(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211239593.8 (22)申请日 2022.10.11 (71)申请人 南通百仕灵新能源科技有限公司 地址 226000 江苏省南 通市启东市汇龙镇 城北工业园区跃龙东路3号 (72)发明人 徐秋凤　 (74)专利代理 机构 安徽宏铎知识产权代理事务 所(普通合伙) 3425 0 专利代理师 罗慧 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 5/20(2006.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/62(2017.01) G06V 10/26(2022.01)G06V 20/70(2022.01) (54)发明名称 一种电子元器件表面 缺陷检测方法及系统 (57)摘要 本发明涉及数据处理技术领域， 具体涉及一 种电子元器件表面缺陷检测方法及系统。 该方法 是一种应用电子设备进行识别的方法， 利用生产 领域人工智能系统完成电子元器件表面的缺陷 检测。 该方法首先利用相机获取电子元器件表面 图像， 对电子元器件表面图像进行数据处理得到 初始翘边区间； 进一步的， 对初始翘边区间进行 数据处理得到起翘区域， 根据起翘区域的面积占 比， 得到电子元器件的起翘程度。 本发明充分结 合电容套管的形状， 先识别圆率判断是否有起翘 的可能性， 大大降低了无效分析的概率， 减少了 冗余计算 量。 权利要求书2页 说明书7页 附图1页 CN 115311275 A 2022.11.08 CN 115311275 A 1.一种电子元器件表面 缺陷检测方法， 其特 征在于， 该 方法包括以下步骤： 采集电子元器件表面图像， 对所述电子元器件表面图像进行预处理得到目标分析图 像； 提取所述目标分析图像中圆环边缘上各像素点到圆心的距离， 根据圆环边缘上各像素 点到圆心的距离计算圆环边缘的圆率， 根据所述圆率对圆环边缘进行初次筛选； 获取所述 目标分析图像中圆环边缘上各像素点的曲率， 根据圆环上相邻像素点的曲率的差异程度， 计算圆环的整体曲率差异程度； 根据所述整体曲率差异程度筛选出异常边缘点， 由所述异 常边缘点构成初始翘边区间； 做每个初始翘边 区间的边缘轮廓上的边缘点到圆心的连线， 选取每条连线上梯度值最 大的像素点； 根据每条连线上梯度值最大 的像素点的密集程度， 对梯度值最大 的像素点进 行连线， 得到起翘区域； 根据所述 起翘区域的面积占比， 得到电子元器件的起翘程度。 2.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述对所述 电子元器件表面图像进行 预处理得到目标分析图像， 包括： 对所述电子元器件表面图像进行语义分割， 得到电容底部 图像； 对所述电容底部 图像 进行高斯滤波， 得到滤波图像； 灰度化所述滤波图像， 得到目标分析图像。 3.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述根据圆 环边缘上各像素点到圆心的距离计算圆环边 缘的圆率， 包括： 所述圆率的计算公式为： 其中， 为第 个圆环边缘的圆率； 为第 个圆环边缘上边缘点的数量； 为第 个 圆环边缘上第1个边缘点到圆心的距离； 为第 个圆环边缘上第i个边缘点到圆心的距 离。 4.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述根据圆 环上相邻像素点的曲率的差异程度， 计算圆环的整体曲率差异程度， 包括： 所述整体曲率差异程度的计算公式为： 其中， 为第j+1个边缘点的整体曲率差异程度； 为第j个边缘点的曲率； 为第 j+1个边缘点的曲率； 为初始点M的曲率； 为计算差异程度的边 缘点的数量。 5.根据权利要求1所述的一种电子元器件表面缺陷检测方法， 其特征在于， 所述根据每 条连线上梯度值最大 的像素点的密集程度， 对梯度值最大 的像素点进行连线， 得到起翘区 域， 包括： 从第一个梯度值最大的像素点开始， 当八邻域内存在其他连线上梯度值最大的像素 点， 将两点连线， 顺时针继续搜索下一个梯度值最大 的像素点的邻域内的梯度值最大 的像权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115311275 A 2素点并进行连线； 当八邻域内不存在其他连线上梯度值最大 的像素点， 则判断是否存在梯 度值第二大的像素点， 如果存在梯度值第二大的像素点， 则与梯度值第二大的像素点连线； 连线与初始翘边区间的边 缘线之间的区域， 为 起翘区域。 6.一种电子元器件表面缺陷检测系统， 包括存储器、 处理器以及存储在所述存储器中 并可在所述处理器上运行 的计算机程序， 其特征在于， 所述处理器执行所述计算机程序时 实现如权利要求1~5任意一项所述方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115311275 A 3