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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210518435.X (22)申请日 2022.05.12 (71)申请人 北京首钢股份有限公司 地址 100040 北京市石景山区石景山路 (72)发明人 杨志权 张广治 赵乃胜 杨艳龙  赵鑫 高建锋  (74)专利代理 机构 北京华沛德权律师事务所 11302 专利代理师 郭士超 (51)Int.Cl. G01N 3/02(2006.01) B25J 11/00(2006.01) B23K 26/362(2014.01) G01N 21/84(2006.01) G01B 21/08(2006.01)G01B 21/02(2006.01) G01N 3/08(2006.01) (54)发明名称 一种拉伸试样的上样系统及上样方法 (57)摘要 本申请的实施例提供了一种拉伸试样的上 样方法, 所述方法包括: 通过中央处理模块控制 抓取机器人抓取目标拉伸试样; 通过中央处理模 块控抓取机器人将目标拉伸试样转移至激光打 标机, 通过中央处理模块控制激光打标机对目标 拉伸试样进行激光打标; 通过中央处理模块控制 所述测量装置对目标拉伸试样进行样号识别, 并 对目标拉伸试样的尺寸进行测量, 记录对应的尺 寸信息; 通过中央处理模块控制抓取机器人将目 标拉伸试样从测量装置转移 至拉伸试验机, 完成 检测上样 。 本申请提供的技术方案在一定程度上 可以在配备少量人员的情况下进行高效上样, 提 高拉伸试验的上样速度。 权利要求书2页 说明书8页 附图4页 CN 115014928 A 2022.09.06 CN 115014928 A 1.一种拉伸试样的上样系统, 其特 征在于, 所述系统包括: 抓取机器人, 所述 抓取机器人用于抓取并转移拉伸试样; 激光打标机, 所述激光打标机用于对所述拉伸试样进行激光打标; 测量装置, 所述测量装置用于测量所述拉伸试样的尺寸; 中央处理模块, 所述中央处理模块分别与所述抓取机器人、 所述激光打标机、 以及所述 测量装置通信连接 。 2.根据权利要求1所述的系统, 其特征在于, 所述抓取机器人包括一个线性轴和两个旋 转单元, 以在一个可编程空间内抓取拉伸试样, 并将所述拉伸试样转移至所述可编程空间 内的任意 位置。 3.一种拉伸试样的上样方法, 其特征在于, 所述方法通过如权利要求2所述的系统实 现, 所述方法包括: 通过所述中央处 理模块控制所述 抓取机器人抓取目标拉伸试样; 通过所述中央处理模块控制所述抓取机器人将所述目标拉伸试样转移至所述激光打 标机, 通过 所述中央处 理模块控制所述激光打标机对所述目标拉伸试样进行激光打标; 通过所述中央处理模块控制所述测量装置对所述目标拉伸试样进行样号识别, 并对所 述目标拉伸试样的尺寸进行测量, 记录对应的尺寸信息; 通过所述中央处理模块控制所述抓取机器人将所述目标拉伸试样从所述测量装置转 移至拉伸试验机, 完成检测上样; 其中, 所述目标拉伸试样为所述拉伸试样中的任意 一个。 4.根据权利要求1所述的方法, 其特 征在于, 激光打标距离大于或等于 5mm。 5.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述通过所述中央处理模块控制所述测量 装置对所述目标拉伸试样进行样号识别, 包括: 控制所述中央处理模块接收的检验委托信 息, 所述检验委托信 息包括各个拉伸试样的 样号以及测试顺序; 通过所述中央处理模块控制所述测量装置进行视觉扫描, 对所述目标拉伸试样的标识 进行识别, 与所述检验 委托信息进行一 致性比对。 6.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述对所述目标拉伸试样的尺寸进行测 量, 记录对应的尺寸信息, 包括: 通过所述中央处理模块控制所述测量装置测量所述目标拉伸试样宽度和厚度, 并将所 述目标拉伸试样对应的宽度数据和厚度数据保存于所述中央处 理模块。 7.根据权利要求6所述的方法, 其特征在于, 所述通过所述中央处理模块控制所述测量 装置测量所述目标拉伸试样宽度和厚度, 包括: 通过所述中央处理模块控制所述测量装置对所述目标拉伸试样的预设位置进行截面 测量, 得到 至少一组横截面数据; 读取各组横截面数据中的宽度 数据, 取宽度 数据的最小值或平均值作为所述目标拉伸 试样的宽度数据; 读取各组横截面数据中的厚度 数据, 取厚度 数据的最小值或平均值作为所述目标拉伸 试样的厚度数据。 8.根据权利要求1所述的方法, 其特 征在于, 所述方法还 包括:权 利 要 求 书 1/2 页 2 CN 115014928 A 2通过所述中央处理模块持续获取所述测量装置的测量 次数, 所述测量 次数用于表征所 述测量装置对所述拉伸试样进行测量的次数; 如果所述测量 次数大于或等于预设测量 次数, 则通过所述中央处理模块控制所述抓取 机器人往所述测量装置插 入标准尺块, 并控制所述测量装置测量所述标准尺块; 如果所述标准尺块的测量尺寸与 标准尺寸之间的公差大于设定公差, 则所述中央处理 模块发出报警提 示。 9.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 在所述测量装置完成对所述目标拉伸试样 的尺寸测量后, 所述方法还 包括: 所述中央处理模块根据所述目标拉伸试样的尺寸数据判断所述目标拉伸试样是否合 格; 如果判断所述目标拉伸试样不合格, 则控制所述抓取机器人将所述目标拉伸试样转移 至异样盘。 10.一种计算机设备, 其特征在于, 所述计算机设备包括一个或多个处理器和一个或多 个存储器, 所述一个或多个存储器中存储有至少一条程序代码, 所述至少一条程序代码由 所述一个或多个处理器加载并执行以实现如权利要求3至9任一项所述的一种拉伸试样的 上样方法所 执行的操作。权 利 要 求 书 2/2 页 3 CN 115014928 A 3

PDF文档 专利 一种拉伸试样的上样系统及上样方法

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