ICS 33.060.20 M36   YD 中 华 人 民 共 和 国 通 信 行 业 标 准 YD/T 3182 —20XX 代替YD/T 3182-2016 移动通信天线测量场地检测方法 Testing method for antenna measurement fields in communication systems （报批稿） 201×－××－××发布 201×－××－××实施 中华人民共和国工业和信息化部发 布 YD/T 3182-XXXX I目次 前言. ............................................................................... III 1 范围 .............................................................................. 1 2 规范性引用文件 .................................................................... 1 3 术语和定义 ........................................................................ 1 4 场地的检测方法选择要求 ............................................................ 2 4.1远场测量场地的检测方法 ........................................................... 2 4.1.1暗室屏蔽性能检测 ............................................................. 2 4.1.2静区反射电平性能检测 ......................................................... 2 4.1.3 口径场性能检测 .............................................................. 2 4.1.4静区口径场交叉极化检测 ...................................................... 2 4.1.5天线增益检测 ................................................................ 3 4.2近场测量场地的检测方法 ........................................................... 3 4.2.1暗室屏蔽性能检测 ............................................................ 3 4.2.2静区反射电平性能检测 ........................................................ 3 4.2.3探头幅相性能检测 ............................................................ 3 4.2.4探头交叉极化检测 ............................................................ 3 4.2.5天线增益检测 ................................................................ 3 4.3紧缩场测量场地检测方法 ........................................................... 3 4.3.1暗室屏蔽性能检测 ............................................................ 3 4.3.2静区反射电平性能检测 ........................................................ 3 4.3.3静区幅相性能检测 ............................................................ 3 4.3.4静区口径场交叉极化性能检测 .................................................. 3 4.3.5天线增益检测 ................................................................ 3 5 场地检测方法详细描述 .............................................................. 3 5.1 远场测量场地的检测方法 ........................................................ 3 5.1.1 反射电平检测方法 .......................................................... 3 5.1.2 口径场性能检测方法 ........................................................ 8 5.1.3 静区口径场交叉极化检测方法 ............................................... 10 5.1.4 天线增益检测方法 ......................................................... 10 5.2 近场测量场地的检测方法 ....................................................... 12 5.2.1 反射电平检测方法 ......................................................... 12 5.2.2 探头幅度相位检测方法 ..................................................... 14 5.2.3 探头交叉极化性能检测方法 ................................................. 16 5.2.4 天线增益检测方法 ......................................................... 16 5.3 紧缩场测量场地的检测方法 ..................................................... 17 5.3.1 反射电平检测方法 ......................................................... 17 5.3.2 紧缩场口径场幅相检测方法 ................................................. 17 5.3.3 紧缩场口径场交叉极化检测方法 ............................................. 18 5.3.4 天线增益检测方法 ......................................................... 18 YD/T 3182-XXXX II附录 A （资料性附录） 自由空间电压驻波比法 ........................................... 19 A.1自由空间电压驻波比法数据处理原理 ................................................ 19 A.2 和的大小判别方法 ......................................................... 20 A.3 自由空间电压驻波比法数据处理方法 ............................................... 20 附录 B （资料性附录） 外推法 ......................................................... 22 B.1 原理概述 ....................................................................... 22 B.2 外推法测试过程 ................................................................. 22 rEdEYD/T 3182-XXXX III 前言 本标准按照 GB/T