TB 中华人民共和国机械行业标准 JB/T 2542-91 光学计量仪器用光学机械测微装置 通用技术条件 1991-07-16发布 1992-07-01实施 机械电子工业部发布 中华人民共和国机械行业标准 光学计量仪器用光学机械测微装置 JB/T 2542---91 通用技术条件 代JB2542-79 1主题内容与适用范围 本标准规定了光学机械测微装置（以下简称装置）的某本参数、技术要求和试验方法。 本标准适用丁光学计量仪器用的线值和角值光学机械测微装置。不适用于自准直系统的测微装置。 在产品技术标准、订货合同或者其它文件中引用本标准则必须执行。必要时，可将所须引用部分的 条款写入产品技术标准及其它文件。 2引用标准 GB1784 光学分划零件通用技术条件 GB1785 光学仪器字型和符号 GB1185 光学零件表面症病 ZBY002 仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法 3基本参数 3.1 基本参数应符合表1中的规定。 表1 线 值 角 值 序 名 称 μm (") 号 要 求 最小分则值 10,5,2,1，0.5 10,5,2,1 测范均 1000 3600 4'技术要求 4.1装暨在整机中应美观，并需保证下列质量： a. 电镀表面不应有脱皮； b. 漆面不应有油漆脱落现象和显著的颜额色不均勾； C，零件表面不应有毛刺，外部零件锐边应倒棱； d，外部零件接合处应齐整，无粗糙不平现象。 4.2装置的所有紧固零件应保证固紧可靠。 4.3装罩的各活动部分在转动和移动时应平稳舒适，不应有卡住和急跳现象。活动部分的限位机构的作 用应明显可靠。 机械电子工业部1991-07-18发布 1992-07-01实施 J JB/T 2542-91 4.4 装置上的所有刻线、刻字应清晰，刻线刻字的技术条件应符合GB1784和GB1785的规定。 4.5光学零件的表面疵病应符合GB1185的规定。胶合光学零件的胶合面不应有气泡和脱胶现象。 4.6 测微光学系统应保证在读数范围内成象清晰。 读数视场的照明应均匀，亮度要适中。 4.8 读数视场内不应有明显的和影响测量的灰尘和污物。 4.9 读数视场内指标线与分划线不应有明显的视差。 4.10 读数视场内，指标线与相应的分划线不应有明显的和影响测量的倾斜现象（或符合设计要求）。 装置的主要技术指标应符合表2中的规定。 4.11 表2 划值 序 线 值 角 值 ("") 名 称 要 10 5 2 - 0.5 1级 2级 1级 2级 3级 装置准确度 8 0.6 0.6 2 6 与装置利匹配的物镜放 2 大准的证确生 3 0.7 0.5 0.7 0.3 0.5 装置反向读数的不。 3 致性≤ 2.5 5 0.5 0.3 0.5 0.3 1 3 0.5 4.12 装置在整机中的抗运输环境性能，在包装运输条件下，应符合ZBY002中的规定。 4.13 对于本标准未作规定的特殊要求，在产品技术标准和其它技术文件中引用时应注明。 5试验方法 5.1 试验的环境条件应符合被试测微装置整机产品技术标准中规定。 5.2对本标准第4.1、4.6、4.7、4.8、4.9和4.10条进行目测检验。 5.3对本标准第4.2和4.3条进行实际操作检验。 5.4本标准第4.11条表2中序号1，装置准确度。 5.4.1试验工具 5·4·11对线倬的测微装置试验，一般使用下述试验工具： a.尺寸为1.00、1.02、1.04、1.06,1.08,1.10、1.20、1.30、1.40、1.50、1.60、1.70、1.80、 1.90、2.00mm的三等量块， b．分划值为1um的光学计管和专用夹具（用于非接触测量类仪器，如：测量投影仪、工具显微 镜等）。 C，带有三珠工作台的专用夹具（用于非接触测量类仪器。如测量投影仪、工具显微镜等）。 2 JB/T2542---91 5·4·！·2对角的测微整置试验，一般使用下述试验工具： a. 多面体或平面反射镜； b：专用心轴或平面反射镜专用夹具 C.1 自准直仪：对自准直仪中所用到的位暨，其误差应预先进行检定，检定极限误稳不应大于被 试读数装暨准确度的四分之一。 5·4·2试验方法 5·4·2·1对线值测微装暨的试验，很据被试仪器的测量方法，一般按下述方法进行试验： 被试测微装暨的整机是接愈测量时，如：万能测长仪。在测量杆装上球面测帽，移动测量 a. 输，使两球面测增相接触，借助感管上的调整螺丝，将球面测帽调整至正确位置。将尺寸为100mm的 量块放入两球面测帽之间，调整测微装罩和尾管，使测微装置对准零位。然后依次用5·4·1·1条中a项所 列的14块量块放入两球间测留之间，并依次地使双刻线与毫米分划尺的同一刻线对准并读数。