备案号：44964-2014 中华人民共和国文物保护行业标准 WW/T 0055 —2014 2014-04-24 发布 2014-06-01 实施 中华人民共和国国家文物局    发 布WW 古代陶瓷科技信息提取规范 形貌结构分析方法 Technical specification for analyzing ancient ceramic - Morphology and structure analysis中华人民共和国文物保护行业标准 古代陶瓷科技信息提取规范¶形貌结构分析方法 Technical specification for analyzing ancient ceramic - Morphology and structure analysis WW/T 0055—2014 * 中华人民共和国国家文物局主编 文物出版社出版发行 （北京市东城区东直门内北小街2号楼） http://www.wenwu.com E-mail:[email protected] 北京鹏润伟业印刷有限公司印刷 新华书店经销 * 开本：880毫米×1230毫米¶1/16 印张：1.25 2014年6月第1版¶¶2014年6月第1次印刷 统一书号：115010·1826¶定价：12.00元IWW/T 0055 —2014 目¶¶次 前言 III 1　范围  1 2　规范性引用文件  1 3　形貌结构分析方法选取原则  1 4　形貌结构检测方法与依据  1 4.1　宏观形貌结构检测方法  1 4.2　微观形貌结构检测方法  1 附录A（规范性附录）光学显微镜分析方法  2 附录B（规范性附录）扫描电子显微镜分析方法  6 附录C（规范性附录）透射电子显微镜分析方法  9 参考文献 15IIWW/T 0055 —2014IIIWW/T 0055 —2014 前    言 《古代陶瓷科技信息提取规范》是系列标准，其中包括： ——古代陶瓷科技信息提取规范¶方法与原则——古代陶瓷科技信息提取规范¶化学组成分析方法 ——古代陶瓷科技信息提取规范¶形貌结构分析方法 本标准为该系列标准之一。本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由中华人民共和国国家文物局提出。 本标准由全国文物保护标准化技术委员会（SAC/TC289）归口。 本标准起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所。本标准主要起草人：虞玲、曾毅、吴伟、许钫钫、阮美玲。IVWW/T 0055 —20141WW/T 0055 —2014 古代陶瓷科技信息提取规范¶形貌结构分析方法 1　范围 本标准规定了古代陶瓷形貌结构分析方法的技术内容和要求等。 本标准适用于对古代陶瓷宏观和微观形貌结构的观察。 2　规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T15074—2008电子探针定量分析方法通则ISO10934—1:2002 光学和光学仪器——显微镜方法的词汇——第一部分：光学显微镜（Optics and opticalinstruments-vocabularyformicroscopy-Part1:lightmicroscopy） ISO10934—2:2007 光学和光学仪器——显微镜方法的词汇——第二部分：光学显微镜方法中的 先进技术(Optics andopticalinstruments -vocabulary formicroscopy -Part2:Advanced techniques inlight microscopy） ASTME1570计算机断层摄影(CT）检查的标准实施规范(Standard practiceforcomputed tomographic (CT）examination） ASTME2228纺织纤维的显微镜检查指南（Standard guideformicroscopic examination oftextile fibers） BSM34X光射线照相技术的准备工作和使用方法（Method ofpreparation anduseofradiographic techniques） 3　形貌结构分析方法选取原则 古代陶瓷形貌结构的主要分析方法有光学显微镜法、扫描电子显微镜法、透射电子显微镜法、计 算机断层摄影以及X射线透射法等。光学显微镜法、扫描电子显微镜法和透射电子显微镜法可用于古 代陶瓷胎釉微观结构的分析，而计算机断层摄影、X射线透射法可用于无损分析古代陶瓷的整体结构及内部探伤等。 4　形貌结构检测方法与依据 4.1　宏观形貌结构检测方法 古代陶瓷宏观形貌结构检测方法包括： a）计算机断层摄影，参见ASTME1570； b）X射线透射法，参见BSM34。 4.2　微观形貌结构检测方法 古代陶瓷微观形貌结构检测方法包括：a）光学显微镜分析方法，见附录A；b）扫描电子显微镜分析方法，见附录B；c）透射电子显微镜分析方法，见附录C。2WW/T 0055 —2014 附¶录¶A （规范性附录） 光学显微镜分析方法 A.1　范围 本方法提供了几种用可见光为照明源的光学显微镜，观察古代陶、瓷器显微结构的方法指导。通 常适宜于观察1 µm～1mm大小的固体颗粒在显微镜下的结构状态，当选择其他照明与成像方式时，也 可以观察几百纳米的颗粒。 A.2　方法提要 依据显微镜的成像理论与技术来确立观测方式的选择和步骤，依据晶体光学，光性矿物学，体视 学等基础理论以及古代陶瓷显微结构分析研究的成果来确定定性观察和定量分析的基本内容。 方法观察的古代陶瓷来样必须制备成显微镜试片（光片，薄片，光薄片，超薄光薄片）。一般情 况下，试片中的物相（含偶尔存在的颗粒）如能满足尺寸要求，都可以被观测到。A.3　主要使用设备与附件 A.3.1　设备概述 使用的设备是几种光学显微镜。ISO 10934—1:2002 和ISO10934—2:2007界定的术语适用于本部 分。 A.3.2　透、反光偏光显微镜 透、反光偏光显微镜需有标准配置，可用于观察古代陶瓷显微结构中物相在偏振光束入射时显现 的光性特征。A.3.3　相衬显微镜 相衬显微镜在聚光镜前焦面上有环形光阑，在物镜后焦面上有相位板，可用于观察古代陶瓷瓷釉 显微结构中物相折射率的变化。 A.3.4　暗场显微镜 暗场显微镜配置暗场聚光镜和暗场物镜，可用于观察古代陶瓷显微结构中那些在普通明场成像时 看不见的散射（或衍射）微粒。A.3.5　高温显微镜 高温显微镜必须配置小型加热炉体，高温样品台，温控装置，水冷却系统，长焦距物镜。使用温 度一般不超过1500℃，可观测古代陶瓷瓷釉的受热行为特征。 A.3.6　万能显微镜 万能显微镜集成不同的显微镜照明技术，可对同一个观察视域中的同一个物相完成透光、反光、 偏光、相衬、暗场条件下多项光性参数和形貌特征的观测。 A.4　样品和样品制备 A.4.1　采样 A.4.1.1　样品选取