ICS 31.140 SJ L21 备案号： 中华人民共和国电子行业标准 ST/T11570.1—2016 介电滤波器 第1部分：总规范 Dielectricfilters-Part1:Generic specification IEC 61337-1:2004,Filters using waveguide type dielectric resonators- Part1:Genericspecification，MOD) 2016-01-15发布 2016-06-01实施 发布 中华人民共和国工业和信息化部 ST/T11570.1—2016 次 目 前言 II 1总则， 1.1范围 1.2规范性引用文件 1.3优先顺序 2术语和一般性要求 2 2.1概述 2.2术语和定义 2.3优先额定值 2.4标志， 10 3质量评定程 10 3.1初始制 10 3.2结构相 3.3分包 10 3.4装入的 10 3.5制造市 10 R 11 3.6批准程 3.7能力批 11 3.8鉴定批准 3.9试验程序 12 3.10筛选要求 12 3.11返工和返修 12 3.12证明合格的试验 12 3.13放行有效期 3.14发货放行 13 13 3.15不检查的参数 4试验和测量程序 13 4.1通则 13 4.2试验和测量条件 13 4.3外观检查.. 13 4.4尺寸检验和规检程序 13 4.5电气试验程序 14 4.6机械和环境试验程序 17 附录A（资料性附录） 本部分与IEC61337-1:2004技术性差异及其原因 I ST/T11570.1—2016 前言 SJ/T11570《介电滤波器》已经或计划发布以下部分： —第1部分：总规范； 一第2部分：使用指南； 一第3部分：标准外形和引出端连接； 本部分为SJ/T11570的第1部分。 本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本部分使用重新起草法修改采用正C61337-1:2004《介电滤波器第1部分：总规范》。 本部分与IEC61337-1:2004相比存在技术性差异，这些差异涉及的条款已通过在其外侧页边空白 位置的垂直单线（I）进行了标示。附录A中给出了相应技术性差异及其原因的一览表。 本部分作了下列修改： -2.2采用GB/T1.1—2009规定的导语； —2.2.11"衰耗等于或小于规定值时"改为“相对衰耗等于或小于规定值时”； -2.2.13“衰耗等于或大于规定值时”改为“相对衰耗等于或大于规定值时”； “采用仲裁测量和试验用标准大气条件”； 4.5.2.1和4.5.2.4"测量电平之比”改为"测量电平dB值之差”； 4.5.6.1"信号电平之比”改为信号电平dB值之差” --4.6.1"低贮存温度和高贮存温度为工作温度范围±3℃”改为"低贮存温度为最低工作温度T~ ℃，高贮存温度为最高工作温度的TH℃”； 4.6.11"试验Ba"改为"试验Bb”； 4.6.13"试验Aa"改为"试验Ab"。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会（SAC/TC182）归口。 本部分起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会、浙江嘉康电子股份有限公司、嘉兴佳利 电子股份有限公司、中国电子科技集团公司第二十六研究所、张家港保税区灿勤科技有限公司、江苏江 佳电子股份有限公司、中国电子元件行业协会电子陶瓷及器件分会。 本部分主要起草人：章怡、崔丰慧、胡元云、刘光聪、朱田中、韦玉华。 II ST/T11570.1—2016 介电滤波器 第1部分：总规范 1总则 1.1范围 SJ/T11570的本部分适用于采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的使用波导型介电谐振器 的介电滤波器。本部分规定了可供详细规范选用的试验和测量程序。 1.2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必 不可少的。凡是注日期的引 仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件 最新版本（包括所有的修改单）适用天本 GB/T2421.1 电工电子产品环境试验概述和指南 1988,IDT) 低温(IEC60068-2-1： GB/T2423 2008 第2部分： 法 2007, IDT) GB/T242 电 2008 第2部分：试 法试验B:高温 IEC60068-2-2: 2007, IDT) GB/T2423.3 电工 第2部分：试验房法 2006F Cab：恒定温热 EC60068-2-78: 产品环境试 2001,IDT) 电 产品环境 试验D 天变湿热（12h+12h循 GB/T2423 2008 环）（IEC60068 2005 ID GB/T2423 Ea和导则：冲击(IEC 验方法 60068-2-27:198 DT 2 GB/T2423. 电工电子产品环境试验第二部分：试验方法 碰撞(IEC 60068-2-29:1987, DT GB/T 2423.10 2008 验法 电电子产品环境试验第2部分：试 试验Fc:振动(正弦）(IEC 60068-2-6:1995，IDT) GB/T2423.15—2008 2部分试验方法试验Ga和导则：稳态加速度 (IEC60068-2-7:1986，IDT) GB/T2423.21—2008 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验M：低气压(IEC 60068-2-13:1983，IDT) GB/T2423.22—2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化(IEC 60068-2-14:1984，IDT) GB/T2423.28—2005 电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验T：锡焊（IEC60068-2-20： 1979, IDT) GB/T2423.60-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验U：引出端及整体安装件 强度(IEC60068-2-21:2006，IDT) GB3100-1993国际单位制及其应用(EQV，ISO1000：1992) GB/T4728（所有部分）电气简图用图形符号[IEC60617（所有部分）】 IEC60027（所有部分）电气术语用文字符号（Lettersymbolstobeusedinelectricaltechnology） ST/T11570.1—2016 IEC60050(561）国际电工技术词汇(IEV）第561部分：频率控制和选择用压电器件（International Electrotechnical Vocabulary (IEV)-Part 561:Piezoelectric devices forfrequencycontrol and selection) IEC60068-2-58:2004电工电子产品环境试验第2-58部分：试验方法试验Td：表面贴装(SMID) 器件的可焊性、金属化层的耐熔蚀性及耐焊接热（Environmentaltesting-Part2-58：Tests-TestTd:Test methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface mounting devices (SMD)) forelectroniccomponents(IECQ)-basicrules) assessmentsystemforelectroniccomponents (IECQ)-rulesofprocedure-part2:documentation) QC001002-3:1998IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)程序规则第3部分：批准程序（IEC quality assessment systemfor electronic components (IECQ)-rules of procedure-part 3:approval procedures) QC001005:2000由包括ISO9000认证的IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)批准的企业、产品和 服务的合格名录（Registeroffirms，productsand servicesapprovedundertheIECQsystem，includingISO 9000) 1.3优先顺序 标准中，无论何种原因引起的不一致之处应以下列优先顺序来评判： 详细规范； 分规范； 总规范； 任何其它被引用的国际标准(如IEC标准)。 同样的顺序也适用于国家标准。 2术语和一般性要求 2.1概述 单位、图形符号、文字符号和术语应从下列标准中选取： GB3100-1993国际单位制及其应用； GB/T4728电气简图用图形符号 IEC60027电气术语用文字符号； IEC60050(561）国际电工技术词汇(IEV）第561部分：频率控制和选择用压电器件。 SJ/T11570的本部分所包含的任何其他的单位、符号及术语，均由1.2的规范性引用文件中选取。 2.2术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 2. 2. 1 介电滤波器 dielectricfilter 由一个或多个介电谐振器构成的滤波器。 2.2. 2 2 ST/T11570.1—2016 单片介电滤波器dielectricmono-blockfilter 由一块有孔的金属化矩形陶瓷块构成的滤波器，其功能等同于两级或多级TEM模（横向电磁模式） 滤波器。 2.2.3 带状滤波器striplinefilter 由带状