ICS 19.100 JB N77 备案号：36549—2012 中华人民共和国机械行业标准 JB/T11279--2012 无损检测仪器 线阵列涡流探头 Non-destructive testing instrumentsEddy current line array probe 2012-11-01实施 2012-05-24发布 中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T11279--2012 目 次 前言 范围. 规范性引用文件 2 3术语和定义. 4要求... 4.1工作环境条件 4.2基本参数 4.3功能要求 5性能测试. 5.1 测试设备. 5.2 设计测试方法 6检验规则. 6.1 出厂检验， 6.2 型式检验. 7标识、包装、运输和贮存 7.1 标牌. 7.2 包装. 7.3 运输和贮存 附录A（ （规范性附录）分辨率专用试块 A.1 材料与规格 A.2 人工缺陷， 附录B（规范性附录）灵敏度检测专用试块 B.1 材料与规格 B.2 人工缺陷、 图1 线圈阵列排列示意图 图2 探头结构型式示意图 图A.1 分辨力检测专用试块 6 图B.1 灵敏度检测专用试块， 表1 高温试验参数 表2 低温试验参数.. 表3 出厂检验及型式检验项目 JB/T11279—2012 前言 本标准按照GB/T1.12009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国试验机标准化技术委员会（SAC/TC122）归口。 本标准起草单位：爱德森（厦门）电子有限公司、国核电站运行服务技术公司、深圳华测检测技术 股份有限公司、辽宁仪表研究所、北京航空材料研究院、华北电力科学研究院、北京钢铁研究总院。 本标准主要起草人：林俊明、叶琛、朱平、李洪国、徐波、徐可北、胡先龙、范弘。 本标准为首次发布。 ⅡI JB/T11279—2012 无损检测仪器 线阵列涡流探头 1范围 本标准规定了线阵列涡流探头（以下简称探头）的技术要求、性能测试、检验规则等内容。 本标准适用于高频2MHz、低频50kHz的线阵列涡流探头。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T191一2008包装储运图示标志 GB/T12604.6无损检测术语涡流检测 JB/T6147—2007试验机包装、包装标志、储运技术要求 JB/T9329-1999仪器仪表运输、运输储存基本环境条件及试验方法 ISO15548-2:2009无损检测涡流检测设备第2部分：探头性能和检验（Non-destructivetesting Equipmentforeddycurrentexamination—Part2:Probecharacteristics andverification) 3术语和定义 GB/T12604.6界定的术语和定义适用于本文件。 4要求 4.1工作环境条件 在下列条件下探头应正常工作： a）环境温度为-15℃～45℃； b）相对湿度不大于80%。 4.2基本参数 探头应给出下列基本参数： a）扫查宽度； b）频率范围 c）阵元个数及分布方式； d）分辨力； c）灵敏度。 4.3功能要求 4.3.1扫查宽度 探头的扫查范围与线圈阵列尺寸有关，应不小于20mm。 4.3.2频率范围 检测深度的不同，分为高频范围与低频范围。宜采用高频最高可达到2MHz，低频最低可达到50kHz。 4.3.3阵元数及布置方式 每一组线圈称为一个阵元，一个阵元连接一个通道，阵元个数越多，扫查宽度越大。一般探头的阵 元个数应不少于八个。 1 JB/T11279—2012 4.3.4分辨力 分辨力与频率相关，频率越高分辨力越高。探头的分辨力由专用试块进行测试，要求应达到3mm， 即能区分与扫查方向垂直的两条裂纹的最小间距为3mm。 4.3.5灵敏度 探头的灵敏度由专用试块进行测试，要求应达到0.1mm，即能检测到与扫查方向垂直的裂纹的最 小深度为0.1mm。 4.3.6一致性要求 探头的不同阵元在相同激励条件下，对同一缺陷的检测信号，幅值差不应超过土2dB，相位差不应 超过士1°。 4.3.7电感一致性 探头内阵元间的电感的最大值与最小值之差应小于0.5μH。可使用频率为1kHz的电感表进行测 试。 