ICS33.100 CCSL06 中华人民共和国国家标准 GB/T44073—2024 微波暗室场地确认方法 Sitevalidationmethodformicrowaveanechoicchamber 2024-05-28发布 2024-12-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 1 ……………………………………………………………………………………………… 4 测量方法 1 ………………………………………………………………………………………………… 4.1 概述 1 ………………………………………………………………………………………………… 4.2 测量设备 2 …………………………………………………………………………………………… 4.3 测量设置 5 …………………………………………………………………………………………… 4.4 测量步骤 6 …………………………………………………………………………………………… 4.5 数据处理 7 …………………………………………………………………………………………… 4.6 测量不确定度 8 ……………………………………………………………………………………… 5 试验报告 8 ………………………………………………………………………………………………… 6 暗室诊断 8 ………………………………………………………………………………………………… 附录A(资料性) 静区反射率电平计算公式的推导 9 …………………………………………………… 附录B(资料性) 静区反射率电平测量不确定度评定示例 10 …………………………………………… 附录C(资料性) 暗室成像技术 12 ………………………………………………………………………… 参考文献 14 …………………………………………………………………………………………………… ⅠGB/T44073—2024 前 言 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国无线电干扰标准化技术委员会(SAC/TC79)提出并归口。 本文件起草单位:中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院、北京无线电计量测试研究所、 河南省计量测试科学研究院、中国电力科学研究院有限公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究 院、奥尔托射频科技(上海)有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、 深圳市雅诺讯科技有限公司。 本文件主要起草人:刘潇、崔强、韩玉峰、王维龙、白冰、班浩、赵兴、孟东林、刘文芳、吴艳丽、李志鹏、 付君、杨志超、黄敏昌、朱明星、尚柱冈、陈政宇、王楠、高启轩、王泽堂、黄雪梅、黄杰武。 ⅢGB/T44073—2024 微波暗室场地确认方法 1 范围 本文件描述了700MHz~110GHz频率范围内微波暗室场地确认方法。 本文件适用于微波暗室场地静区性能确认。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T4365—2003 电工术语 电磁兼容 3 术语和定义 GB/T4365—2003界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 微波暗室 microwaveanechoicchamber 一种经过专门设计的用于模拟自由空间的封闭室。 注:该室内壁铺设吸波材料,能充分吸收微波频段的电磁波,使放置待测件的有限区域来自各个方向的电磁波反射 信号电平下降到可接受程度。 3.2 静区 quietzone 在微波暗室中放置待测件,来自各个方向的电磁波反射信号电平被控制到设计水平的有限区域。 3.3 静区反射率电平 quietzonereflectivitylevel 微波暗室静区内等效反射波信号与直射波信号之比。 注:通常用分贝(dB)表示。 4 测量方法 4.1 概述 微波暗室模拟自由空间,用于天线测量、目标特性测量等领域,具有全天候工作的优势。实际应用 中由于吸波材料无法完全吸收电磁波等原因,暗室中仍然会有反射波存在,这些反射波从各个方向进入 静区并与直射波叠加,见图1。在静区内一定行程线上形成空间驻波分布,该指标用静区反射率表征。 将微波暗室用于天线辐射方向图等参数测量时,应评估暗室中不同角度的静区反射率电平。 1GB/T44073—2024 图1 典型微波暗室及静区示意图 微波暗室静区反射率电平测量方法采用自由空间电压驻波比法,其测量原理是基于微波暗室中存 在直射波信号和反射波信号,直射波信号和反射波信号电场强度分别用Ed和Er表示,两者的矢量和在 静区中一定行程线上形成空间驻波,驻波的数值大小即反映了微波暗室内反射波信号的大小,通过测量 空间电压驻波确定暗室的静区反射率电平,见图2。 图2 静区中直射波信号和反射波信号示意图 4.2 测量设备 4.2.1 一般要求 测量系统一般由网络分析仪、发射天线、接收天线和扫描架等设备组成,见图3a)方式1,网络分析 仪可用信号发生器和接收机、频谱仪或功率计等接收设备代替,见图3b)方式2。测量系统动态范围至 少优于待测反射率电平10dB。可根据实际情况在发射端使用放大器和/或在接收端使用前置放大 器,此时应注意放大器的漂移影响,并保证接收信号在线性范围内。 在测量开始前,所用设备应按使用说明书要求充分预热,并将周围无关设备和设施移开,以减小对 测量的影响。 2GB/T44073—2024