(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210608613.8 (22)申请日 2022.05.31 (71)申请人 中国科学院沈阳自动化研究所 地址 110016 辽宁省沈阳市沈河区南塔街 114号 (72)发明人 姜勇　王洪光　冯晗　 (74)专利代理 机构 沈阳科苑专利商标代理有限 公司 210 02 专利代理师 周宇 (51)Int.Cl. G06V 10/25(2022.01) G06V 10/44(2022.01) G06N 20/00(2019.01) (54)发明名称 一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像 的判断方法 (57)摘要 本发明涉及一种变电站环境下绝缘子串局 部过曝图像的判断方法， 其属于目标检测领域。 本发明方法包括： 步骤一， 对神经网络输出的图 像进行预处理操作。 步骤二， 提取图像特征， 提取 绝缘子串左右边缘及中线， 并使用随机采样一致 性算法拟合绝缘子串的理论中线。 步骤三， 计算 特征参数， 基于灰度曲线特征计算绝缘子片数 量， 并计算拟合后的理论中线的偏差值， 并结合 两者计算图像过曝程度。 按照本发 明方法可以识 别这种图像过曝导致的绝缘子串缺失情况， 能够 判断图像过曝程度。 权利要求书2页 说明书5页 附图2页 CN 115063581 A 2022.09.16 CN 115063581 A 1.一种变电站 环境下绝 缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征如下， 包括以下步骤。 步骤1： 对采集的变电站环境下绝缘子串局部过曝原始图像进行预处理操作， 得到包含 绝缘子串轮廓位置的前 景图像； 步骤2： 在前景图像中提取图像特征， 采用随机采样一致性算法拟合绝缘子串的理论中 线； 步骤3： 基于灰度曲线特征计算绝缘子片数量， 并计算拟合后的理论中线的偏差值， 并 结合两者计算图像过曝程度。 2.根据权利要求1所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 图像预 处理为过滤环境因素背 景， 转换成二值图像， 用于区分绝缘子串 前景与背 景 信息。 3.根据权利要求1所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 所述图像特 征为绝缘子串左右边 缘轮廓及中线。 4.根据权利要求3所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 提取绝 缘子串左右边 缘包括： 计算左轮廓： 计算右轮廓： 其中， Ledge是绝缘子串左侧边缘的点的集合{l1,l2,…ln}， Redge是绝缘子串右侧边缘 的点的集合{r1,r2,…rn}， (lik,ljk)为绝缘子串左侧边缘点lk的横、 纵坐标， (rik,rjk)为绝 缘子串右侧边缘点rk的横、 纵坐标， tmin和tmax是在图像中绝缘子串位置的纵坐标的上下界， 绝缘子串图像点 集合C＝{c1,c2,…cN}， 其中绝 缘子串图像点ck的坐标为(cik,cjk)。 5.根据权利要求4所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 所述 绝缘子串中线坐标为： 其中， Medgeold为中线点的集合 为序号为k的中线上 点的x轴坐标与y轴坐标。 (lik,ljk)是绝缘子串左侧边缘轮廓的坐标点， (rik,rjk)是绝缘子 串右侧边 缘轮廓的坐标点。 6.根据权利要求5所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 所述 绝缘子串的理论中线的拟合， 包括： 采随机采样一 致性算法对中线点进行拟合， 得到拟合后的直线：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115063581 A 2y＝ax+b    (4) 得到拟合 修正后的理论中线点mk坐标集合Medgenew如下： 其中， (mik,mjk)为修正后的任意理论中线点mk的横、 纵坐标。 7.根据权利要求1所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 计算 绝缘子片数量， 包括： 对于Medgenew上的点， 有特 征曲线： f(xk，yk)＝0    (6) 其中 计算该曲线的极大值 点的数量m， 即为图像中绝 缘子串的绝 缘子片数。 8.根据权利要求7所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 计算拟合 修正后中线和原 始中线的偏差： 。 9.根据权利要求1所述的一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断方法， 其特 征在于， 计算过曝程度参数， 包括： 根据中线的偏差与是否缺片判断过曝 的程度参数值： 其中， k1和k2是比例系数， σ 是中线偏差， m是检测到 的绝缘子串片数， Nt表示类型t的绝 缘子串的总片数； 结果δ是表示绝缘子串过曝程度的参数， 其值越大， 表示图像的过曝越严 重。 10.一种变电站环境下绝缘子串局部过曝图像的判断系统， 其特征在于， 包括处理部、 存储部， 存储部存储有程序， 处理部加载程序并执行如权利要求 1‑9任意一项 所述的方法步 骤， 实现对图像过曝导 致的绝缘子串缺失情况的识别， 以及判断图像过曝程度。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115063581 A 3