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ICS 31.080.01 CCS L 40 团体标准 T/CIE 119-2021 半导体器件大气中子单粒子效应试验方法 与程序 Test method and procedure of atmospheric -neutron induced single event effects in semiconductor devices 2021-11-22发布 中国电子学会 发布 2022-02-01实施 全国团体标准信息平台 T/CIE 119- 2021 I 目 次 前言 .................................................................................................................................................................... II 引言 .................................................................................................................................................................. III 1 范围 ................................................................................................................................................................ 1 2 规范性引用文件 ............................................................................................................................................ 1 3 术语和定义 .................................................................................................................................................... 1 4 一般要求 ........................................................................................................................................................ 2 4.1 辐射源提供单位 ..................................................................................................................................... 2 4.2 辐射安全和辐射防护 ............................................................................................................................. 2 4.3 试验人员 ................................................................................................................................................. 2 4.4 仪器与设备 ............................................................................................................................................. 2 4.5 试验环境 ................................................................................................................................................. 3 4.6 位移效应的影响 ..................................................................................................................................... 3 4.7 不确定性分析 ......................................................................................................................................... 3 5 试验方法 ........................................................................................................................................................ 3 5.1 试验目的 ................................................................................................................................................. 3 5.2 试验原理 ................................................................................................................................................. 3 5.3 辐射源 ..................................................................................................................................................... 3 5.3.1 散裂中子源 ...................................................................................................................................... 3 5.3.2 中子注量率 ...................................................................................................................................... 4 5.3.3 中子注量 .......................................................................................................................................... 4 5.3.4 中子入射角度 .................................................................................................................................. 4 5.3.5 中子射程 .......................................................................................................................................... 4 5.3.6 束斑面积 .......................................................................................................................................... 4 5.4 束流测量系统 .............................................................................................

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