ICS 77.120.10 YS H 30 中华人民共和国有色金属行业标准 YS/T 581.162008 氟化铝化学分析方法和物理性能 测定方法第16部分：X射线荧光 光谱分析法测定元素含量 Chemical analysis methods and determination of physical performance of industrial aluminium fluoride -Part 16:X-ray fluorescence spectrometric method forthedeterminationofelementscontent 2008-03-12发布 2008-09-01实施 国家发展和改革委员会 发布 YS/T581.16—2008 前言 YS/T581《氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法》共分为16部分： 第1部分：重量法测定湿存水含量； 第2部分：烧减量的测定； 第3部分：蒸馏-硝酸针容量法测定氟含量； 第4部分：EDTA容量法测定铝含量； 第5部分：火焰原子吸收光谱法测定钠含量； 第6部分：钼蓝分光光度法测定二氧化硅含量； 第7部分：邻二氮杂菲分光光度法测定三氧化二铁含量； 第8部分：硫酸钡重量法测定硫酸根含量； 第9部分：钼蓝分光光度法测定五氧化二磷含量； 第10部分：X射线荧光光谱分析法测定硫含量； 第11部分：试样的制备和贮存； 第12部分：粒度分布的测定-筛分法； 第13部分：安息角的测定； 第14部分：松装密度的测定； -第15部分：游离氧化铝含量的测定； 第16部分：X射线荧光光谱分析法测定元素含量。 本部分为第16部分。 本部分附录A为资料性附录。 本部分由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。 本部分由中国铝业股份有限公司郑州研究院、中国有色金属工业标准计量质量研究所负责起草。 本部分由多氟多化工有限公司、内蒙古霍煤鸿骏铝电有限责任公司、福建省南平铝业有限公司参加 起草。 本部分主要起草人：张爱芬、张树朝、马慧侠、席欢、薛旭金、李志辉、施继琴。 I YS/T581.16—2008 氟化铝化学分析方法和物理性能 测定方法第16部分：X射线荧光 光谱分析法测定元素含量 1范围 本部分规定了氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷含量（以F、Al、Na、SiOz、Fe2O3、SO、P2Os表示） 的测定方法。 本部分适用于氟化铝中氟、铝、钠、硅、铁、硫、磷含量的测定。测定范围见表1。 表 1 组分 测量范围/% 组分 测量范围/% F 50.00~68.00 Fe; O; 0.010~0.50 Al 25.00~36.00 SO- 0.10~2.00 Na 0.020~10.00 P,Os 0.002 0~0.30 SiO2 0.010~0.60 2方法原理 试料用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂熔融，加少量溴化锂（或碘化铵）作脱模剂。在熔样机中 熔融，制成玻璃样片。用X射线荧光光谱仪进行测量。用理论α系数或基本参数法校正元素间的吸收一 增强效应。 3试剂 3.1无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[LizB,O,（67%）十LiBO2（33%)］：在700℃下灼烧2h，置于干 燥器中保存。 3.2脱膜剂：溴化锂饱和溶液或碘化铵溶液（300g/L）。 3.3监控样品：监控样品应是稳定的玻璃片，含有所有校准元素，其含量应使其计数率的统计误差小于 或等于校准元素的计数率统计误差。 4仪器 4.1铂-金合金埚（(95%Pt十5%Au)。 4.2铂-金合金铸模（95%Pt十5%Au）：铸模材料底厚度约1mm，使其不易变形 注：熔样器血铸型模可合二为一。若试样在埚中熔融后直接成型，则要求底面内壁平整光滑。 4.3熔样机：自动火焰熔样机或高频电感熔样机，若用其他类型熔样机，温度不低于1100℃，且可控制 温度，控温精度士15℃。 4.4波长色散X射线荧光光谱仪：端窗佬靶X射线管。 5试样 试样应符合YS/T581.11中3.3的要求。 YS/T581.162008 6测定步骤 6.1测定次数 对同一试样应独立进行三次测定，取其平均值。 6.2试料 按照试样和熔剂的质量比为1.5：10准确称量试样和熔剂。 6.3校正试验 随同试样分析同类型的标准样品。 6.4试样片的制备 6.4.1混合：称取无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合熔剂[Li2B,O（67%）十LiBO2（33%)(3.1)于瓷埚 中，转入铂-金（4.1)中一部分，称取试样于垢璃中，与熔剂混合均匀，把剩余的熔剂转入垢璃中并覆 盖在上层，加人1滴脱膜剂。 