1CS 27. 120 EJ Z 33 备案号：19520-2007 中华人民共和国核行业标准 EJ/T1204.2-—2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量 Determination of the detection limit and decision threshoid for ionizing radiation measurements Part 2: Counting measurements with allowance for the influence of sample treatment （IS011929.2:2000,IDT） 2006—12-15发布 2007—05—01实施 国防科学技术工业委员会发布 EJ/T1204.2—2006 目次 前言 II 范围 规范性引用文件. 术语和定义. ? 4 符号 .2 统计值和置信区间， 3 5.1原理. 3 5. 2 判断阅， 5. 3 探测限. 置信区间： 6应用（参见附录A） 6.1指定值 4 6.2 测量方法的评价.. 5 6.3测量结果的评定， 5 6.4报告 5 附录A（资料性附录）应用举例：包含化学分离时土壤中"Sr的测定 10 A.1概述.. 10 A.2样品处理的变异系数已知... 10 A.3样品处理的变异系数未知. 12 参考文献， 14 EJ/T1204.22006 前言 本部分是核行业标准《电离辐射测量探测限和判断阅的确定》中的第2部分，本部分涉及在样品经 处理（如分样、溶解、浓缩、分离）后，对样品的事件（特定脉冲）进行计数的电离辐射测量领域。 本部分除考虑放射性衰变和脉冲计数随机特性外，还考了由样品处理（如称重、浓缩、测试设备的 校准和不稳定性）引起的所有其它影响。 通常能够假设该类测量的结果服从混合泊松分布。混合泊松分布的特殊类型为负二项分布[1，3， 8]。 本部分假设样品和空白样品的计数结果服从负二项分布。如果样品处理的影响和测试设备的不稳 定与计数统计误差相比较小时，其结果可能为泊松分布。在这种情况下，只要统计检验显示泊松分布 不能被拒绝时，就能够使用本标准第1部分的统计量规范。 本部分也假设测时间与所涉及的放射性核素的半衰期相比很短，且仪器的死时间损失可忽略。 本部分与GB/T17947-2000《再循环、再利用或作非放射性废物处置的固体物质的放射性活度测 量》，本标准的第1部分、第3部分和第4部分等文件互为补充。 本标准目前由以下四个部分组成： 第1部分：忽略样品处理影响的计数测量： 第2部分：考患样品处理影响的计数测量； 第3部分：忽略样品处理影响的高分辨Y能谱法计数测量： 第4部分：忽略样品处理影响的线性标度模拟率表测量。 本部分等同采用国际标准化组织的正式国际标准IS011929.2-2000《基本原理及在考思样品处理 影响的计数测量中的应用》（英文版），本部分的技术内容与所采用的国际标准IS011929.2-2000完 全一致，只做了少量的编辑修改。具体修改内容为： —一去掉了原国际标准的“引言”部分； -在条文编号和编写格式上按照GJB6000-2001的规定进行了调整。 本部分的附录A为资料性附录。 本部分由中国核工业集团公司提出。 本部分由核工业标准化研究所归口。 本部分起草单位：中国原子能科学研究院。 本部分主要起草人：魏可新、李景云。 II EJ/T1204.2--2006 电离辐射测量探测限和判断阈的确定 第2部分：考虑样品处理影响的计数测量 1范围 本部分使用统计学方法规定了两个表征着给定错误概率的统计值，用以评估考虑样品处理影响的 电离辐射测量中的探测能力。 本部分适用于考虑样品处理影响的计数测量。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方 研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T3358.1~3358.3统计学术语 3术语和定义 GB3358.1～3358.3确立的以及下列术语和1定义适用于本部分。 3.1 判断阙decisionthreshold 在原假设p，=P和备择假设p，>Po之间进行判断的统计检验的临界值。 注：存在一个值R，，当所确定的值R，超过R，时表示原假设应当被拒绝。统计检验的设计应是假设被错误拒绝（第 一类错误）的概率等于测量前事先确定的值α。 3. 2 探测限detectionlimit 以给定概率可探测到的净计数率的最小期望值，即在原假设P，=P。和备择假设p,>P。之间作选 择判断的统计检验相关的最小差值p,=P-P。其特性是，如果事实上p≥p,，假设p=P。