(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210998986.0 (22)申请日 2022.08.19 (71)申请人 江西省农业科 学院作物研究所 地址 330200 江西省南昌市青云谱区南 莲 路602号 (72)发明人 孙建　赵云燕　乐美旺　梁俊超　 颜廷献　颜小文　 (74)专利代理 机构 北京三聚阳光知识产权代理 有限公司 1 1250 专利代理师 周卫赛 (51)Int.Cl. G01N 33/00(2006.01) G01D 21/02(2006.01) (54)发明名称 一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定 评价方法 (57)摘要 本发明涉及作物 鉴定方法技术领域， 具体提 供了一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定评价方法， 包括如下步骤： S1步骤： 将芝麻种子发芽至露白； S2步骤： 测定露白的芝麻种子分别在第一温度和 第二温度下暗培养相同时间后的芽长、 根长和苗 鲜重， 所述第一温度为25 ‑30℃， 第二温度为16 ‑ 18℃； 按照说明书的公式计算相对芽长、 相对根 长和相对苗鲜重； S3步骤： 根据相对芽长、 相对根 长和相对苗鲜重确定耐低温水平。 上述方法操作 简单易行， 可控性强， 重复性好， 可以较准确地反 映芝麻芽期 对低温胁迫的反应特性特点， 结果可 靠。 权利要求书1页 说明书10页 附图2页 CN 115144546 A 2022.10.04 CN 115144546 A 1.一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定 评价方法， 其特 征在于， 包括如下步骤： S1步骤： 将芝麻种子发芽 至露白； S2步骤： 测定露白的芝麻种子分别在第一温度和第二温度下暗培养相同时间后的芽 长、 根长和苗鲜重， 所述第一温度为25 ‑30℃， 第二温度为16 ‑18℃； 按照如下公式计算相对 芽长、 相对根长和相对苗鲜重； 相对芽长＝第二温度下培 养的芽长/第一温度下培 养的芽长×100％； 相对根长＝第二温度下培 养的根长 /第一温度下培 养的根长 ×100％； 相对苗鲜重＝第二温度下培 养的苗鲜重 /第一温度下培 养的苗鲜重 ×100％； S3步骤： 根据相对芽 长、 相对根长和相对苗鲜重确定耐低温水平。 2.根据权利要求1所述的芝麻芽期耐低温特性的鉴定 评价方法， 其特 征在于， S1步骤中， 选取饱满健康的芝麻种子进行发芽， 优选地， 将饱满健康的芝麻种子置于铺 有滤纸的密封发芽盒中， 加水， 培 养至种子露白。 3.根据权利要求1或2所述的芝麻芽期耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， S1步 骤的培养温度为25 ‑30℃。 4.根据权利要求1 ‑3中任一所述的芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， 芝麻种子发芽 至露白的培 养时间为12 ‑24h。 5.根据权利要求1 ‑4中任一所述的芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， 种子露白的标准 为萌发的胚根露出种皮， 且不超过种子自身长度的一半。 6.根据权利要求1 ‑5中任一所述的芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， S2步骤的培 养时间为5 ‑7天， 优选为6天。 7.根据权利要求1 ‑6中任一所述的芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， S2步骤中， 选取两份粒 数相同的露白种子， 每 份50‑100粒， 分别置 于不同温度下培 养。 8.