ICS 31.120 CCS L 53 13 河北省 地方标准 DB 13/T 6077—2025 便携式移动终端用挖孔屏孔区光学特性 测试方法 2025 - 04 - 03发布 2025 - 05 - 03实施 河北省市场 监督管理局 发布 DB 13/T 6077 —2025 II 前言 本文件按照 GB/T 1.1 —2020《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规 定起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由 河北省电子显示标准化技术委员会（ HeB/TC26）提出并 归口。 本文件起草单位：云谷（固安）科技有限公司、霸州市云谷电子科技有限公司、维信诺科技股 份有限公司。 本文件主要起草人：党鹏乐、王香、刘玉成、程骥、刘艳玲、黄根茂、王伟。 DB 13/T 6077 —2025 1 便携式移动终端用挖孔屏孔区光学特性测试方法 1 范围 本文件规定了便携式移动终端用挖孔屏孔区均匀性和孔漏光等光学特性测试方法。 本文件适用于采用有机发光二极管显示（ OLED）技术的便携式移动终端用挖孔屏的设计、生产 及交付。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用 文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单） 适用于本文件。 GB/T 20871.12 有机发光二极管显示器 第2部分：术语与文字符号 GB/T 20871.63 —2021 有机发光二极管显示器件 第6-3 部分：图像质量测试方法 (IEC 62341- 6-3：2012，IDT) 3 术语、定义和缩略语 3.1 术语和定义 GB/T 20871.12 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1.1 挖孔屏 punch hole display 通过盲孔或通孔技术在显示屏上挖孔，实现屏下的摄像功能并缩小非发光区面积，提高屏占比 的显示屏，孔区具有显示功能的显示屏不包括在内。 3.1.2 孔区均匀性 uniformity of hole area 孔区亮度和色度均匀性 luminance uniformity and chromaticity uniformity of hole area 挖孔屏开孔处周围区域亮度和色度的均匀性。 3.1.3 孔漏光 light leakage thr ough hole 显示屏在点亮情况下通过挖孔位置漏到背面的光。 3.2 缩略语 DUT：被测器件（ device under test ） LMD：光学测试设备（ light measuring device ） OLED：有机发光二极管（ organic light emitting diode ） 4 挖孔屏分类 挖孔屏按照外观不同可分为单孔屏、双孔屏和多孔屏等。不同类型挖孔屏，示意图如图 1所示： DB 13/T 6077 —2025 2 a)单孔屏 b)双孔屏 c)多孔屏 图1 不同类型挖孔屏示意图 5 测试条件 5.1 标准测试环境条件 标准测试环境条件 按下列规定 ： ——温度为25 ℃±3 ℃ ； ——相对湿度为 25%～85%； ——大气压力 为86 kPa～106 kPa。 5.2 标准暗室测试条件 环境光照度应小于 0.01lx，否则应扣除环境光照度并在测试报告中注明。 6 孔区均匀性测试 6.1 测试目的 通过测量白画面下孔区周围的亮度和色坐标计算色差，以表征孔区周围的不均匀性。 6.2 测试设备 测试设备采用符合计量校准要求的 LMD，LMD应满足以下要求： —— 波长范围：至少应包括 380 nm～780 nm； —— 波长间隔：应小于 1 nm； —— 亮度精度： 0.0005 cd/m2； —— 色度精度： 0.001。 6.3 测试位置 单孔屏测试点位置如图 2所示。 DB 13/T 6077 —2025 3 标引序号说明： R1 —— 孔的半径； d1 —— 测试点1～8边缘到孔中心点的距离，推荐采用 R1+0.2 mm； d2 —— 测试点9～11边缘到孔中心点的距离，推荐采用 R1+5.0 mm 。 