错误 的没有被拒绝（第二类错误）的概率应最多等于测量前事先确定的值β。 注：使用判断阅和探测限的差别在于使用判断阅时要与测量值相比较，而使用探测限时要与指导值相比较。 3. 3 置信区间confidenceinterval 在所有情况下，至少以(1-）×100%的概率包含真值Pn的区间。 3.4 样品sample 需通过电离辐射测量来确定放射性核素含量的某种物质的全部或等分试样。 3. 5 空白样品blank 与样品具有相似特性的某种物质的等分试样，与样品使用相同方法处理和测量。 3.6 本底效应backgroudeffect 测量到的来自空白样品、外部源及探测器和屏蔽体内部的放射性核素辐射的计数率。 1 EJ/T1204.2—2006 3. 7 总效应grosseffect 测量到来自样品的计数率（样品贡献）和本底辐射的计数率。 3. 8 净效应（样品贡献）neteffect 总效应减去本底效应。 3. 9 指导值guidelinevalue 基于科学、法律或其它原因对测量程序的需求所规定的值，例如放射性活度、放射性浓度、剂量率 等。 注：如有必要，还可以是利用放射性参考标准确定的校准因子。 4符号 以下符号适用于本部分。 var—方差； ng—测量的空白样品个数； nm——测量的掺标空白样品个数； n,-测量的样品个数; 在设备中即无空白样品也无样品的测量次数，在本部分的示例中指在测量设备中使用相同 量的去离子水代替闪烁液中的锶溶液的外部本底测量次数； -测到的第1个空白样品脉冲计数； 一测到的第i个掺标空白样品脉冲计数； Nsi- -测到的第i个样品脉冲计数； 在设备中即无空白样品也无样品时，第1次测量的脉冲计数，在本部分的示例中指在测量 设备中使用相同量的去离子水代替闪烁液中的锶溶液所测量到的外部辐射时第i次脉冲计 数； 测量空白样品的时间，单位为秒（s)； to- 测量样品的时间，单位为秒（s)； t,- 测量掺标空白样品的时间，单位为秒（s）； tm 在设备中即无空白样品也无样品的测量时间，单位为秒（s)； Ro,i 本底效应即空白样品计数率，在预置的时间t。内计到的脉冲数N。与测量时间t。的商，即 Roi=Noi/to，单位为秒分之一（s-"); Ri 总效应计数率，在预置的时间t,内计到的脉冲数N，与测量时间t,的商，即Rs，=Ns/t，， 单位为秒分之-（s-"); Rmi一一掺标本底计数率，在预置的时间tm内计到的脉冲数N，与测量时间tm的商即 Rm=Nm/tm，单位为秒分之（s")； Ru. 在预置的时间t,内计到的脉冲数N,与测盘时间t的商，即Ru=Nu./t，在本部分的示 例中指在测盘设备中使用相同量的去离子水代替液闪样杯中的锶溶液所测量到的外部辐 射计数率，单位为秒分之一（s-") R。——所有 Ro,的平均，单位为秒分之一（s-"); R,—所有R,的平均，单位为秒分之一（s"); R所有R的平均，单位为秒分之（s-"); 2 EJ/T1204.2--2006 R—所有R.的平均，单位为秒分之一（s-") RR=R-R。，单位为秒分之-（s-); P。—所有Ro,的期望值，单位为秒分之（s-"); P—所有Rs,的期望值，单位为秒分之一（s"); Pm——所有Rm的期望值，单位为秒分之一（s-"); Pu所有R的期望值，单位为秒分之一（s-"); P,—所有Rn的期望值，单位为秒分之—（s-"); R,—净计数率R,的判断，单位为秒分之—（s~") P,—净计数率期望值R,的探测限，单位为秒分之（s); —所有Ro,的方差； o所有R,,的方差; s-—样本方差，R方差的估计值： 一第一类错误；当原假设成立时，拒绝原假设p，=P。而接受备择假设p>P。的概率； -0 β-第二类错误；当原假设不成立时，接受原假设p，=P。而拒绝备择假设，>P的概率； 1-P,置信区间的置信水平； 6考虑样品处理影响和设备不稳定所带来误差的相对标准偏差； ki-α—标准正态分布分位数； ki-B-标准正态分布分位数； ki-r/2-——标准正态分布分位数; 5统计值和置信区间 5.1原理 5.1.1概述 判断阅、探测限统计值的定义和置信区间是以测量结果的方差为基础的。它们取决于计数统计、测 量设备不稳定性和样品处理所引起变化的合成。测量设备的不稳定性与其它影响比较一般较小，所以通 常可以忽略。计数统计的影响可由泊松公式计算。描述样品处理贡献的参数可通过特定掺标空白样品实 验、实验经验或给定的实验结果方差（这种方法的效果差一些）确定。 5.1.2模型 如果设备的不稳定性可以忽略，可使用以下模型。空白样品的脉冲计数N。是本底辐射（外部源和 探测器噪声）和基质辐射的总和。 样品的脉冲计数