根据权利要求1 ‑7中任一所述的芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， 根据相对芽 长、 相对根长、 相对苗鲜重将耐低温水平划分为： 高耐低温型： 100％≥相对芽长≥70％， 100％≥相对根长≥80％， 100％≥相对苗鲜重 ≥85％； 耐低温型： 70％＞相对芽长≥50％， 80％＞相对根长≥60％， 85％＞相对苗鲜重≥ 65％； 中耐低温型： 50％＞相对芽长≥40％， 60％＞相对根长≥55％， 65％＞相对苗鲜重≥ 60％； 不耐低温型： 40％＞相对芽长≥35％， 55％＞相对根长≥45％， 60％＞相对苗鲜重≥ 55％； 极不耐低温型： 35％＞相对芽长≥0％， 45％＞相对根长≥0％， 55％＞相对苗鲜重≥ 0％。 9.根据权利要求8所述的芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在于， 若按照相 对芽长、 相对根长、 相对苗鲜重将耐低温水平划分的结果不一致时， 以评价等级最低的结果 为准。 10.根据权利要求1 ‑9中任一所述的芝麻芽期耐低温特性的鉴定评价方法， 其特征在 于， 所述第一温度为28℃， 第二温度为18℃。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115144546 A 2一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定评价 方法 技术领域 [0001]本发明涉及作物鉴定方法技术领域， 具体涉及一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定评 价方法。 背景技术 [0002]芝麻(Sesamum  indicum L.)是中国传统特色油料作 物， 是一种对低温反应极其敏 感的嗜热作物。 [0003]低温对芝麻的影响主要表现在， 在北方， 低温直接影响春芝麻种子萌发和芽期生 长， 而在南方则主要表现为， 寒露风影响秋芝麻后期生长和籽粒发育。 因此， 建立芝麻芽期 耐低温特性的鉴定评价方法， 为耐低温育种提供技术支持和材料来源。 耐低温品种的应用 一方面可以增强芽期抵御温度胁迫的能力， 提高芝麻稳产性， 另一方面可以适当提前芝麻 播种期或芝麻生产区域实现 “北扩”， 继而提高芝麻产量和种植 面积。 [0004]开展芝麻的耐低温特性的鉴定评价， 发掘耐低温特性较强的芝麻种质资源， 培育 耐低温的优良品种， 对提高芝麻稳产性和我国芝麻种植 “北扩”均具有重要意义。 但是， 迄今 未有芝麻耐低温特性 鉴定评价方法的报道。 发明内容 [0005]因此， 本发明的目的在于提供一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定评价方法， 该方法 简单易行、 成本低、 不受生长季节的影响， 鉴定结果准确可靠， 可以为芝麻耐低 温种质鉴定 发掘和耐低温新品种培 育提供技 术和材料支持。 [0006]本发明提供了一种芝麻芽期耐低温特性的鉴定 评价方法， 包括如下步骤： [0007]S1步骤： 将芝麻种子发芽 至露白； [0008]S2步骤： 测定露白的芝麻种子分别在第一温度和第二温度下暗培养相同时间后的 芽长、 根长和苗鲜重， 所述第一温度为25 ‑30℃， 第二温度为16 ‑18℃； 按照如下公式计算相 对芽长、 相对根长和相对苗鲜重； [0009]相对芽长＝第二温度下培 养的芽长/第一温度下培 养的芽长×100％； [0010]相对根长＝第二温度下培 养的根长 /第一温度下培 养的根长 ×100％； [0011]相对苗鲜重＝第二温度下培 养的苗鲜重 /第一温度下培 养的苗鲜重 ×100％； [0012]S3步骤： 根据相对芽 长、 相对根长和相对苗鲜重确定耐低温水平。 [0013]进一步地， S1步骤中， 选取饱满健康的芝麻种子进行发芽， 优选地， 将饱满健康的 芝麻种子 置于铺有滤纸的密封发芽盒中， 加水， 培 养至种子露白。 [0014]进一步地， S1步骤的培 养温度为25 ‑30℃。 [0015]例如， 密封发芽盒内可以铺双层或者三层滤纸， 50 ‑100粒种子中可以加20 ‑40mL (例如30mL)蒸馏水。 [0016]进一步地， 芝麻种子发芽 至露白的培 养时间为12 ‑24h。 [0017]进一步地， 种子露白的标准为萌发的胚根露出种皮， 且不超过种子自身长度的一说　明　书 1/10 页 3 CN 115144546 A 3