ICS 33.160.25 SJ CCS M74 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 11961.1—2025 超高清视频显示屏幕缺陷检测系统 技术规范 第1部分：通用要求 Technical specification for UHD display defect detection systems -Part l: General requirement (报批稿) 20**-**-**发布 20**-**-**实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T11961.1—2025 目次 前言 II 1范围. 2规范性引用文件 3术语和定义 4缩略语... 5检测系统架构、 6检测系统功能要求 6.1交互界面.. 6.2操作模式... 6.3系统配置... 6.4系统诊断... 6.5远程维护 6.6图像采集.. 6.7图像处理 6.8数据分析 6.9互联互通 6.10滤尘.. 6.11缺陷识别. 6.12其他功能.. 7检测系统性能要求 7.1漏检率. 7.2误检率.. 7.3准确性. 7.4一致性.. 8检测设置与判据.. 8.1标准检测条件.. 8.2检测系统设置... 8.3判据.. 附录A（资料性）显示屏缺陷类型及分类 附录B（资料性）子像素缺陷. SJ/T11961.1—2025 前 創言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是SJ/T11961《超高清视频显示屏缺陷检测系统技术规范》的第1部分。SJ/T11961已发 布以下三个部分： 一第1部分：通用要求： 一第2部分：液晶（LCD）； 第3部分：有机发光二极管（OLED）。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本文件由全国音频、视频及多媒体系统与设备标准化技术委员会(SAC/TC242)提出并归口。 本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、研祥智能科技股份有限公司、海信视像科技股份有 限公司、深圳赛西信息技术有限公司、四川长虹电器股份有限公司、浙江大华技术股份有限公司、小米 通讯技术有限公司、TCL华星光电技术有限公司、康佳集团股份有限公司、工业和信息化部电子第五研 究所、杭州海康威视数字技术股份有限公司、荣耀终端有限公司、厦门特仪科技有限公司、廊坊市珍圭 谷科技股份有限公司。 本文件主要起草人：李婧欣、庞观士、刘卫东、何超、王伟、刘露、张宏伟、曹霖、董桂官、王平 松、钟花多、郑晓航、黄卫东、罗少锋、童国炜、韦胜钰、黄林轶、闫科锋、吴术霞、王世锐、蒋若欣。 II SJ/T11961.1—2025 超高清视频显示屏幕缺陷检测系统技术规范 第1部分：通用要求 1 范围 本文件规定了超高清视频显示屏缺陷在线检测系统的架构、功能要求、性能要求、检测设置与判 据。 本文件适用于超高清显示屏模组或整机的缺陷检测系统的研制、运行与维护，其他类型显示屏整 机或模组的缺陷检测系统可参考使用。 2规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件 仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本 文件。 GB/T18910.203液晶显示器件第20-3部分：目检有源矩阵彩色液晶显示模块 GB/T26802.1工业控制计算机系统通用规范第1部分：通用要求 SJ/T11141发光二极管（LED）显示屏通用规范 3术语和定义 GB/T18910.203、GB/T26802.1、SJ/T11141界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3. 1 显示屏幕缺陷在线检测系统onlinedetectionsystemfordisplayscreendefect 用于模组和整机的显示屏幕缺陷检测和判定的系统。 3. 2 显示屏幕缺陷displayscreendefect 任何出现在显示屏幕有效显示区域内的可识别到的异常现象。 注：缺陷类型及常见分类见附录A。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2，有修改] 3. 3 子像素缺陷subpixeldefect 最小像素单元出现与预期状态不同时的缺陷， 注：出现在暗画面下的亮子像素和出现在亮画面下的暗子像素，示例见附录B。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.1] 3. 4 亮子像素缺陷 bright subpixel defect SJ/T11961.1—2025 当显示暗态图像时，屏幕上呈现亮态的缺陷。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.2] 3.5 暗子像素缺陷 dark subpixel defect 当显示亮态图像时，屏幕上呈现暗态的缺陷。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.3] 3. 6 中间态子像素缺陷 intermediate subpixel defect 当显示亮态图像或暗态图像时，屏幕上呈现中间水平的子像素缺陷。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.4] 3. 7 聚集子像素缺陷 clustersubpixeldefect 在指定区域或指定距离范围内由不少于两个子像素的多个子像素缺陷聚集成簇的缺陷类型。 注：聚集子像素缺陷之间的最小距离示例参见附录B。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.5] 3.8 线缺陷 linedefect 当显示暗态或亮态图像时，出现的水平或垂直方向的亮线或暗线。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.6] 3. 9 亮线缺陷 bright linedefect 当显示暗态图像时，出现在屏幕上的亮线。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.7] 3.10 暗线缺陷 dark line defect 当显示亮态图像时，出现在屏幕上的暗线。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.8] 3.11 划痕缺陷 scratchdefect 在较暗的背景下能被看见的大小不发生变化的亮（白）线 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.10] 3.12 凹痕缺陷 dentdefect 2 SJ/T11961.1—2025 在较暗的背景下能被看见的大小不发生变化的亮（白）点。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.11] 3.13 异物缺陷foreignmaterialdefect 位于面板和背光单元之间的外界杂质。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.12] 3.14 气泡缺陷 bubbledefect 在粘贴偏光片或反射板时，由于液晶材料中的空隙或气体导致的缺陷。 [来源：GB/T18910.203-2021，3.2.13] 3.15 漏光缺陷 lightleakagedefect 遮光区域内机箱外壳和显示区外黑色矩阵之间能被看见的光。 3.16 云纹缺陷 muradefect 视觉上亮度或色度的不一致性导致的缺陷。 3.17 漏检率probabilityofmiss 未检出的带有显示屏幕缺陷的样品数量占当次被检测样品总数的百分比。 3.18 误检率mistakerate 无屏幕缺陷的样品被错判的数量占当次被检测样品总数的百分比。 3.19 工业控制计算机industrialcontrolcomputer 按常见工业现场条件设计，适用于工业实时检测、监视和控制应用的计算机。 [来源：GB/T26802.1-2017，3.1] 4缩略语 CCD：电荷耦合器件（Charge-CoupledDevice） CMOS：互补金属氧化物半导体（ComplimentaryMetal-OxideSemiconductor） DUT：被测试器件（DeviceUnderTest） LED：发光二极管（LightEmittingDiode） MES：制造执行系统（ManufacturingExecutionSystem） 3