6.4.2熔融：将混合试样（6..4.1)放入熔样机（4.3)上，于1000℃下熔融10min，熔融过程要转动 璃，使粘在璃壁上的小熔珠和样品进入熔融体中。每隔一定时间，熔样机（4.3）自动摇动璃，将气泡 赶尽，并使熔融物混匀。 800℃以上的铸模中。将铸模移离火焰，冷却。已成型的玻璃圆片与铸模剥离。试样在埚中熔融后直 接成型的应在冷却前摇动埚，赶出气泡。 6.4.4样片的保存：取出样片，在非测量面贴上标签，放于干燥器内保存，防止吸潮和污染。测量时，只 能拿样片的边缘，以避免X射线测量面的沾污。 6.5校正 6.5.1背景校正：对于常量元素可选择测量一个或两个背景。 6.5.2仪器漂移校正：通过测量监控样品校正仪器漂移。 6.5.3校准曲线的绘制 6.5.3.1标准样片的制备：选择氟化铝标准样品作为校准样品绘制校准曲线，每个元素都应有一个具 有足够的含量范围文有一定梯度的标准系列。如上述标样不能满足时，应加配适当人工混合标准补充 之。制备过程按6.4条进行。 6.5.3.2校正与校准：谱线重叠校正采用强度校正。铁对氟、硫干扰，磷、硫对钠干扰，钙对硅、磷干扰 应引起注意。元素间的吸收-增强效应用理论α系数或基本参数法校正。 6.6光谱测量 6.6.1将X射线荧光光谱仪(4.4)预热使其稳定。根据X射线管型号调节管电压和管电流。根据X 射线荧光光谱仪的型号选定工作参数（见附录A）。 6.6.2测量监控样品：设置监控样品名，测量监控样品中分析元素的X射线强度。监控样品中分析元 素的参考强度必须与标准样品在同一次开机中测量，以保证漂移校正的有效性。 6.6.3测量标准样品：输入标准样品名，测量标准样品中分析元素的X射线强度， 6.6.4测量未知样品：启动定量分析程序，测量监控样品，进行仪器漂移校正。测量与未知样品同批制 备标准样品。标准样品中各元素的分析结果要满足表2规定的重复性要求。输人未知样品名，测量未 知样品。 7分析结果的计算 测量标准样品的X射线强度，得到强度与含量的二次方程或一次方程。次方程式可通过最小二乘 法计算。求出校准曲线常数a、b、c和谱线重叠校正系数β证，并保存在计算机的定量分析软件中。根据 未知样品的X射线测量强度，由计算机软件按照公式(1)计算含量并自动打印出测量结果。 2 YS/T581.16—2008 w; = al?+bl:+c .....(1) 式中： 试样中元素讠的含量； w;- I一元素i的X射线强度； a、b、c 校正曲线常数。 精密度 8.1 重复性 在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值，在以下给出的平均值范围内，这两个测试结果 的绝对差值不超过重复性限(r)，超过重复性限(r)的情况不超过5%。重复性限(r)按以下数据采用线 性内插法求得： 表 2 组分 含量/% 重复性限(r)/% 组分 含量/% 重复性限(r)/% 56.54 0. 62 0. 014 00:0 F 61.46 0. 65 Fe; O; 0. 084 0. 011 64. 55 0. 68 0. 16 0. 03 30. 79 0. 18 0. 19 0. 02 AI 31. 99 0. 20 -.os 0. 60 0. 04 33. 88 0. 27 1. 67 0.12 0. 065 0. 003 0. 002 0 0. 002 8 Na 0.102 0. 019 P,O; 0. 027 0. 003 1. 74 0.12 0.123 0. 006 0. 009 0 0.002 8 SiO2 0. 020 0. 004 0. 24 0. 02 8.2 允许差 实验室间分析结果的差值不大于下表3所列允许差。 表 3 组分 含量范围/% 允许差/% 组分 含量范围/% 允许差/% F 50.00~68.00 0. 70 ≤0. 030 0. 007 IV 25.00~36.00 0. 30 Fe, O; >0.030~0.100 0. 015 ≤0.20 0. 02 >0.10~0.50 0. 03 >0.20~2.00 0. 06 ≤0. 50 0. 05 Na >2. 00~4. 00 0. 30 >0.50~1.00 0. 10 >4.00~10.00 0. 40 >1.00~2.00 0. 15 ≤0.20 600 ≤0.010 0. 002 SiO2 >0.20~0.40 0. 04 P,O, >0.010~0.100 0. 005 >0.40~0.60 0, 05 >0.10~0.30 0. 02 3 YS/T581.16—2008 质量保证与控制 9 应用标准样品或监控样品，使用时至少每半年校核一次本方法标准的有效性。当过程失控时，应找 出原因，纠正错误后，重新进行校核。 4 YS/T581.16—2008 附录A （资料性附录） 测量条 件 根据设备，在真空条件下，各元素测量条件见表A.1。 表 A.1 分析线 准直器 探测器 晶体 28角/(°) PX1或 44 或 FKa 粗 Fl