 10 10 10 10 B5C5 10 10 10 10 C6 20 20 20 20 C7 15 15 15 15 B8C8 10 5 7 10 c9 15 5 7 15 C11 20 20 20 20 B21 20 10 10 15 C23 20 10 15 20 C24 20 10 15 20 D8 10 5 7 10 A组逐批 所有试验均为非破坏性的 条 件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定,Tamb=25℃ 规范值 (见GB4589.1第4.1条) A1分组 GB 4589.1 标志清晰,表面无损 GB4589.1第4.2.1.1条 外部目检 第4.2.1.1条 伤和气孔 A2分组 按本规范5.2.1条、5.2.2条和 按本规范5.2.1条、 25℃下的功能验证 11.3条 5.2.2条和11.3条 GB3439《半导体集 A3分组 按本规范5.2.1条至5.2.8条和 按本规范5.2.1条至 成电路TTL电路测 25℃下的静态特性 10.1条 5.2.8条 试方法的基本原理》 SJ/T10045-91 A组一 一逐批(续) 条件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定,Tamb=25℃ 规范值 (见GB4589.1第4.1条) A3a分组 Tamb按本规范4.1条规定的最 最高工作温度下 GB 3439 大值。条件:同A3分组 同A3分组 的静态特性 A3b分组 Tamb按本规范4.1条规定的最 最低工作温度下 同A3分组 GB 3439 小值。条件:同A3分组 的静态特性 A4分组 GB 3439 按本规范5.2.9条和10.2条 按本规范5.2.9条 25℃下的动态特性 B组—逐批 标有(D)的试验是破坏性的 条件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其他规定,Tamb=25℃ 规范值 (见GB4589.1第4.1条) B1分组 GB 4589.1 按本规范第1章 尺寸 第4.2.2条及附录B GB4590《半导体集成电 B4分组 路机械和气候试验方法》 按方法b(槽焊法) 浸润良好 可焊性 第2.5条 B5分组 温度快速变化 a.空封器件 GB4590第3.1条 温度按本规范第4.2条规定 温度快速变化 循环次数:10次 随后进行: 电测量 同A2、A3分组 同A2、A3分组 密封:细检漏 GB4590第3.12条 按规定 粗检漏 GB4590第3.13条 按规定 b.非空封和环氧封的 GB4590第3.1条 温度按本规范第4.2条规定 空封器件 温度快速变化 循环次数:10次 随后进行: GB 4589.1第4.2.1.1 按规定 外部目检 同A1分组 条 稳态湿热 GB4590 第3.7条 严格度A 时间:24h 电测量 同A2和A3分组 同A2和A3分组

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