每一点应 进行四次对准和读数，取其算术平均值作为该点的测得值。任意两点的误差的代数差，均不应超过本标 准的规定。 b：被试测微装置的整机是非接触测极时，如：测量投影仪、工具显微镜等。将带有光学计管的 专用夹具安装在镜简上，带有三殊工作台的专用夹具安装在被试测微装置整机的工作台上，使光学计管的 轴线与工作命滑座行程（被试方向）平行，尽可能靠近整机被试方向的标准器：并使光学计管球面测帽 中心对在三珠工作台三个钢珠间，（测帽中心应与三个钢球所决定的平面垂直），然后用5·4·1·1 条中a项所列的15块度块对被试测微装置上0、20、40、60、80、100、200、300、400、500、600、700、 800、900、1000um的15个点进行检验。每一点进行四次瞄准和读数，取其算术平均值作为该点的测得 值。任意二点的误差的代数差，约不应超过木标准的规定。 试验应准测微装贸的正、反行产上进行。并应分别达到本标准规定。 5·4·2·2对角值测微装望的试验，借助专用心轴成者平面反射镜的专用夹具，将多面体或平面反射镜 同定在被试测微装置整机上，便多面体或平通反射镜的工作面中央的法线大致通过整机的回转中心，用 自准斯仪对准工作面。然后用与自准直仪相比较的方法，对测微装置中秒分划不少于4个位置，分分划不 少于6个位置上进行试验，如分分划范阖超过自准直仪测量范围，则采用首聪相接分段测量，试验时在 自准直仪上进行读数，绿一位照上进行国次瞄准和读数，取其算术平均值作为该位置的测得值。任意二 点的误差的代数差，均不应超过本标准的规定。 5·5本标准第4·11系表2中序号2，与装置相匹配的物镜放大率的正确性。 5·5·1试验工具。 对角值测微装置的试验工具同第5+4·1·2条。 5·5·2试验方法 5·5·2·1对线值装置暨的试验方法 将测微装置中微米分划尺对在零位上，使毫米分划尺上任一条毫米分划线对在第一对双刻线的正叫 间。再观察相邻另条慈米分则线，是否在第十一对双刻线的正中间，若不在正中间，则读出其误差。 检验工作应在避米分划尺连续无个位暨上测出其误差，放大率误△β按下式计算求得； 5 式中：Aβi——所测出的误举，i=1，2，5; 公，△。-所用到的六条癌米分划线中的第一条和第六条分划线相对于离米分划尺零线的偏差 值。 JB/T2542-91 5·5·2·2对角值装置的试验方法 借助夹具将多面体或平面反射镜固定在被试装暨整机上，使多面体或平面反射镜工作面中央的法线 大致通过整机的回转中心，用自准直仪对准工作面，将秒分划线对在任意位置上，使整机上标准器的任 一度分划线对在分分划线第一对双线的正中间，同时在自准直仪中读数，然后再使标准器上相邻的另一条 度分划线对准分分划线最后一对双线的正中间，再次在自准直仪中读数，两次读数之差值即为放大率正 确性。 试验工作应在整机标准器上均匀分布的四个位暨上进行，以四个位置差值的平均值作为测得值。 5·6本标准第4·11条表2中序号3，装置正反向读数的不一致性。 5·6·1试验工具 对角值测微装置的试验工具同第5·4·1·2条 5·6·2试验方法 5·6·2·1对线值装置的试验方法 在测微装置中对准毫米分划尺上任一刻线，正、反方向各对准四次并读数，正方向四次读数的算术 平均值和反方向四次读数的算术平均值之差不应超过木标准的规定。 5·6·2·2对角值装置的试验方法 借助夹具将多面体或平而反射镜固定在被试装置整机上，使多而体或平面反射镜工作面中央的法线 大致通过整机的回转中心，用自准直仪对准工作雨，在测微装置中对准整机标准器上任一刻线，将整机 按正方向绕回转中心转动一周，仍对准在整机标准器的同一刻线上，用自准直仪瞄准工作面而读得一读 数，再将整机标准器继续按正方向转动一较小角度，然后按反方向转动对准在同一刻线上，从自准直仪 中又读得一读数，按上述同样方法，对整机标准器按反方向转动一周进行试验，得到自准直仪4个读数， 其最大差值为装置正反向读数的不一致作。 对最小分划值不超过5"的测微装置应按上述方法试验三次，以舒次最大差值的平均值作为测得值。 附加说明： 本标准由贵阳光电技术研究所负责起草并归口。 本标准自实施之日起 JB2542-79光学计氧仪器用光学机械测微装置通用技术要求》作废。 4 中华人民共和园 机械行业标准 光学计量仪器用光学机械测微装置 通用技术条件 JB/T 2542--91 * 机械电子工业部标准化研究所出版 （北京管体南路） 机械工业标准印刷厂印刷 （湖南长沙） 机械工业标准发行站发行 (湖南长沙市望城坡) * 开本880×12301/16 印张0.5字数8000 1992年3月第-·版1992年3月第一次印刷 印数1~2000 定价1.50元 中华人民共和园 机械行业标准 光学计量仪器用光学机械测微装置 通用技术条件 JB/T 2542--91 * 机