(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211244739.8 (22)申请日 2022.10.12 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115330761 A (43)申请公布日 2022.11.11 (73)专利权人 深圳市深创高科电子有限公司 地址 518000 广东省深圳市宝安区西乡街 道固戍社区下围园经发智造园A栋A区 601 (72)发明人 程伟　杨丽丹　杨顺作　杨丽香　 杨金燕　杨丽霞　 (74)专利代理 机构 北京真致博文知识产权代理 事务所(普通 合伙) 11720 专利代理师 娄华(51)Int.Cl. G06F 17/00(2019.01) G06T 7/00(2017.01) G06V 10/25(2022.01) G06V 10/26(2022.01) G06V 10/75(2022.01) 审查员 王俊杰 (54)发明名称 一种用于电子产品的表面印刷移位缺陷识 别方法 (57)摘要 本发明涉及图像数据处理技术领域， 具体涉 及一种用于电子产品的表面印刷移位缺陷识别 方法， 该方法包括： 获取待检测电子产品的表面 印刷图像； 对表面印刷图像进行超像素块分割处 理； 从超像素块集合中筛选出印刷像素块集合； 对印刷像素块集合中的每个印刷像素块进行移 位缺陷识别处理， 确定印刷像素块对应的移位缺 陷显著度； 生成印刷像素块对应的像素块信息； 生成待检测电子产品表面印刷的移位缺陷信息。 本发明通过对表面印刷图像进行图像处理， 解决 了对电子产品的表面印刷进行移位缺陷识别的 准确度低下的技术问题， 提高了对电子产品的表 面印刷进行移位缺陷识别的准确度， 主要应用于 对电子产品的表面印刷进行移位 缺陷识别。 权利要求书3页 说明书15页 附图4页 CN 115330761 B 2022.12.23 CN 115330761 B 1.一种用于电子产品的表面印刷移位 缺陷识别方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 获取待检测电子产品的表面印刷图像； 对所述表面印刷图像进行超像素块分割处 理， 得到超像素块 集合； 根据预先获取的标准图像， 从所述超像素块 集合中筛选出印刷像素块 集合； 对所述印刷像素块集合中的每个印刷像素块进行移位缺陷识别处理， 确定所述 印刷像 素块对应的移位 缺陷显著度； 根据预先设置的缺陷阈值和所述印刷像素块集合中的每个印刷像素块对应的移位缺 陷显著度， 生成所述印刷像素块对应的像素块信息； 根据所述 印刷像素块集合中的各个印刷像素块对应的像素块信 息， 生成待检测电子产 品表面印刷的移位 缺陷信息； 所述对所述印刷像素块集合中的每个印刷像素块进行移位缺陷识别处理， 确定所述 印 刷像素块对应的移位 缺陷显著度， 包括： 对所述印刷像素块进行规整识别处 理， 得到所述印刷像素块对应的规整外形显著度； 对所述印刷像素块进行印刷喷溅散落识别处理， 得到所述 印刷像素块对应的喷溅散落 显著度； 对所述印刷像素块进行印刷偏移 识别处理， 得到所述印刷像素块对应的偏移显著度； 根据所述印刷像素块对应的规整外形显著度、 喷溅散落显著度和偏移显著度， 确定所 述印刷像素块对应的移位 缺陷显著度； 所述对所述印刷像素块进行规整识别处理， 得到所述印刷像素块对应的规整外形显著 度， 包括： 确定所述 印刷像素块对应的最小外接矩形的四个顶点， 得到所述 印刷像素块对应的顶 点集合； 根据所述 印刷像素块对应的顶点集合中的每个顶点的位置， 从所述印刷像素块的边缘 中筛选出所述顶点对应的目标曲线， 得到所述印刷像素块对应的目标曲线集 合； 根据所述印刷像素块对应的目标曲线集合， 将所述印刷像素块对应的边缘， 划分为4个 第一子边 缘线， 得到所述印刷像素块对应的第一子边 缘线集合； 对所述印刷像素块对应的第 一子边缘线集合中的每个第 一子边缘线进行直线拟合， 确 定所述第一子边 缘线对应的拟合 直线、 第一拟合优度和第一 倾斜角； 