(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211320131.9 (22)申请日 2022.10.26 (71)申请人 南方科技大 学 地址 518055 广东省深圳市南 山区桃源街 道学苑大道1088号 (72)发明人 马晓旻　付鲁堂　王培毅　齐汝西　 吴静　高远瞩　许淑嫚　谭菊英　 李沛尧　郭嘉豪　 (74)专利代理 机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 专利代理师 赖远龙 (51)Int.Cl. G06F 16/33(2019.01) G01N 23/04(2018.01) G01N 23/20008(2018.01)H01J 37/14(2006.01) H01J 37/26(2006.01) (54)发明名称 磁透镜调试方法和装置、 计算机设备、 存储 介质 (57)摘要 本申请涉及一种磁透镜调试方法和装置、 计 算机设备、 存储介质。 方法包括： 获取Digital   Micrograph软件 的调试选项集中被选取的多个 待调试选项； 在多个待调试选项中选择顺序满足 第一预设条件的目标调试选项； 根据目标调试选 项对磁透镜进行调试， 得到目标调试值； 判断目 标调试选项的调试初始值或目标调试值是否满 足第二预设条件； 若否， 返回执行根据目标调试 选项对磁透镜进行调试， 直至得到满足第二预设 条件的目标调试值； 若是， 将目标调试选项置为 已调试状态， 并从待调试选项中剔除， 返回执行 在多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条 件的待调试选项， 直到各待调试选项处于已调试 状态。 采用本方法能够提高磁透镜调试的准确 性。 权利要求书2页 说明书13页 附图3页 CN 115391493 A 2022.11.25 CN 115391493 A 1.一种基于Digital  Micrograph的磁透 镜调试方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取Digital Micrograph软件的调试选项集中被选取的多个待调试选项； 所述调试选 项集中的调试选项具有对应的顺序； 在所述多个待调试选项中选择顺序满足第 一预设条件的待调试选项， 得到目标调试选 项； 根据所述目标调试选项对磁透 镜进行调试， 得到目标调试值； 判断所述目标调试选项对应的调试初始值或所述目标调试值是否满足第 二预设条件； 其中， 所述第二预设条件为所述调试初始值小于等于第一预设值， 或者所述 目标调试值小 于等于所述调试初始值， 或者所述目标调试值小于等于第二预设值； 若否， 返回执行所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行调试， 直至得到满足所述第 二预设条件的目标调试值； 若是， 将所述目标调试选项置为已调试状态， 并从所述多个待调试选项中剔除， 返回执 行所述在所述多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的待调试选项的步骤， 直到各 所述待调试选项处于所述已调试状态。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 在对所述磁透镜进行调试的过程中， 当所述Digital  Micrograph软件的显示界面上显 示用于表征询问调试是否继续的提示对话框时， 调用自动点击脚本在所述提示对话框中的 预设区域进行触发操作； 响应于所述触发操作， 关闭所述提示对话框， 以继续执行所述根据所述目标调试选项 对磁透镜进行调试， 得到目标调试值的步骤。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述目标调试选项对磁透镜进行 调试， 得到目标调试值， 包括： 根据所述目标调试选项对所述磁透镜进行调试， 得到调试结果， 并将所述调试结果写 入到调试文档； 在所述调试文档 中， 当查找到用于表示调试开始 的第一关键词时， 获取指针在所述调 试文档中的指针位置； 在所述调试文档中， 从所述指针位置开始查询得到所述目标调试值。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述从所述指针位置开始查询得到所述目 标调试值， 包括： 根据第二关键词从所述指针位置开始查找用于表示所述目标调试值所在的第一目标 区域； 在所述第一目标区域中提取 得到所述目标调试值。 5.根据权利要求3所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 在所述调试文档中， 根据第 三关键词从所述指针位置开始查找用于表示所述调试初始 值所在的第二目标区域； 在所述第二目标区域中提取 得到所述调试初始值。 6.根据权利要求1至 5任一项所述的方法， 其特 征在于， 所述方法还 包括： 当所述目标调试选项为所述已调试状态时， 在所述Digital  Micrograph软件的显示界 面上显示用于表示所述目标调试选项已调试的第一 提示信息；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115391493 A 2当各所述待调试选项处于所述已调试状态时， 在所述Digital  Micrograph软件的显示 界面上显示用于表示各 所述待调试选项已调试的第二 提示信息。 7.根据权利要求1至 5任一项所述的方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取各所述待调试选项对应的满足所述第二预设条件的目标调试值； 将获取的各 所述目标调试值显示于所述Digital  Micrograph软件的显示界面。 8.一种基于Digital  Micrograph的磁透 镜调试装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 调试选项获取模块， 用于获取Digital  Micrograph软件的调试选项集  中被选取的多 个待调试选项； 所述调试选项集中的调试选项具有对应的顺序； 调试选项选择模块， 用于在所述多个待调试选项中选择顺序满足第 一预设条件的待调 试选项， 得到目标调试选项； 调试模块， 用于根据所述目标调试选项对磁透 镜进行调试， 得到目标调试值； 判断模块， 用于判断所述目标调试选项对应的调试初始值或所述目标调试值是否满足 第二预设条件； 其中， 所述第二预设条件为所述调试初始 值小于等于第一预设值， 或者所述 目标调试值小于等于所述调试初始值， 或者所述目标调试值小于等于第二预设值； 处理模块， 用于在所述目标调试选项对应的调试初始值或所述目标调试值不满足第 二 预设条件， 返回执行所述根据所述 目标调试选项对磁透镜进行调试， 直至得到满足所述第 二预设条件的目标调试值； 所述处理模块还用于在所述目标调试选项对应的调试初始值或 所述目标调试值满足第二预设条件， 将所述 目标调试选项置为已调 试状态， 并从所述多个 待调试选项中剔除， 返回执行所述在所述多个待调试选项中选择顺序满足第一预设条件的 待调试选项的步骤， 直到各 所述待调试选项处于所述已调试状态。 9.一种计算机设备， 包括存储器和处理器， 所述存储器存储有计算机程序， 其特征在 于， 所述处 理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 所述计算机程序 被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115391493 A 3