(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210197210.9 (22)申请日 2022.03.02 (71)申请人 季华实验室 地址 528200 广东省佛山市南海区桂城街 道环岛南路28号 (72)发明人 谢晖　金作徽　易建业　 (74)专利代理 机构 佛山市海融科创知识产权代 理事务所(普通 合伙) 44377 专利代理师 许家裕 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/62(2017.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/74(2022.01) G06V 10/82(2022.01)G06K 9/62(2022.01) G06N 3/04(2006.01) (54)发明名称 零件识别方法、 装置、 质检方法、 电子设备及 存储介质 (57)摘要 本发明涉及机器视觉检测技术领域， 具体公 开了一种零件识别方法、 装置、 质检方法、 电子设 备及存储介质， 其中， 零件识别方法包括以下步 骤： 获取待测零件的外轮廓信息及多个类型的标 准零件的外轮廓信息； 按照预设的偏转间隔分别 获取待测零件的第一距径比集合及多个标准零 件分别对应的多个第二距径比集合； 根据第一距 径比集合与多个第二距径比集合的相关性及最 小距离确定待测零件的类型； 该识别方法无需对 所有位置点进行分析， 通过预设的偏转间隔进行 取样获取第一距径比集合和第二距径比集合能 有效减少分析数据的数据量， 并采用距径比进行 比对分析， 模糊化了具体尺寸参数， 在不需要进 行缩放操作的前提下有效确保零件识别的准确 性。 权利要求书2页 说明书10页 附图3页 CN 114549513 A 2022.05.27 CN 114549513 A 1.一种零件识别方法， 用于在零件质检过程中识别零件类型， 其特征在于， 所述识别方 法包括以下步骤： 获取待测零件的外轮廓信息及多个 类型的标准 零件的外轮廓信息； 按照预设的偏转间隔分别获取所述待测零件的第一距径比集合及多个所述标准零件 分别对应的多个第二距径比集合， 距径比为所述外轮廓信息上的位置点到所述外轮廓信息 的最小外 接圆圆心的距离与所述外轮廓信息的最小外 接圆的半径之比； 根据所述第一距径比集合与多个所述第二距径比集合的相关性及最小距离确定待测 零件的类型。 2.根据权利要求1所述的一种零件识别方法， 其特征在于， 按照预设的偏转间隔获取所 述待测零件的第一距 径比集合的步骤 包括： 获取所述待测零件的外轮廓信息的第一 最小外接圆； 按照所述预设的偏转间隔获取 所述待测零件的外轮廓信息上的多个第一 位置点； 计算所述第一位置点到所述第一最小外接圆圆心的距离与所述第一最小外接圆半径 之比， 作为所述第一距 径比； 收集所有所述第一距 径比生成所述第一距 径比集合。 3.根据权利要求1所述的一种零件识别方法， 其特征在于， 所述根据所述第 一距径比集 合与所述第二距 径比集合的相关性及最小距离确定待测零件的类型的步骤 包括： 对所述第一距径比集合分别和多个所述第二距径比集合进行相关性分析获取对应的 相关系数； 对所述第一距径比集合分别和多个所述第二距径比集合进行最小距离计算获取对应 的最小距离值； 当所述第一距径比集合与目标第二距径比集合之间的所述相关系数大于预设的第一 阈值且所述最小距离值小于预设的第二阈值时， 所述待测零件识别为所述目标第二距径比 集合对应的标准 零件， 所述目标第二距 径比集合为任一所述第二距 径比集合。 4.根据权利要求1所述的一种零件识别方法， 其特征在于， 所述获取待测零件的外轮廓 信息的步骤包括： 获取所述待测零件的数字图像， 并从所述数字图像中提取所述待测零件 的外轮廓信息 。 5.一种零件识别装置， 用于在零件质检过程中识别零件类型， 其特征在于， 所述识别装 置包括： 获取模块， 用于获取待测零件的外轮廓信息及多个 类型的标准 零件的外轮廓信息； 计算模块， 用于按照预设的偏转间隔分别获取所述待测零件的第 一距径比集合及多个 所述标准零件分别对应的多个第二距径比集合， 距径比为所述外轮廓信息上的位置点到所 述外轮廓信息的最小外 接圆圆心的距离与所述外轮廓信息的最小外 接圆的半径之比； 判断模块， 用于根据 所述第一距径比集合与多个所述第 二距径比集合的相关性及最小 距离确定待测零件的类型。 6.一种零件质检方法， 用于对零件进行质检， 其特征在于， 所述质检方法包括以下步 骤： 获取待测零件及多个 类型的标准 零件的外轮廓信息； 按照预设的偏转间隔分别获取所述待测零件的第一距径比集合及多个所述标准零件权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114549513 A 2分别对应的多个第二距径比集合， 距径比为所述外轮廓信息上的位置点到所述外轮廓信息 的最小外 接圆圆心的距离与所述外轮廓信息的最小外 接圆的半径之比； 根据所述第一距径比集合与多个所述第二距径比集合的相关性及最小距离确定待测 零件的类型； 根据所述待测零件及对应的标准 零件的外轮廓信息对所述待测零件进行外观检验。 7.根据权利要求6所述的一种零件质检方法， 其特征在于， 所述根据所述待测零件及对 应的标准 零件的外轮廓信息对所述待测零件进行外观检验的步骤 包括： 通过可缩放的轮廓匹配算法匹配所述待测零件的外轮廓信息与对应的标准零件的外 轮廓信息以获取匹配值； 在所述匹配值大于预设第三阈值时通过 所述外观检验。 8.根据权利要求6所述的一种零件质检方法， 其特征在于， 所述质检方法还包括以下步 骤： 在所述待测零件通过所述外观检验后， 根据 所述标准零件获取功能结构的标准位姿信 息； 根据所述标准 位姿信息对所述待测零件的功能结构进行检验。 9.一种电子设备， 其特征在于， 包括处理器以及存储器， 所述存储器存储有计算机可读 取指令， 当所述计算机可读取指 令由所述处理器执行时， 运行如权利要求 1‑4任一项所述方 法中的步骤。 10.一种存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算机程序被处理器执 行时运行如权利要求1 ‑4任一项所述方法中的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114549513 A 3