ICS 77.040.20 CCS Q53 YB 中华人民共和国黑色冶金行业标准 YB/TXXXXXXXXX 石墨烯薄膜方块电阻的测定四探针法 Graphene fiIm--Testing methods for square resistance--Four probe method 【报批稿】 XXXX - XX - XX 发布 XXXX-XX-XX实施 发布 中华人民共和国工业和信息化部 YB/TXXXX—202X 前言 本文件按照GB/T1.1一2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》给出的 规则起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由中国钢铁工业协会提出。 本文件由全国钢标准化技术委员会（SAC/TC183）归口。 本文件起草单位：江苏省特种设备安全监督检验研究院（国家石墨烯产品质量检验检测中心（江 苏））、冶金工业信息标准研究院、青岛华高墨烯科技股份有限公司、苏州晶格电子有限公司、南京大 学。 本文件主要起草人：杨永强、区炳显、李倩、郭洪云、丁海龙、于葛亮、王勤生、田子健、张萧丹、 王群、张维旭。 I YB/T XXXX—2023 石墨烯薄膜方块电阻的测定 四探针法 1范围 本文件规定了石墨烯薄膜的方块电阻测定方法，包括方法原理、仪器设备、测试条件、测试步骤 结果计算与数据采集和测试报告等。 本文件适用于目视平整、附着在衬底表面的石墨烯薄膜方块电阻的测定，石墨烯薄膜的长和宽均不 小于50mm。方块电阻的测量范围为1×10-3Q~1×103Q。本文件也可适用于更高或更低方块电阻的 测量，但其测量精确度尚未评估。 2规范性引用文件 2 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文 件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适 用于本文件。 GB/T1551硅单晶电阻率测定直排四探针法和直流两探针 GB/T30544.13一2018纳米科技术语第13部分：石墨烯及相关二维材料 3 术语和定义 GB/T30544.13一2018中界定的及下列术语和定义适用于本文件。 3. 1 方块电阻 Asquareresistance 与电流平行的电势梯度对电流密度和厚度乘积的比，也称薄层电阻。 3. 2 石墨烯薄膜graphenefiIm 由石墨烯相关二维材料附着在衬底上构成的薄而平的制品。 4方法原理 使用直排四探针测量装置（见图1），使直流电流通过试样上两外探针，测量两内探针之间的电位 差，引入与试样几何形状有关的修正因子，计算出方块电阻。 YB/TXXXX—2023 1 2 3 4 图1直排四探针法测试方块电阻的示意图 5 仪器设备 5.1仪器组成 四探针方块电阻测试仪由主机、样品台、探头、数据采集与处理系统等部分组成。 5.2技术要求 a）测试仪测量范围为1×10Q~1×102； b）探头：用电阻率小于10m2cm的导电橡胶探针制成，四探针应以等距离直线排列。探针间距 及针尖状况应符合GB/T1551的规定。 测试条件 6 6.1环境要求 测试环境应符合下列要求： a）设备应置于无高频发生器、强电磁场及震动干扰的环境中； b）测试环境条件：温度范围为20℃～30℃，测量时温度波动土1℃，相对湿度不大于65%； c） 在其他环境条件下测试，应在测试报告中注明。 6.2试样要求 试样应符合下列要求： a) 石墨烯薄膜应目测平整地附着在衬底表面，长和宽不小于50mm； b) 衬底为目测平整的半导体或绝缘体材料，长和宽不小于附着在其表面的石墨烯薄膜尺寸。 7测试步骤 7.1仪器设备开机后，与试样置于测试环境中至少30min。 7.2在距离石墨烯薄膜边缘至少50mm的区域，将试样表面分为五个测试区域，至少选择一条对角线 上的3个测试区域进行测试（见图2）。 3 YB/T XXXX—2023 X X 图2试样测试区域位置示意图 7. 3 试样置于样品台，下移探头至选定测试区域，直至探头与试样形成示值稳定的欧姆接触。 7. 4 每个测试区域应至少测试3次。 7. 5 记录测试数据。 7. 6 测试示例参见附录A。 8 结果计算与数据采集 8.1结果计算 方块电阻（Rs）按公式（1）进行计算： V Rs = F ×- (1) 式中： Rs- 方块电阻，单位为欧姆（2）； 修正因子，根据试样几何形状与探针修正因子，从仪器自带的修正系数表查询； V测得的电势差，单位为毫伏（mV）； 测得的电流，单位为毫安（mA）。 8.2数据采集 数据采集应符合下列要求： a）按照测试区域，记录不同测试位点的数据，结果保留到小数点后一位数； b）考虑到薄膜材料的不均匀性，如对某测试位点数据有异议，可在同测试位点或同测试区域额 外增加2次测试，并计算所得3次数据的平均值。如原测试位点数据不超过该平均值的20%，选择原测试 位点数据记录；如原测试位点数据超过该平均值的20%，则记录全部3次测试数据。 ，测试报告 9 测试报告中应至少包括下列内容： a) 测试日期； YB/TXXXX—2023 b) 环境温度和湿度； c) 试样信息； d) 本文件编号； 测试结果。 e) 5 YB/TXXXX—2023 附录A （资料性） 测试示例 A.1试样 PET衬底石墨烯薄膜。试样如图A.1所示，PET衬底长和宽分别为35cm和25cm；石墨烯薄膜长 和宽分别为30cm和20cm。 60913426 图A.1PET基底石墨烯薄膜 A.2仪器设备 A.2.1四探针方阻测量仪，方块电阻测试范围为1×102Q~1×102。 A.2.2四探针探头，探针等距离直线排列，探针间距1mm，探针为圆柱形，探针材质为电阻率小于 10m2cm的导电橡胶。 A.3测试步骤 A.3.1四探针方阻测量仪开机后，与试样PET衬底石墨烯薄膜在温度为23℃、湿度55%RH的测试 环境下静置30min。 A.3.2如图A.2所示，目测试样PET衬底石墨烯薄膜整体平整，无明显褶皱、缺陷或杂质颗粒；其中， PET衬底长和宽分别为35cm和25cm；石墨烯薄膜长和宽分别为30cm和20cm。在距离石墨烯薄 膜长和宽两个边缘50mm的区域，沿对角线分别选定1、2、3三个测试区域。 6