4.3.8电阻一致性 探头内阵元间的电阻的最大值与最小值之差应小于12，同一对线圈，电阻差不应超过0.82。 5性能测试 5.1测试设备 测试需要下列设备： 0.5级（或优于0.5级）交、直流电压表和电流表； 500V和2500V绝缘电阻表（5.0级）； -数字电压表及数字电流表（0.5级）； 信号发生器：幅度最大允许误差土2%，频率最大允许误差土0.1%； 不低于50MHz双踪示波器（精度为3%）； -频率为1kHz的电感表（精度为1%）。 5.2设计测试方法 5.2.1线圈阵列设计方式 探头通常采用矩阵排列式设计，常规设计样式如图1所示。 a)差分式线圈结构之 b)差分式线圈结构之 c)单发射-双接收（品字型） 说明： 发射线圈；2- 接收线圈。 图1线圈阵列排列示意图 2 JB/T11279-2012 5.2.2探头结构型式 探头结构型式主要有三种：平面式、曲面式和柔性结构。平面式与曲面式结构如图2所示。 a)平面式 b）曲面式 图2探头结构型式示意图 5.2.3分辨力试验 使用多通道涡流仪与附录A中给出的分辨力检测专用试块。探头垂直于裂缝沿着裂缝的中垂线移 动扫查，并保证每个阵元的扫查方向与裂缝垂直。 5.2.4灵敏度试验 使用多通道涡流仪与附录B中给出的灵敏度检测专用试块。测试方法按照ISO15548-2:2009中 6.2.3.11规定的方法。 5.2.5一致性试验 使用多通道涡流仪与附录B中给出的灵敏度检测专用试块。探头垂直于裂缝沿着裂缝的中垂线移 动扫查同一裂缝，并保证每个阵元的扫查方向与裂缝垂直。观测幅值差与相位差。 5.2.6耐温性能 5.2.6.1一般要求 在进行耐温试验时，高、低温箱内的温度应保持恒定均匀，温差不超过土3℃，箱内空间至少应为 被检探头的3倍。为防止湿度的影响，在不影响耐温试验的条件下，必要时，宜采取对高、低温箱密封 或注入干燥空气等措施。 5.2.6.2高温试验 将探头放入高温箱内，试验参数见表1。 表1高温试验参数 试验温度 保持时间 升温速度 55℃±3℃ 8h 不大于1℃/min 高温试验后，使温度降至室温，取出探头并在正常工作条件下放置24h以上，经产品性能检查应 符合探头标准的要求。 5.2.6.3低温实验 将探头放入低温箱内，试验参数见表2。 表2低温试验参数 试验温度 保持时间 降温速度 -25℃±3℃ 8h 不大于1℃/min 低温试验后，使温度升至室温，取出探头并在正常工作条件下放置24h以上，经产品性能检查应 符合探头标准的要求（低温试验后，若探头有凝水现象，应适当延长预热时间或采用风扇通风等其他方 法迅速去潮后，再进行性能检查）。 3 JB/T11279—2012 5.2.7耐湿性能 探头耐湿性能的检测方法应符合JB/T9329—1999中4.3的规定。 5.2.8运输性能 运输性能的试验项目和方法应符合JB/T9329一1999中第4章的规定。 6检验规则 6.1出厂检验 6.1.1探头应按出厂检验项目检验合格，签发产品合格证后方可出厂。 6.1.2出厂检验项目见表3。 6.2型式检验 6.2.1有下列情况之一者，应对探头进行型式检验： 新产品或老产品转厂生产的型式鉴定； 正式生产后，如结构、材料、工艺有较大的改变，可能影响产品性能时； -正式生产时，每年进行一次检验； -产品长期停产后，恢复生产时： 出厂检验结果与上次型式检验结果有较大差异时。 6.2.2 型式检验项日见表3。 表3出厂检验及型式检验项目 序号 项目 要求 检验方法 出厂检验 型式检验 I 扫查范围 4.3.1 常规方法 2 频率范围 4.3.2 常规方法 3 阵元个数及分布方式 4.3.3 目视法 分辨力 4 4.3.4 5.2.3 5 灵敏度 4.3.5 5.2.4 7 6 一致性要求 4.3.6 5.2.5 7 电感一致性 4.3.7 常规方法 电阻一致性 4.3.8 常规方法 9 线圈阵列设计方式 5.2.1 目视法 10 探头结构形式 5.2.2 目视法 注：“/”为必检项目，“ 一”为不检项目。 7 标识、包装、运输和购存 7.1 标牌 每台探头应在机壳上明显位置固定标牌，其内容包括下列各项： a）规格、型号； b）主要技术参数； c）制造日期或编号； d）制造者名称或标志； e）执行标准编号。 7.2包装 7.2.1探头的包装应符合JB/T6147—2007中5.1的规定。包装材料应符合JB/T6147—2007中5.2.1的 4