YS ICS77.150,99 H68 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T1105—2016 半导体封装用键合银丝 Silver bonding wirefor semiconductor package 2016-04-05发布 2016-09-01实施 中华人民共和国工业和信息化部 发布 中华人民共和国有色金属 行业标准 半导体封装用键合银丝 YS/T1165-2G16 中国标准出版社出版发行 北京市朝阳区和平里西街甲2号（169529） 北京市西城区三里河北街16号（160645） 网址：www.spe.org.cn 服务热线：100-168-3616 2917年7月第一版 书号：155666：2-31780 版权专有 侵权必究 YS/T1105—2016 前言 本标准按照GB/T1.12009给出的规则起草。 本标准由全国有色金属标准化技术委员会（SAC/TC243）提出并归口。 本标准起草单位：烟台一诺电子材料有限公司、北京达博有色金属焊料有限责任公司、有色金属技 术经济研究院、山东科大鼎新电子科技有限公司。 本标准主要起草人：林良、向翠华、向磊、苗海川、藏晓丹、苗洪远、同茹、李天祥、周晓光、刘洁。 T YS/T1105—2016 半导体封装用键合银丝 1范围 本标准规定了半导体分立器件、集成电路、LED封装用键合银丝（以下简称银丝）的要求、试验方法、 检验规则、标志、包装、运输和贮存质量证明书、订货单（或合同）等内容。 本标准适用于半导体封装用键合银丝。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本件。 支术有限公 GB/T1423贵金属及其合金密度的测试方法 GB/T87-0 2014半导体封装用键合金丝 GB/T10元73有色金属细丝拉伸试验方法 GB/T11067（所有部分） 银化学分析方法 GB/T15072（所有部分）贵金属合金化学分析方法 技 GB/T15077 贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法 （卓非） 3要求 3.1产品分类 3.1.1种类、型号、牌号、状态和规格 区 银丝按化学成分分为普通银丝、合金银丝两大类， 普通银丝是Ag含量99%及以上的银丝5，合金 银丝可以根据合金元素及其含量不同分为AVS2、AS3和AS4等4个型号。银丝的种类、型号、状态 和直径应符合表1的规定。 表 种类、型号、牌号和直径 种类 型号 牌号 状态 直径/u 普通银丝 Ag99 A.S1 AgssAuld c.01S,0,c20,6.023,6.c25,.c2S,0.030. A.S2 Ag92Anll 半硬态 合金银丝 o.c32.c.c33,o.c35.c.c3s.c.c46.o.c45,c.c5c AS3 Ag951dAu A.S4 Ag97PdAn 注：根据需方的要求可增加其他直径的银丝、 3.1.2 标记示例 每轴银丝标记按产品名称、标准编号、牌号、状态及尺寸规格的顺序表示。标记示例如下： 1 YS/T1105—2016 示例：直径为.c251mum、长度为5ccmCS型号、牌号为Ag99的银丝可标记为： 键合银丝YS/T1155Ag99-p.c25X50m 3.2 2化学成分 银丝化学成分应符合表2的规定。 表2化学成分 主要成分（质量分数）/ 杂质元素（质量分数）/，不大于 型号 合金牌号 Ae An Cu Fu aI T cs Au99 6.15--6.25 A.S1 AgssAuld 68-28 6.5~7.5 4.6~6,6 A.S2 Ag92Auld 91-93 4.5~5.5 2.6-4.6 6.61 AS3 Ag95dAn 91~96 6.5~1.5 3.6--5,6 AS1 Ag971dAn 296-95 $1-50 1.63.6 杂质元素包括但不限于表中所列元素 3.3尺寸偏差 3.3.1 直径及其允许偏差 银丝的直径及其允许偏差应符合表3的规定。直径以微或英制单位标记时要注明单位，毫米可 不标记单位。 