ICS 31.140 L 21 备案号： 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 2960. 1—-2013 代替SJ2960—1988 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷陷波器 第1部分：总规范鉴定批准 Piezoelectric ceramic traps - A specification in the quality assessment system for electronic components Part 1: Generic specification - Qualification approval 2013-10-17发布 2013-12-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 SJ/T2960.1—2013 目 次 II 前言 1范围. 2规范性引用文件 3术语、定义和一般信息 3.1概述 2 3.2术语和定义.. 3.3优先额定值和特性 3.4标志. 质量评定程序 4 鉴定批准/质量评定体系 4. 1 4.2初始制造阶 4.3 结构相似元件 4.4 鉴定批准程序 4.5质量致性检验 5 4.6 替代的试验方法 5 5试验和测量程 6 5. 1 概述！ 5.2 标准犬 6 5.3 外观检验和危对检查 5.4 绝缘电阻 5.5 耐电压. 8 5.6 中心频率， 5.7 襄耗带宽 5. 8 标称频率点的衰耗 5.9 引出端强度 5. 10 耐焊接热 5. 11 可焊性 10 5.12 温度快速变化 10 5.13 振动 10 5. 14 碰撞. 10 5.15 10 5.16 密封 10 5.17 气候序列， 10 5. 18 稳态湿热 11 5. 19 耐久性试验 12 I SJ/T2960.1-2013 5. 20 随温度变化的中心频率 5.21 贮存. 13 图1 耐电压试验电路 8 表1 测量电压 表 2 测量点 表3 交变湿热循环次数 11 II SJ/T2960.1—2013 SJ/T2960《电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷陷波器》分为如下几个部分： 第1部分：总规范鉴定批准(SJ/T2960.1—2013)； 第2部分：分规范鉴定批准(SJ/T2960.2-2013)； 第2-1部分：空白详细规范评定水平E(SJ/T2960.2.12013)。 本部分为SJ/T2960的第1部分。 本部分代替SJ2960—1988《电子设用电陶瓷陷波 感规范》。 本部分与SJ2960-71988相比除编辑性修改外主要变化如下 更新了上一版用文件，其中机械和环境试验方法引用对应的国家标准（见第2章，1988年 版的2.1 -用计数抽样检验标准GB/T2828代替原来的SJ/T9007（见4.4.2,1988年版的3.5.3)； 基准温度修汀为25c（见3.2. 12. 1) -增加疗最高贮存温度的定义（见3.2.10)； -考虑到现在技术的发展和产品品种的扩展，取消了原标准中的电特性测试电路图，改为由详细 规范规定（见5.6、5.7、5.8，1988年版的图2)； -增加GB/T2423.60--2008引出端强度的试验Uc、Ud或Ue（见5.9）。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由全国频率控制与选择用压电器件标准化技术委员会归口。 本部分起草单位：浙江嘉康电子股份有限公司，中国电子元件行业协会龟子陶瓷级器件分会。 本部分主要起草人张火荣、戴黎明、倪文林、萧慰铭。 本部分所代替规范的历次版本发布情况为： 14 SJ2960—1988。 M D III SJ/T2960.1—2013 电子元器件质量评定体系规范压电陶瓷陷波器 第1部分：总规范鉴定批准 1范围 SJ/T2960的本部分规定了采用鉴定批准程序评定质量体系的压电陶瓷陷波器的试验方法和通用 性要求。 本部分适用于含有一个或多个压电陶瓷据 2 规范性引用文件 下列文件对于本文性的应角是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用无本文件。 GB/T2421长2008电电子产品环境试验概述和指南 GB/T2423.一2008电电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T2423.5208电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T2423.42008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验D6：变湿热（12h+12h 循环） 88 GB/T2423.6—1995电工电产品环境试验|第2部分试验方法试验a和导购：冲击 GB/T2428.&F9995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb-和导则：碰撞 GB/T242310.2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc振动（正弦） GB/T2423.21 GB/T2423.22 GB/T2423.23—1995电工电子产品环境试验一试验Q：-密封。 GB/T2423.282005电立电子产品环境试验第2部分：试验方法试验T：锡焊 强度 GB/T2828.1计数抽样检验程序第-1部分一按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划） GB3100国际单位制及其应用 GB/T4728（所有部分）电气简图用图形符号[IEC60617（所有部分） IEc60027电气技术用字母符号（Lettersymbolstobeusedinelectricaltechnology） IEC60050-561国际电工技术词汇（IEV）第561部分：频率控制和选择用压电器件（International electro technical vocabulary: chapter 56l:Piezoelectric devices for frequency control) IECQC001001：2000IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则第1部分：基本规则（IEC quality assessment system for electronic components (IEcQ)-Part l:Basic rules) TECQC001002-2：1998IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则第2部分：文件（Rules of procedure of theIEC QualityAssessment Systemforelectronic components (IECQ)-Part2: Documentation) 1 SJ/T2960.1—2013 IECQC001002-3：1998IEC电子元器件质量评定体系（IECQ）程序规则第3部分：批准程序（Rules ofprocedurefortheIEQualityAssessmentSystemforelectroniccomponents(IECQ)-Part 3:Approvalprocedures) 3术语、定义和一般信息 3.1概述 3.1.1 单位和符号 单位、图形符号、文字符号和术语应尽可能从下列标准中选取： GB 3100; GB/T 4728; -IEC60027; -IEC60050-561; 当有更多的要求时，应根据上述标准的原则导出。 3.1.2优先顺序 标准中，无论何种原因引起的不一致之处应以下列优先顺序来评判： 详细规范： 分规范； 总规范； 任何其它被引用的国家标准； 任何其它被引用的国际标准（如IEC标准）。 3.2术语和定义 下列术语和定义适用于SJ/T2960的本部分。 3.2.1 型号type 具有相似的设计特征及相似的制造技术而组成的、可用于同一鉴定批准也可用于同一质量一致性检 验的一组元件。 个型号通常由单一详细规范所覆盖。 3.2.2 规格style 一个型号中具有特定的性能及尺寸的一组元件。 一个规格可能通常包括一个机械等级的几个变量。 3. 2. 3 等级grade 附加的有关特定用途的一般特性，例如长寿命应用。 3.2.4 （电子元件的）族family（ofelectroniccomponents） 显著表明某一特定物理属性和/或满足某一特定功能的一组电子元件。 3.2.5 （电子元件的）亚族subfamily（ofelectroniccomponents） 2 SJ/T 2960.1~2013 用相似的技术方法制造的一个族内的某一组电子元件。 3.2.6 压电陶瓷陷波器piezoelectricceramictrap 由一个或多个镀覆了电极的陶瓷元件构成的陷波器。该陷波器适用于需要高稳定和高选择性的吸收 电路，其频段为兆赫兹（MHz）。 3.2.7 类别温度范围 categorytemperaturerange 陷波器设计在连续工作的环境温度范围，由适用的上限和下限类别温度规定。 3.2.8 上限类别温度uppercategorytemperature 陷波器设计在连续工作的最高环境温度 3.2. 9 下限类别温度lowercategorytemperatur 陷波器设计在连续工你的最低环境温度。 3.2.10 最高购存温度 maximdmstorage-temperature 陷波器在非工茶件外 损伤所能经受的最高环境温度 3.2.11 最低贮存温 ndinimt ragetempe 陷波器在 条件下无损伤所能经受的最低环境温度。 非 3.2.12 温度范电内的中心频率变化，variationofcenterfrelquen withtemperati 温度范围内的中心频率变化可用二 中心频 度特性； b)中心赖 度系数和中心频率温度范围偏移。