ICS 31.200 L55 SJ 备案号： 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10805—2018 代替SJ/T10805—2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法 Semiconductor integrated circuits Measuringmethods for voltage comparators 2018-02-09发布 2018-04-01实施 发布 中华人民共和国工业和信息化部 bl ack SJ/T10805—2018 目 次 前言 II 范围 1 规范性引用文件 符号 3 4 般要求， 5 详细要求， 5.1 输入失调电压 5.2 NavIo 5.3 输入失调 流 5.4 输入失 5.5 输入偏 置电 5.6 输入 温度系 静态 功电 5.7 电压增益AvD. 5.8 开环 11 5.9 共模 KCMR 12 5.10 最 入电压 15 5.11 电池 制比Ks 5.12 最大 电压V 17 5.13 输出高 17 5.14 输出低电 .18 5.15 高电平输 .19 5.16 低电平输出 流 19 5.17 开环差模输入 5.18 开环单端输出电阻 21 5.19 控制端阀值电压1 22 5.20 控制端电流1 5.21 输出漏电流Ieal .23 5.22 输出吸入电流Isink 24 5.23 响应时间t、td+、fa-、At. .25 锁存延迟时间ta(L） 5.24 26 附录A（规范性附录） 电参数符号 28 bl ack SJ/T10805—2018 前言 本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 本标准代替SJ/T10805一2000《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》。 本标准与SJ/T10805—2000相比主要变化如下： “一般要求”中增加了“测试期间，被测器件输入和输出应处于确定状态”的要求（见第4章）； a) “详细要求”中按照GB/T4728的要求重新对测试原理图的图形符号进行了编制（见第5章）； b） c） 增加“控制端阙值电压”、“控制端电流”、“输出漏电流”、“输出吸入电流”、“锁存 延迟时间”的测试方法（见5.19～5.22、5.24） 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本标准由全国集成电路标准化分技术委员会（SAC/TC78/SC2）归口。 本标准起草单位：中国电了技术标准化研究院、中国电了科技集团公司第二十四研究所、中国航 天科技集团公司第九研究院第七七一研究所。 本标准主要起草人：李锟、钟英峻、闫永超。 本标准所代替的历次版本发布情况为：SJ/T10805—2000。 II bl ack SJ/T108052018 半导体集成电路电压比较器测试方法 范围 本标准规定了半导体集成电路电压比较器（以下简称器件）电特性测试方法。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。 用本 凡是不注日期的引用文件 具最新版本（包括所有的修改单） 话 SJ/T10734- 体集成电路文字符号 电参数文字符号 -1996 TION 3符号 附录A规 参数符 于本文件 一般要求 Y 殊明 4.1若无特孕 测试期环境或参考温度符 合器件罐关文件的规 4.2测试期 应避免外界 干扰对测试精皮的影南 购设备起的测试误 合器件相关文件的 S 规定。 4.3测试期间 被测器件的电源的内阻在信号频率下应接近为零；电源电压的偏差应在规定值的 1%以内。施于被测 件的其他电参量的精度应符合器件相关文件的规定 交流小信号测试厂在线性工作区进行。 4.4 L 4.5 4.6 若有要求时， 应按器件相关文件规定的顺序接通电源。 4.7 测试期间，被测器件应避免出现自激现象。 4.8 4.9 测试期间，被测器件输入和输出应处于确定状态 4.10 采用辅助放大器（AUX）与被测器件构成闭合环路的方法测试时，基本测试原理如图1所示。 4.11 应避免因静电放电而引起器件损伤。 注：若电特性值是由几步测试的结果经计算而确定时，这些测试的时间间隔应尽可能短。 bl ack SJ/T108052018 A DUT AUX d 图1 测试原理图 4.12 2测试系统 图1中AUX应满足下列要求： a) 开环增益大于60dB； b) 输入失调电流和输入偏置电流应远小于流过R,和R2的电流； c) 输出动态范围不影响AUX输出端电压V的测量范围和准确度； (P Rr/R值应保证AUX在线性区工作，其精度决定了测试的精度。 图1 中环路元件应满足下列要求： Rr- In≤Vio; a) R≤RD; b) R·lB≥Vio; c) d) Ros≤R≤RD; e) RI≥RL; f) 电阻准确度应在土5%以内。 g) 其中： IrB 被测器件的输入偏置电流： Vio 被测器件的输入失调电压； RD 被测器件的开环差模输入电阻； Ros AUX的开环单端输出电阻； R 输入电阻； 采样电阻； R RL 负载电阻； RF 反馈电阻。 2 bl ack SJ/T10805-2018 5 详细要求 5.1 输入失调电压Vio 5.1.1 目的 测试输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压。 5.1.2测试原理图 Vio的测试原理图如图2所示。 AND avio测试原理图 5.1.3 测试 测试期 确以下余 条件 日 a) 环 点温度 电 b) 电源 输出电压 c) 输出货 (P V e) 环路条件 共模输入电压； f) g) AND 5.1.4 测试程序 测试程序如下： 在规定的环境温度下，将被测器件（DUT）接入测试环路中； a) 电源端施加规定的电压， b) 设置A端电压使DUT输出电压为规定电压： 在AUX的输出端测得电压Vo1; c) 由公式（1）计算出Vio。 d) R, Vro= Vol ...(1) R, + RF 5.1.5注意事项 注意事项如下： 3 bl ack SJ/T10805--2018 a） Rr、R应满足下列要求： R,× Rp ) <<V1o I1o×( .(2) R, + R 式中： lo- 被测器件的输入失调电流。 R 式中： Vopp -AUX输出的峰一峰电压。 b) R和R的精度决定了测试精度。 5.2 输入失调电压温度系数avIo 5.2.1目的 测试输入失调电压随环境温度的变化率。 5.2.2测试原理图 αvio的测试原理图如图2所示。 5.2.3测试条件 测试期间，应明确以下条件： a) 环境温度范围； b) 电源电压； 输出电压； c) (P 输出负载； e) 环路条件； f) 共模输入电压； g) 其他引出端负载条件及辅助网络。 5.2.4 测试程序 测试程序如下： a) 在环境温度TA=25℃条件下，按5.1.4的程序测得Vio1 b) 将环境温度调至规定的最低温度TA(MIN》，按5.1.4的程序测得Vio2。由公式（4）计算求出avIO(-)： Vio1 - Vio2. αvIo(-) ...(4) TA - TA(MIN) 式中： avIO (.) DUT的输入失调电压低温温度系数； Vio1 DUT在TA=25℃下的输入失调电压； Vio2 -DUT在TA=TA(MIN）下的输入失调电压； TA 环境温度； 4 bl ack