注： 若产品规格书中有规定， d1和d2数值参考产品规格书。 图2 单孔挖孔屏孔区周围测试位置示意图 双孔屏测试点位置如图 3所示。多孔屏可参考执行，不满足测试距离的点可忽略。 标引序号说明： R2 —— 孔的半径； d3 —— 测试点21～30边缘到孔中心点的距离，推荐采用 R2+0.2 mm ； d4 —— 测试点33～36边缘到孔中心点的距离，推荐采用 R2+5.0 mm； DB 13/T 6077 —2025 4 测试点31 —— 位于测试点23和24的中间位置； 测试点32 —— 位于测试点 28和29的中间位置 。 注： 若产品规格书中有规定， d3和d4数值参考产品规格书。 图3 双孔挖孔屏孔区周围测试位置示意图 6.4 测试步骤 孔区均匀性测试步骤如下： 1） 按照GB/T 20871.63 —2021中5.1.2.4.3 规定，显示4%白窗口图案 ，测试三刺激值 （𝑋𝑛，𝑌𝑛， 𝑍𝑛）,作为参考白色品坐标值； 2） 输入测试信号使 DUT显示100%灰阶全白画面； 3） 使用LMD测试6.3中规定的每个测试点位的亮度 Yi，色坐标 （𝑥𝑖，𝑦𝑖）； 4） 将亮度 𝑌𝑖和色坐标 （𝑥𝑖，𝑦𝑖）按照公式（ 1）、（2）转化为 CIE三刺激值（ 𝑋𝑖，𝑌𝑖，𝑍𝑖）； 𝑋𝑖=𝑥𝑖 𝑦𝑖𝑌𝑖 ································ ································ ········ (1) 𝑍𝑖=1−𝑥𝑖−𝑦𝑖 𝑦𝑖𝑌𝑖 ································ ································ ··· (2) 5） 再将三刺激值 （𝑋𝑖，𝑌𝑖，𝑍𝑖）按照公式（ 3）、（ 4）、（ 5）转化为 CIELAB色彩空间的 𝐿𝑖∗、 𝑎𝑖∗、𝑏𝑖∗； 𝐿𝑖∗=116 𝑓(𝑌𝑖𝑌𝑛⁄)−16 ································ ·························· (3) 𝑎𝑖∗=500 [𝑓(𝑋𝑖𝑋𝑛⁄)−𝑓(𝑌𝑖𝑌𝑛⁄)] ································ ·················· (4) 𝑏𝑖∗=200 [𝑓(𝑌𝑖𝑌𝑛⁄)−𝑓(𝑍𝑖𝑍𝑛⁄)] ································ ·················· (5) 式中： 𝑓(𝑡)={𝑡1 3 𝑡>(6/29)3 1 3(29 6)2𝑡+16 116 𝑡为其他} ································ ·· (6) 6） 利用公式（ 7）计算得到 ∆𝐸∗。 ∆𝐸∗=√(∆𝐿∗)2+(∆𝑎)2+(∆𝑏∗)2 ································ ··················· (7) 式中： ∆𝐸∗ —— 孔区均匀性，取 测试结果的最大值 ； ∆𝐿∗ —— 距离孔区较近的测试点 𝐿𝑖∗（𝑖=1～8或𝑖=21～32）与距离孔区较远 的测试点 𝐿𝑖∗（𝑖=9～11或 𝑖=33～36）之间的差值； ∆𝑎∗ —— 距离孔区较近的测试点 𝑎𝑖∗（𝑖=1～8或𝑖=21～32）与距离孔区较远 的测试点 𝑎𝑖∗（𝑖=9～11或 𝑖=33～36）之间的差值； ∆𝑏∗ —— 距离孔区较近的测试点 𝑏𝑖∗（𝑖=1～8或𝑖=21～32）与距离孔区较远 的测试点 𝑏𝑖∗（𝑖=9～11或 𝑖=33～36）之间的差值。 7 孔漏光测试 7.1 测试目的 测量通过挖孔位置向显示屏背面漏光的大小。 7.2 测试设备 测试设备采用符合计量校准要求的照度计，照度计应满足以下要求： —— 测量范围： 0 lx～2000 lx； —— 精度：0.1 lx； —— 相对示值绝对值误差：≤ 4%。 7.3 测试步骤 DB 13/T 6077 —2025 5 孔漏光测试步骤如下： 1） 输入测试信号使 DUT显示100%灰阶全白画面； 2） 用黑胶带将孔区周围区域遮挡确保不能漏光，只保留挖孔屏孔的位置； 3） 在暗室条件下，将 DUT置于水平台上； 4） 采用照度计从孔背面测试 DUT孔区，记录照度值。 8 测试报告 测试报告应包括以下内容： 1） 测试条件； 2） 测试设备； 3） 测试样品； 4） 测试结果； 5） 测试人； 6） 测试日期； 7） 其他。