3.3.2 长度偏差 单轴长度为00m或其整数倍，单轴长度充许偏差-1% 3.4 力学性能 银丝最小拉断力和伸长率应符合表3的规定 表3 尺寸偏差及力学性能 最小拉断力/15 "N 伸长率/月 直径 直径允许偏差 伸长率波动范围 run IsV A.S2 A.S3 A.S1 最小 最大 $130 4.6 5.6 1.6 4.6 5 20 6.6 C,C26 5,6 7.6 6.6 5.5 5,6 5 2G 3 C.C22 7.0 9.6 7.6 6.5 7.6 5 25 3 G,C23 7.0 16.8 7.5 7.5 5 25 3 130.91 G.C25 9.0 12.6 10.6 9,6 9.6 5 25 3 12.6 11.6 11.0 16,5 16.6 25 6.62S 3 13.6 15.6 12.6 11.5 11.0 25 3 6.630 0.032 15.6 17.6 13.6 12.0 11.5 25 1 2 YS/T1105—2016 表3（续） 直径 直径允许偏差 最小拉断力/16N 伸长率！ 伸长率波动范围 srun mun cS ISV AS2 AS3 A.S1 最小 最大 0.633 16,6 18.0 14,6 13.6 12,5 25 4 6.635 15.0 20,6 16,0 15.6 11,6 10 25 4 6.635 139'91 20.6 22,0 19,0 1s.6 17.6 15 25 4 0.646 22.6 26,c 23,0 22,6 21. 10 25 1 6.645 26.6 30,6 27, 26.6 25,6 10 25 4 10,6C2 6,C50 31.6 35.6 35.0 31.6 33.6 10 4 3.5 表面质量 3.5.1 银丝表面应清洁、无指痕、油污及锈蚀。 3.5,2 银丝表面应无拉伸润滑衰迹、颗粒附加物和其他沾污。 IV 3.5,3 银丝表面应无刻衰、凹坑、划刻伤、裂纹、凸起、打折和其他降低黏件使用寿命的缺陷。 3.5,4 银丝表面应无氧化。 3.5,5 线轴形状应规则，表面应着色均勾，应平滑光洁，不应有制、变形和妨碍银丝自由落下的附 着物。 X 3.6 丝材应力 3,6.1 银丝从轴上自由放下时应无明显卷曲，允许银有不降低其使用功能的轻微卷曲。 3,6.2 银丝应无轴向扭曲。 3.7 绕丝要求 3.7.1 银丝应绕在规定线轴上，单层或多层绕绒，线轴应符合附录（的规定。 3.7.2 单轴长度和绕丝方式应符合需方要求。 3,7.3 绕丝的始端和末端应明显标出，丝的两端用彩色胶带粘贴紧，绿色为使用始端。 3.8 放丝性能 银丝应顺畅地从线轴上自由放下，若有停点，平均每百米不超过1次。 4试验方法 4.14 银丝化学成分的仲裁分析方法按GB/T11067（所有部分）和GB/T1E072（所有部分）规定的方法 进行。 4.2银丝的密度按GB/T1423贵金属及其合金密度的测试方法的规定进行。参考密度值如表4 所示。 3 YS/T1105—2016 表4参考密度 型号 参考密度（g/un） CS 16,53 AS1 16,93 A.S2 16.62 AS3 19,58 A.S4 16,56 4.3银丝的直径及其偏差测量按GB/T15077规定的方法进行。 4.4银丝的力学性能测试按GB/T10573规定的方法进行，试样标距400mm，拉伸速度为 lomm/min. 司 4.5银丝的表面质量检验方法按附录A的规定进行。 4.6银丝的丝材应力检验方法按附录D的规定进行。 4.7银丝绕丝检查采用目视检测。 2014附录E的规定进行。 4.8 银丝长度及其偏差测量方法按GB/T8730 有 4,9 银丝的放丝性能的检测方法按附录B的规定执行。 检验规则 5.1 检查与验收 银丝由供方质量检验部门进行检验，保证银丝质量符合本标准规定并填写质量证明书。 5.1.1 需方可对收到的银丝按本标准规定进行检验，如检验结果与本标准规定不符合时，应在收到产 5.1.2 品之日起30日内向供方提出，由供需双方协商解如需仲裁，可委托双方认可的单位进行，仲裁取样 在需方共同进行。 5.2组批 银丝应成批提交验收，每批由同一炉型号、状态及同一直径的产品组成。 5.3 检验项目 每批丝应进行化学成分、直径、长度、力学性能、表面质量、丝材应力、绕丝和放丝性能等项目检验。 如果需方有其他特殊要求，可由供需双方协商解决。 5.4取样 取样规则及数量应符合表的规定。 4