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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210372620.2 (22)申请日 2022.04.11 (71)申请人 珠海优特电力科技股份有限公司 地址 519000 广东省珠海市高新区金鼎工 业园金鸿七路68号 (72)发明人 袁晖 方嘉聪 肖少剑 朱红岷  吴睿 吴楚慰 祝盖林 赖月辉  陈倩倩  (74)专利代理 机构 北京市京大律师事务所 11321 专利代理师 胡安 (51)Int.Cl. G06V 10/44(2022.01) G06V 10/774(2022.01) G06V 10/82(2022.01)G06N 3/08(2006.01) (54)发明名称 仪表数值分析方法、 装置、 设备及存 储介质 (57)摘要 本发明涉及图像识别领域, 公开了一种仪表 数值分析方法、 装置、 设备及存储介质。 方法包 括: 采集仪表模板图及待分析图片, 其中, 所述仪 表模板图中包括仪表表盘关键刻度值; 基于所述 关键刻度值通过预置的图像处理算法对所述待 分析图片进行预处理, 得到候选图片; 通过预置 的指针分析模型对所述候选图片进行指针指向 分析, 得到目标指向信息; 基于所述目标指向信 息进行目标刻度圆弧长度计算, 得到目标刻度圆 弧长度数值; 基于所述目标刻度圆弧长度进行仪 表数值分析, 得到目标刻度数值。 权利要求书2页 说明书10页 附图5页 CN 114863129 A 2022.08.05 CN 114863129 A 1.一种仪表数值分析 方法, 其特 征在于, 所述方法包括: 获取仪表模板图及待分析图片, 其中, 所述仪表模板图中包括仪表 表盘关键刻度值; 基于所述仪表表盘关键刻度值通过预置的图像处理算法对所述待分析图片进行预处 理, 得到候选图片, 其中, 所述 候选图片中标注有 多个关键刻度值; 通过预置的指针分析模型对所述 候选图片进行指针指向分析, 得到目标指向信息; 基于所述目标指向信 息对所述候选图片进行目标刻度圆弧长度计算, 得到目标刻度圆 弧长度数值; 基于所述目标刻度圆弧长度进行仪表数值分析, 得到目标刻度数值。 2.根据权利要求1所述的仪表数值分析方法, 其特征在于, 所述基于所述仪表表盘关键 刻度值通过预置的图像处 理算法对所述待分析图片进行 预处理, 得到候选图片包括: 对所述仪表模板图及所述待分析图片分别进行特征点提取, 得到与 所述仪表模板图对 应的多个第一特 征点及与所述待分析图片对应的多个第二特 征点; 基于预置的匹配算法对所述多个第 一特征点及所述多个第 二特征点进行特征点匹配, 得到多个目标 特征点组; 通过预置的一致性算法对所述多个目标特征点组进行变换矩阵计算, 得到投影变换矩 阵; 基于所述投影变换矩阵将所述仪表表盘关键刻度值投影至所述待分析图片, 得到候选 图片。 3.根据权利要求1所述的仪表数值分析方法, 其特征在于, 在所述基于所述仪表表盘关 键刻度值通过预置的图像处理算法对所述待分析图片进行预处理, 得到候选图片之后, 在 所述通过预置的指针分析模型对所述候选图片进行指针指向分析, 得到目标指向信息之 前, 还包括; 采集多个指针仪表图片; 对所述多个指针仪表图片中每一指针仪表图片进行指针轮廓标注, 得到训练图片集 合; 将所述训练图片集 合输入预置的深度学习模型进行训练, 得到所述指针分析模型。 4.根据权利要求1所述的仪表数值分析方法, 其特征在于, 所述通过预置的指针分析模 型对所述 候选图片进行指针指向分析, 得到目标指向信息包括: 将所述候选图片输入所述指针分析模型进行指针 轮廓分析, 得到指针 轮廓信息; 通过所述指针分析模型的距离最小化函数对所述指针轮廓信 息进行直线拟合, 得到所 述目标指向信息 。 5.根据权利要求4所述的仪表数值分析方法, 其特征在于, 所述将所述候选图片输入所 述指针分析模型进行指针 轮廓分析, 得到指针 轮廓信息包括: 将所述候选图片输入所述指针分析模型进行二 值化处理, 得到二 值化图片; 对所述二值化图片进行指针粗轮廓分析, 得到指针粗轮廓图像; 通过预置的变换算法对所述 粗轮廓图像进行轮廓变换, 得到指针 轮廓信息 。 6.根据权利要求1 ‑5中任一项所述的仪表数值分析方法, 其特征在于, 所述基于所述目 标指向信息对所述候选图片进行目标刻度圆弧长度计算, 得到目标刻度圆弧长度数值包 括:权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 114863129 A 2基于所述目标指向信息对所述候选图片中指针与所述候选图片中刻度圆弧进行交点 识别, 得到第一圆弧端点; 基于所述第 一圆弧端点及所述刻度圆弧对所述刻度圆弧进行相邻端点识别, 得到第 二 圆弧端点; 通过所述第 一圆弧端点及所述第 二圆弧端点进行目标刻度圆弧长度计算, 得到目标刻 度圆弧长度数值。 7.根据权利要求6所述的仪表数值分析方法, 其特征在于, 所述基于所述目标刻度圆弧 长度进行仪表数值分析, 得到目标刻度数值包括: 基于所述目标指向信 息进行相邻关键刻度位置识别, 得到目标关键刻度位置并作为第 三圆弧端点; 通过所述第 三圆弧端点及所述第 二圆弧端点进行基准圆弧长度计算, 得到基准 圆弧长 度数值; 对所述目标刻度圆弧长度数值及所述基准 圆弧长度 数值进行比值分析, 得到目标弧长 比例; 基于所述弧长比例进行仪表数值分析, 得到目标刻度数值。 8.一种仪表数值分析装置, 其特 征在于, 所述仪表数值分析装置包括: 获取模块, 用于获取仪表模板图及待分析图片, 其中, 所述仪表模板图中包括仪表表盘 关键刻度值; 处理模块, 用于基于所述仪表表盘关键刻度值通过预置的图像处理算法对所述待分析 图片进行 预处理, 得到候选图片, 其中, 所述 候选图片中标注有 多个关键刻度值; 拟合模块, 用于通过预置的指针分析模型对所述候选 图片进行指针指向分析, 得到目 标指向信息; 计算模块, 用于基于所述目标指向信息对所述候选 图片进行目标刻度圆弧长度计算, 得到目标刻度圆弧长度数值; 分析模块, 用于基于所述目标刻度圆弧长度进行仪表数值分析, 得到目标刻度数值。 9.一种计算机设备, 其特征在于, 所述计算机设备包括: 存储器和至少一个处理器, 所 述存储器中存 储有指令; 所述至少一个处理器调用所述存储器中的所述指令, 以使得所述计算机设备执行如权 利要求1‑7中任意一项所述的仪表数值分析 方法。 10.一种计算机可读存储介质, 所述计算机可读存储介质上存储有指令, 其特征在于, 所述指令被处 理器执行时实现如权利要求1 ‑7中任一项所述仪表数值分析 方法。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 114863129 A 3

PDF文档 专利 仪表数值分析方法、装置、设备及存储介质

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