根据所述印刷像素块对应的第一子边缘线集合中的每个第一子边缘线和所述第一子 边缘线对应的拟合 直线， 确定所述第一子边 缘线对应的离群点数量； 将所述印刷像素块对应的第一子边缘线集合中的每个第一子边缘线均分为预先设置 的目标数目个第二子边 缘线， 得到所述第一子边 缘线对应的第二子边 缘线集合； 对于所述印刷像素块对应的第一子边缘线集合中的每个第一子边缘线对应的第二子 边缘线集合中的每个第二子边缘线， 对所述第二子边缘线进行直线拟合， 确定所述第二子 边缘线对应的第二 倾斜角， 得到所述第一子边 缘线对应的第二 倾斜角集合； 根据所述印刷像素块对应第一子边缘线集合中的各个第一子边缘线对应的第一拟合 优度、 第一倾斜角、 离群点数量和第二倾斜角集合， 确定所述印刷像素块对应的规整外形显 著度； 所述对所述印刷像素块进行印刷喷溅散落识别处理， 得到所述 印刷像素块对应的喷溅权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115330761 B 2散落显著度， 包括： 根据所述印刷像素块对应的最小外 接矩形， 构建所述印刷像素块对应的目标矩形； 从所述印刷像素块对应的目标矩形中筛选出喷溅散落像素块， 得到所述 印刷像素块对 应的喷溅散落像素块 集合； 对所述印刷像素块对应的喷溅散落像素块集合中的各个像素点进行聚类， 得到所述 印 刷像素块对应的类别数量； 根据所述印刷像素块对应的喷溅散落像素块集合中的喷溅散落像素块的数量和所述 印刷像素块对应的类别数量， 确定所述印刷像素块对应的喷溅散落显著度； 所述对所述印刷像素块进行印刷偏移识别处理， 得到所述 印刷像素块对应的偏移显著 度， 包括： 对所述印刷像素块中的像素点进行主成分分析， 得到所述 印刷像素块对应的主成分方 向； 将所述印刷像素块对应的主成分方向与 水平方向的夹角， 确定为所述 印刷像素块对应 的主成分倾 斜角； 将与所述印刷像素块对应的主成分方向垂直的方向， 确定为所述 印刷像素块对应的宽 度方向； 根据所述印刷像素块对应的宽度方向， 确定所述印刷像素块对应的目标宽度； 根据所述标准图像， 确定所述印刷像素块对应的目标印刷模板区域； 确定所述印刷像素块对应的目标印刷模板区域对应的主成分倾 斜角和目标宽度； 根据所述 印刷像素块和所述 印刷像素块对应的目标印刷模板区域， 确定所述 印刷像素 块对应的目标差值； 根据所述印刷像素块对应的目标差值、 主成分倾斜角和目标宽度， 所述印刷像素块对 应的目标印刷模板区域对应的主成分倾斜角和目标宽度， 确定所述印刷像素块对应的偏移 显著度。 2.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的表面印刷移位缺陷识别方法， 其特征在 于， 所述根据预先获取的标准图像， 从所述超像素块 集合中筛选出印刷像素块 集合， 包括： 获取多个样本电子产品的样本表面印刷图像， 得到样本表面印刷图像集 合； 对于样本表面印刷图像集合中的每个样本表面印刷图像， 对所述样本表面印刷图像进 行印刷模板划分处 理， 得到所述样本表面印刷图像对应的印刷模板区域 集合； 根据所述样本表面印刷图像集合中的样本表面印刷图像对应的印刷模板区域集合中 的印刷模板区域的位置， 对样本表面印刷图像进行合并， 得到所述标准图像， 其中， 所述标 准图像包括： 目标印刷模板区域 集合； 根据所述标准图像包括的目标印刷模板区域集合中的目标印刷模板区域中的各个像 素点对应的像素值， 从所述超像素块 集合中筛选出印刷像素块 集合。 3.根据权利要求1所述的一种用于电子产品的表面印刷移位缺陷识别方法， 其特征在 于， 所述根据所述印刷像素块对应的顶点集合中的每个顶点的位置， 从所述印刷像素块的 边缘中筛选出所述顶点对应的目标曲线， 包括： 从所述印刷像素块的边缘中筛选出与所述顶点最近的预先设置的预设数目个相邻的 像素点， 得到所述顶点对应的像素点 集合；权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115330761 B 3