(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210586259.3 (22)申请日 2022.05.27 (71)申请人 武汉理工大 学 地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路 122号 (72)发明人 尹勇　黄子浩　李方宇　刘官保　 (74)专利代理 机构 武汉智嘉联合知识产权代理 事务所(普通 合伙) 42231 专利代理师 张璐 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/62(2017.01) G06V 10/26(2022.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/774(2022.01)G06N 3/08(2006.01) G06N 3/04(2006.01) (54)发明名称 一种基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷 检测方法及装置 (57)摘要 本发明涉及一种基于改进SimOTA的磁块器 件表面缺陷检测方法及装置， 该方法包括： 获取 目标特征分析模 型， 目标特征分析模 型包括图像 分割模块和特征提取模块； 获取待检测的磁块器 件表面图片； 将待检测的磁块器件表 面图片分割 成若干个图像片段， 从图像片段中提取出特征图 片； 通过改进现有的SimOTA锚框分配策略， 计算 所有候选框的长宽比和面积占比， 从而自适应调 整候选框的个数， 并对每个锚框的I OU值加权， 为 特征图片中的磁块器件表面缺陷分配锚框。 充分 考虑了特征图片中较多的缺陷区域的细节信息。 本发明提供的一种基于改进SimOTA 的磁块器件 表面缺陷检测方法及装置， 通过改进的Si mOTA锚 框分配策略获取磁块器件表面信息， 减少候选锚 框个数， 提高了 检测精度和检测速度。 权利要求书2页 说明书8页 附图3页 CN 114862822 A 2022.08.05 CN 114862822 A 1.一种基于改进Sim OTA的磁块器件表面 缺陷检测方法， 其特 征在于， 包括： 获取目标 特征分析模型， 所述目标 特征分析模型包括图像分割模块和特 征提取模块； 获取待检测的磁块器件表面图片； 根据所述图像分割模块将所述待检测的磁块器件表面图片分割成若干个图像片段， 基 于所述特 征提取模块， 从所述图像片段中提取 出特征图片； 通过改进的Sim OTA锚框分配策略， 为所述特 征图片中的磁块器件表面 缺陷分配锚框 。 2.根据权利 要求1所述的基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 还包括： 获取磁块器件表面图片样本集， 基于参数确定模型对所述目标特征分析模型的初始参 数进行训练， 得到目标参数。 3.根据权利 要求2所述的基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述根据所述图像分割模块将所述待检测的磁块器件表面图片分割成若干个图像片段， 包 括： 将所述待检测的磁块器件表面图片设置成预设像素 大小； 将所述预设像素大小的待检测的磁块器件表面图片输入至所述图像分割 模块， 得到多 个像素大小的图像片段。 4.根据权利 要求3所述的基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述基于所述特 征提取模块， 从所述图像片段中提取 出特征图片， 包括： 根据所述目标参数， 将所述多个像素大小的图像片段输入至所述特征提取模块， 得到 若干个大小不同的待检测的磁块器件表面图片的特 征图片。 5.根据权利 要求4所述的基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述特征提取模块还 包括注意力模块和识别模块； 所述注意力模块用于突出所述图像片段中缺陷区域的图像特征； 所述识别模块用于识 别所述图像特 征并将所述图像特 征提取出来。 6.根据权利 要求4所述的基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述通过改进的SimOTA锚框分配策 略， 为所述特征图片中的磁块器件表面缺陷分配锚框， 包括： 对所述特 征图片进行 前向传播计算， 生成候选锚框； 计算所有所述 候选锚框的IOU损失； 对所述候选锚框的IOU损失求和， 根据所述 IOU损失的求和结果分配初始锚框； 根据所述磁块器件表面实际缺陷框， 调整所述初始缺陷锚框， 得到目标缺陷锚框 。 7.根据权利 要求6所述的基于改进SimOTA的磁块器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述根据所述磁块器件表面实际缺陷框， 调整所述初始缺陷锚框， 得到目标缺陷锚框， 包 括： 计算所述磁块器件表面实际缺陷框的长 宽比和面积占比； 根据所述长宽比和所述面积占比， 调整所述初始缺陷锚框的范围， 计算调整后的初始 缺陷锚框与所述实际缺陷框的交并比； 根据所述交并比， 为所述实际缺陷框分配目标缺陷锚框 。 8.一种基于改进Sim OTA的磁块器件表面 缺陷检测装置， 其特 征在于， 包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114862822 A 2分析模型建立模块， 用于获取目标特征分析模型， 所述目标特征分析模型包括图像分 割模块和特 征提取模块； 图片获取模块， 用于获取待检测的磁块器件表面图片； 特征提取模块， 用于根据所述图像分割模块将所述待检测的磁块器件表面图片分割成 若干个图像片段， 基于所述特 征提取模块， 从所述图像片段中提取 出特征图片； 锚框分配模块， 用于通过改进 的SimOTA锚框分配策略， 为所述特征图片中的磁块器件 表面缺陷分配锚框 。 9.一种电子设备， 其特 征在于， 包括存 储器和处 理器， 其中， 所述存储器， 用于存 储程序； 所述处理器， 与所述存储器耦合， 用于执行所述存储器 中存储的所述程序， 以实现上述 权利要求1至7中任一项所述基于改进Sim OTA的磁块器件表面 缺陷检测方法中的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 用于存储计算机可读取的程序或指令， 所 述程序或指 令被处理器执行时， 能够实现上述权利要求 1至7中任一项 所述基于改进SimOTA 的磁块器件表面 缺陷检测方法中的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114862822 A 3