(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211243781.8 (22)申请日 2022.10.12 (71)申请人 南通迪博西电子有限公司 地址 226000 江苏省南 通市启东市汇龙镇 和平北路青年路南侧 (72)发明人 郑传凤　 (74)专利代理 机构 广州海藻专利代理事务所 (普通合伙) 44386 专利代理师 郑凤姣 (51)Int.Cl. G06T 7/00(2017.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/12(2017.01) G06T 7/13(2017.01) G06T 7/73(2017.01)G06T 5/00(2006.01) (54)发明名称 一种晶片圆心校正方法 (57)摘要 本发明涉及一种晶片圆心校正方法， 属于图 像数据识别技术领域， 该方法步骤包括： 获取待 测晶片图像中多段圆弧边缘； 根据每段圆弧边缘 中每个边缘像素点的邻域链码， 选取出部分误差 像素点； 利用每个部分误差像素点所在圆弧边缘 的误差程度、 所在圆弧边缘的前进角度值以及每 个部分误差像素点出现误差位置概率， 计算出每 个部分误差像素点的误差程度， 选取出误差程度 小于误差程度阈值的部分误差像素点组成目标 像素点集合， 对目标像素点集合进行霍夫圆检测 得到晶片圆心； 本发明筛选出低误差程度的像素 点进行霍夫圆检测， 在减少冗余计算的同时提高 了霍夫圆检测的准确性， 并能准确的获取晶片圆 心位置。 权利要求书2页 说明书7页 附图3页 CN 115311281 A 2022.11.08 CN 115311281 A 1.一种晶片圆心校正方法， 其特 征在于， 该 方法包括： 获取待测晶片图像中多段圆弧边 缘； 获取每段圆弧边缘中每个边缘像素点的邻域链码， 将邻域链码中没有出现预设误差位 置的边缘像素点作为正常像素点， 将邻域链码中出现预设误差位置的边缘像素点作为非正 常像素点； 根据每个非正常像素点与其邻域像素点的位置关系， 将 非正常像素点分为完全误差像 素点和部分误差像素点； 根据每个部分误差像素点邻域链码的码源总个数和邻域链码中出现预设误差位置的 码源个数， 计算出每 个部分误差像素点出现误差位置概 率； 利用每段圆弧边缘中包含的正常像素点个数和部分误差像素点个数， 计算出每段圆弧 边缘的误差程度； 建立极坐标系， 将每段圆弧边缘的起始点和终止点在极坐标系中的极角差值， 作为每 段圆弧边 缘的前进角度值； 利用每个部分误差像素点所在圆弧边缘的误差程度、 所在圆弧边缘的前进角度值以及 每个部分误差像素点出现误差位置概 率， 计算出每 个部分误差像素点的误差程度； 根据所有部分误差像素点出现误差位置概率计算出误差程度阈值， 选取出误差程度小 于误差程度阈值的部分误差像素点与正常像素点共同组成每段圆弧边缘的目标像素点集 合； 利用待测晶片图像中每段圆弧边缘的目标像素点集合， 对该待测晶片图像进行霍夫圆 检测获取晶片圆心位置 。 2.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特征在于， 所述根据每个非正常像 素点与其邻域像素点的位置 关系， 将非正常像素点分为完全误差像素点和部分误差像素点 的步骤包括： 获取每个非正常像素点的邻域链码； 将邻域链码中仅存在预设误差位置的非正常像素点， 作为完全误差像素点； 将邻域链码中 既存在预设误差位置也存在预设正常位置的像素点， 作为部分误差像素 点。 3.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特征在于， 所述计算出每个部分误 差像素点出现误差位置概 率的步骤 包括： 将每个部分误差像素点邻域链码中出现预设误差位置的码源个数， 与 该部分误差像素 点邻域链码的码源总个数第一比值， 作为每 个部分误差像素点出现误差位置概 率。 4.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特征在于， 所述计算出每段圆弧边 缘的误差程度的步骤 包括： 将每段圆弧边缘中包含的部分误差像素点个数与正常像素点个数的第 二比值， 作为每 段圆弧边 缘的误差程度。 5.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特征在于， 所述每段圆弧边缘的前 进角度值的计算 步骤包括： 以每段圆弧边 缘的圆心为极点、 以水平向右的射线为极径建立极坐标系； 将每段圆弧边 缘的起始点在极坐标系中的角坐标作为 起始角坐标；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115311281 A 2将每段圆弧边 缘的终止点在极坐标系中的角坐标作为终止角坐标； 将每段圆弧边缘对应的起始角坐标与终止角坐标差值的绝对值， 作为每段圆弧边缘的 前进角度。 6.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特征在于， 所述计算出每个部分误 差像素点的误差程度的步骤 包括： 计算出每个部分误差像素点所在圆弧边缘的误差程度， 与该部分误差像素点出现误差 位置概率的第三比值； 计算出每个部分误差像素点所在圆弧边缘的前进角度值与第 三比值的乘积， 并将该乘 积作为该部分误差像素点的误差程度。 7.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特征在于， 所述根据 所有部分误差 像素点出现误差位置概 率计算出误差程度阈值的步骤 包括： 将所有部分误差像素点出现误差位置概 率的均值作为 误差程度阈值。 8.根据权利要求1所述的一种晶片圆心校正方法， 其特 征在于， 所述预设误差位置为： 以每段圆弧边缘中每个边缘像素点为中心点， 将中心点的上方、 下方、 左方以及右方的 邻接位置， 均 作为预设误差位置 。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115311281 A 3