(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210705298.0 (22)申请日 2022.06.21 (71)申请人 奥蒂玛光学科技 （深圳） 有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区龙城街 道黄阁坑社区黄阁北路449号龙岗天 安数码创新园三 号厂房B901 (72)发明人 陈龙　曹沿松　 (74)专利代理 机构 深圳市威世博知识产权代理 事务所(普通 合伙) 44280 专利代理师 田茂虎 (51)Int.Cl. G06T 5/00(2006.01) G06T 7/00(2017.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/12(2017.01)G06T 7/13(2017.01) G06N 3/08(2006.01) G06N 3/04(2006.01) G06V 10/44(2022.01) G06V 10/82(2022.01) (54)发明名称 缺陷修复方法、 光学修复设备、 电子设备及 存储介质 (57)摘要 本申请公开了一种缺陷修复方法、 光学修复 设备、 电子设备及存储介质。 该缺陷修复方法应 用于光学修复设备， 该方法包括： 获取电路板的 检测图像； 其中， 检测图像包括电路板区域； 提取 电路板区域中至少一种缺陷实例及其对应的缺 陷位置信息和缺陷轮廓信息； 基于缺陷位置信息 和缺陷轮廓信息规划对应于至少一种缺陷实例 的缺陷修复路径， 并基于缺陷修复路径对电路板 进行修复。 通过上述方式， 利用电路板的检测图 像提取出电路板区域中的缺陷位置信息和缺陷 轮廓信息， 然后再通过缺陷位置信息和缺陷轮廓 信息， 规划缺陷实例的修复路径并对电路板进行 修复， 以达到修复缺陷的目的， 从而能够提高电 路板的生产质量和优化电路板的修复流程、 减少 人力资源的消耗。 权利要求书2页 说明书12页 附图3页 CN 114782286 A 2022.07.22 CN 114782286 A 1.一种缺陷修复方法， 应用于光学修复设备， 其特 征在于， 所述方法包括： 获取电路板的检测图像； 其中， 所述检测图像包括电路板区域； 提取所述电路板区域中至少一种缺陷实例及其对应的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息； 基于所述缺陷位置信息和所述缺陷轮廓信息规划对应于所述至少一种缺陷实例的缺 陷修复路径， 并基于所述 缺陷修复路径对所述电路板进行修复。 2.根据权利要求1所述的缺陷修复方法， 其特征在于， 所述提取所述电路板区域中至少 一种缺陷实例及其对应的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息， 包括： 对所述检测图像进行分割定位， 得到若干个分割图像及其对应的分割坐标； 基于所述若干个分割图像和所述分割坐标， 提取所述若干个分割图像在所述电路板区 域中对应的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息； 基于所述 缺陷位置信息和所述 缺陷轮廓信息对应生成所述至少一种缺陷实例。 3.根据权利要求2所述的缺陷修复方法， 其特征在于， 所述对所述检测图像进行分割定 位， 得到若干个分割图像及其对应的分割坐标， 包括： 对所述检测图像进行语义分割， 以得到所述若干个分割图像； 其中， 每一分割图像在所 述检测图像中占用预设个 像素点位置； 基于每一所述分割图像所占用的预设个像素点位置， 提取所述若干个分割图像对应的 分割坐标。 4.根据权利要求2所述的缺陷修复方法， 其特 征在于， 所述基于所述若干个分割图像和所述分割坐标， 提取所述若干个分割图像在所述电路 板区域中对应的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息， 包括： 将所述若干个分割图像和所述分割坐标输入预先训练的神经网络 中进行目标检测， 以 提取出所述缺陷位置信息和所述 缺陷轮廓信息； 其中， 所述神经网络基于若干待训练图像和预设的缺陷模板训练得到 。 5.根据权利要求 4所述的缺陷修复方法， 其特 征在于， 所述将所述若干个分割图像和所述分割坐标输入预先训练的神经网络中进行目标检 测， 以提取 出所述缺陷位置信息和所述 缺陷轮廓信息， 包括： 将所述若干个分割图像输入所述神经网络中进行特征提取， 以获取对应的若干个图像 特征； 利用所述神经网络对所述若干个图像特征进行缺陷识别， 以识别出属于对应缺陷模板 的缺陷特 征； 利用所述神经网络对所述缺陷特征与其分割图像对应的所述分割坐标， 提取出所述缺 陷位置信息和所述 缺陷轮廓信息 。 6.根据权利要求2所述的缺陷修复方法， 其特 征在于， 所述基于所述缺陷位置信 息和所述缺陷轮廓信 息对应生成所述至少一种缺陷实例， 包 括： 将所述缺陷位置信息和所述缺陷轮廓信息标记在所述检测图像中对应缺陷所占用的 像素点位置， 以生成所述至少一种缺陷实例。 7.根据权利要求1所述的缺陷修复方法， 其特征在于， 所述提取所述电路板区域中至少 一种缺陷实例及其对应的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息， 包括：权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114782286 A 2提取所述电路板区域中存在的至少一种缺陷的缺陷位置信息和缺陷轮廓信息； 基于所述至少一种缺陷的缺陷位置信 息和缺陷轮廓信 息， 将所述检测图像中对应的缺 陷区域进行分割定位， 得到若干个分割图像及其对应的分割坐标； 基于所述若干个分割图像和所述分割坐标生成所述至少一种缺陷实例。 8.一种光学修复设备， 其特 征在于， 所述 光学修复设备包括： 图像获取模块， 用于获取电路板的检测图像； 其中， 所述检测图像包括电路板区域； 信息提取模块， 用于提取所述电路板区域中至少一种缺陷实例及其对应的缺陷位置信 息和缺陷轮廓信息； 缺陷修复模块， 基于所述缺陷位置信 息和所述缺陷轮廓信 息规划对应于所述至少一种 缺陷实例的缺陷修复路径， 并基于所述 缺陷修复路径对所述电路板进行修复。 9.一种电子设备， 其特征在于， 所述电子设备包括处理器以及与所述处理器连接的存 储器， 其中， 所述存储器中存储有程序数据， 所述处理器调取所述存储器存储的所述程序数 据， 以执行如权利要求1 ‑7任意一项所述的缺陷修复方法。 10.一种计算机可读存储介质， 内部存储有程序指令， 其特征在于， 所述程序指令被执 行以实现如以执 行如权利要求1 ‑7任意一项所述的缺陷修复方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114782286 A 3